专利名称：一种分析不规则生铁的方法
技术领域：
本发明涉及一种粉末压片-x射线荧光光谱法分析不规则生铁中的元素的方法。
背景技术：
对于规则形状的生铁样品，可以通过抛光等表面处理，得到光洁面，进而采用X射 线荧光光谱方法进行分析；对于不规则形状的生铁样品，由于无法通过抛光得到光洁面，所 以只能钻取铁屑，然后采用传统的化学分析方法进行测定，但是在化学分析时试样的前期 处理繁琐，分析周期长，不能满足快速、准确发出检验结果的要求，且投入费用高；
目前分析不规则生铁的方法中的硅、锰、磷、硫的方法采用如下国家标准
1 、 GB/T 223. 60钢铁及合金化学分析方法高氯酸脱水重量法测定硅含量
2、 GB/T 223. 58钢铁及合金化学分析方法亚砷酸钠一亚硝酸钠滴定法测定锰量
3、 GB/T 223. 3钢铁及合金化学分析方法二安替吡啉甲烷磷铝酸重量法测定磷量
4、GB/T 223. 68钢铁及合金化学分析方法管式炉内燃烧后碘酸钾滴定法测定硫含 总之，对于不规则生铁中的硅、锰、磷、硫的分析，采用化学方法分析周期长，化学 药剂投入费用多。
发明内容
本发明的目的是提供一种分析不规则生铁的方法，该方法通过将不规则生铁铁屑 添加粘结剂制备成符合荧光分析的粉末样片，然后通过x射线荧光光谱法测定其中的硅、 锰、磷、硫元素，该方法能够快速、准确地得到检验数据。
为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现 —种分析不规则生铁的方法，该方法将不规则生铁铁屑，添加粘结剂研磨制备成 表面光滑、均匀、符合荧光分析要求的粉末样片，然后通过荧光光谱法测定其中的元素含 量；具体包括如下步骤 1)将不规则生铁制成铁屑，然后研磨成80目以上的铁粉； 2)研磨成80目以上的铁粉，加入粘结剂继续研磨，研磨时间3-5分钟，粒度150目 以上； 3)粉末压片；压力35-45吨，静压时间35_60分钟，制成表面光滑、均匀的样片； 4)荧光分析；在荧光测试条件下，建立各元素分析曲线，进行各元素分析。 所述的粘结剂的加入量为每20克铁粉加入粘结剂(1-3)克. 所述的粘结剂为硼酸。 与现有技术相比，本发明的有益效果是 本方法将不规则生铁铁屑通过添加粘结剂进行二次制备，加压成型后制得表面光 滑、均匀，符合荧光分析要求的粉末样片，进而应用X射线荧光光谱法测定其中的Si、Mn、P、 S等元素。该方法投入使用后能够快速、准确的发出检验数据。此项目的开发能够充分利用大型荧光分析仪器，节约化学药品的使用，降低检测成本，能够更好的满足不规则生铁快速 分析要求，同时该发明对利用X射线荧光光谱方法分析一些粘结性差的粉末样品也提供了 一种有效途径。 1、经济效益月节约化学药品费用6000元，全年近10万元；如果将此方法应用于
现在的生铁化验室检测其全部生铁样品，直接效益将是巨大的； 2、时间效益分析周期由100分钟縮短为10分钟，解决人员不足问题。
具体实施例方式
—种分析不规则生铁中硅、锰、磷、硫元素的方法，该方法将不规则生铁铁屑，添加 粘结剂研磨制备成表面光滑、均匀、符合荧光分析要求的粉末样片，然后通过荧光光谱法测 定其中的元素含量；具体包括如下步骤 1)将不规则生铁制成铁屑，然后研磨成80-100目的铁粉； 2)将80-100目的铁粉，添加硼酸作为粘结剂，继续研磨，研磨时间3-5分钟，粒度
150目以上；粘结剂的加入量为每20克铁粉加入粘结剂(1-3)克； 3)粉末压片；选择铝盒为模具，用适量硼酸垫底，压力35-45吨，静压时间35_60 分钟，制成表面光滑、均匀的样片； 4)荧光分析；在电压40KV、电流70mA的荧光测试条件下，建立各元素分析曲线，进 行各元素分析。
权利要求
一种分析不规则生铁的方法，其特征在于，该方法将不规则生铁铁屑，添加粘结剂研磨制备成表面光滑、均匀、符合荧光分析要求的粉末样片，然后通过荧光光谱法测定其中的元素含量；具体包括如下步骤1)将不规则生铁制成铁屑，然后研磨成80目以上的铁粉；2)研磨成80目以上的铁粉，加入粘结剂继续研磨，研磨时间3-5分钟，粒度150目以上；3)粉末压片；压力35-45吨，静压时间35-60分钟，制成表面光滑、均匀的样片；4)荧光分析；在荧光测试条件下，建立各元素分析曲线，进行各元素分析。
2. 根据权利要求1所述的一种分析不规则生铁的方法，其特征在于，所述的粘结剂的 加入量为每20克铁粉加入粘结剂(1-3)克.
3. 根据权利要求1所述的一种分析不规则生铁的方法，其特征在于，所述的粘结剂为 硼酸。
全文摘要
本发明涉及一种粉末压片-x射线荧光光谱法分析不规则生铁中的元素的方法。该方法将不规则生铁铁屑，添加粘结剂研磨制备成表面光滑、均匀、符合荧光分析要求的粉末样片，然后通过荧光光谱法测定其中的元素含量；所述的粘结剂的加入量为每20克铁粉加入粘结剂(1-3)克；所述的粘结剂为硼酸。与现有技术相比，本发明的有益效果是将不规则生铁铁屑通过添加粘结剂进行二次制备，加压成型后制得表面光滑、均匀，符合荧光分析要求的粉末样片，进而应用X射线荧光光谱法测定其中的Si、Mn、P、S等元素。该方法投入使用后能够快速、准确的发出检验数据。
文档编号G01N23/22GK101750431SQ20081022971
公开日2010年6月23日 申请日期2008年12月15日 优先权日2008年12月15日
发明者林之春, 赵英, 陈良 申请人:鞍钢股份有限公司