专利名称：测试辅助托座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种治具，尤其涉及一种在测试过程中辅助固定延长线以 进行测试的托座。
背景技术：
在高加速应力寿命测试(即High Accelerated Life Test, HALT)中需要 抓取待测样品的破坏极限，由于HDD的温度及振动极限相对较差，需要将HDD 外移到恒温恒湿箱外，才能确定待测样品的破坏极限，而目前很多产品的HDD 大都是直接插接，不需排线转接，因此，由于插槽较深较小，用手很难将延长 线接入该插槽上，且无法确认是否固定，导致测试结果有误。
发明内容
鉴于上述问题，本实用新型提供了一种在测试过程中辅助固定延长线以进 行测试的托座。
为了达到上述目的，本实用新型采用了如下的技术方案 一种测试辅助托 座，其中，该测试辅助托座主要包括一本体，该本体一侧面挖设有一用以固定 一延长线一接口的固定槽。
较佳的，本实用新型提供了一种测试辅助托座，其中，所述固定槽为一T型 槽，所述T型槽两相对内侧面分别设置有一供一面板滑行的导轨，且该T型槽一 端设有一用以搁置该延长线一接口的凸座。
相较于先前技术，本实用新型所述之测试辅助托座，在HALT测试中通过辅 助一延长线固定于该测试辅助托座上，以便于将该延长线一端的接口与待测机 台的主板接口相互接设，保证了测试结果。
图l为本实用新型之本体示意图 图2为本实用新型之示意图
具体实施方式
请参照图1及图2所示。本实用新型所述之测试辅助治具10主要适用于高加 速应力寿命测试(即High Accelerated Life Test, HALT)中，用以辅助一延 长线20—端的接口固定插接于一待测机台(图中未示)主板的接口上，该延长线20的另一端接口202与一硬盘(图中未示)接设，从而利用该延长线20将该硬
盘外移至一恒温恒湿箱外。
其中，所述延长线20两末端接口分别为接口2()1及接口 202。
又，所述测试辅助治具IO主要包括一本体IOI，于本实施例中，该本体IOI 利用电木制成，其外形大小与硬盘相似，以便于代替硬盘恰好插入待测机台中 放置硬盘的空间内。
再者，该本体101—侧面挖设有一固定槽，该固定槽为一T型槽102，且该T 型槽102横截面较大处还凸设出一凸座1021，以将一延长线20的一端接口201搁 置于该凸座1021上，且该接U201外露于该测试辅助治具10的本体101—端，并 且与待测机台的主板接口相互接设。如此，由于T型槽102的容纳作用，延长线 20限制于该T型槽102内，此外，该T型槽102两相对的内侧面分别开设有-导轨 1011，将一面板103的两相对侧分别沿导轨1021滑行，直至面板103将延长线20 覆盖于搁置槽102上，从而进一步将该延长线20固定于该本体101上。
需要测试时，将该延长线20放置于T型槽102上，且将该延长线20其中一接 口201固定在T型槽102的凸座1021上，然后令面板103沿T型槽102两侧的导轨滑 行，直至面板103将延长线20完全覆盖，以令延长线2()进一步同定于本体101匕 最后将该固定好的延长线20及测试辅助治具10并插入待测机台中的放置硬盘 的空间内，同时令该接口201与待测机台的用以插接硬盘的接口相互插接，该延 长线20另一接口202与恒温恒湿箱外的硬盘相互接设。
如此，可利用延长线20将硬盘外移至恒温恒湿箱外，进行HALT测试，有效 避免了硬盘由于其自身温度及振动极限相对较差造成的影响，保证了测试结果。
权利要求1. 一种测试辅助托座，其特征在于，该测试辅助托座主要包括一本体，该本体一侧面挖设有一用以固定一延长线一接口的固定槽。
2. 根据权利要求1所述的测试辅助托座，其特征在于，所述固定槽为一T型槽。
3. 根据权利要求2所述的测试辅助托座，其特征在于，所述T型槽两相对内侧面分别设置有一供一面板滑行的导轨。
4. 根据权利要求2所述的测试辅助托座，其特征在于，所述T型槽一端设有 一用以搁置该延长线4妾口的凸座。
专利摘要本实用新型提供了一种测试辅助托座，其中，该测试辅助托座主要包括一本体，该本体一侧面挖设有一用以固定一延长线一接口的固定槽，所述固定槽为一T型槽，该T型槽两相对内侧面分别设置有一供一面板滑行的导轨，且该T型槽一端设有一用以搁置该延长线一接口的凸座。本实用新型所述之测试辅助托座，在HALT测试中通过辅助一延长线固定于该测试辅助托座上，以便于将该延长线一端的接口与待测机台的主板接口相互接设，保证了测试结果。
文档编号G01N3/00GK201225975SQ200820047499
公开日2009年4月22日 申请日期2008年5月9日 优先权日2008年5月9日
发明者何杏才 申请人:佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司