专利名称：电子信号走线特性阻抗测试系统及方法
技术领域：
本发明涉及一种测试系统及方法，尤其是一种电子信号走线特性阻抗测试系统及 方法。
背景技术：
随着电子科学技术的发展，印刷电路板(Printed Circuit Board, PCB)已成为各 种电器设备(如计算机)不可缺少的重要组成部分。由于印刷电路板的电路中传递有超高 频率的微波信号，若要保证印刷电路板在使用时的可靠性，就必须在出厂时对其信号走线 的特性阻抗进行检测。所述特性阻抗是指电子信号走线无限长所具有的阻抗，单位为欧姆。以往传统的检测方法需要工作人员在测试前对测试设备状态逐一确认，测试参数 需要人工逐一输入，由于检测的范围广、功能多，因此，在检测时常常忙得不可开交，不仅劳 动强度大，工作效率低，而且容易产生人为错误，检测的数据也不易管理。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种电子信号走线特性阻抗测试系统，可在自动确认 测试设备的状态为正常状态时获取待测物件的测试参数文档，并根据所获取的测试参数文 档中的测试参数进行测试。此外，还有必要提供一种电子信号走线特性阻抗测试方法，可在自动确认测试设 备的状态为正常状态时获取待测物件的测试参数文档，并根据所获取的测试参数文档中的 测试参数进行测试。一种电子信号走线特性阻抗测试系统，运行于主机中，该主机与测试设备相连，该 系统包括输入模块，用于在主机中输入测试信息；初始化模块，用于对测试设备进行初始 化；获取模块，用于获取测试设备的状态信息，及当测试设备的状态信息正常时，根据测试 信息中待测电子信号走线的测试参数文档的路径从主机中获取测试参数；测试模块，用于 控制测试设备根据所获取的测试参数逐一对所有待测电子信号走线进行特性阻抗测试，从 测试设备中获取测试结果，并根据测试信息存储所采集的测试结果；分析模块，用于根据所 获取的测试参数对每一条待测电子信号走线的测试结果进行分析并得到分析结果；及生成 模块，用于根据所有待测电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并根据测试 信息存储该测试报告。—种电子信号走线特性阻抗测试方法，该方法应用于主机中，该主机与测试设备 相连，该方法包括步骤(a)在主机中输入测试信息；(b)对测试设备进行初始化；(C)获取 该测试设备的状态信息；(d)当测试设备的状态信息正常时，根据输入的测试参数文档的 路径从主机中获取待测电子信号走线的测试参数；(e)控制测试设备根据所获取的测试参 数逐一对所有待测电子信号走线进行特性阻抗测试；(f)从测试设备中获取测试结果，并 根据测试信息存储所采集的测试结果；(g)根据所获取的测试参数对每一条待测电子信号 走线的测试结果进行分析并得到分析结果；及(h)根据所有待测电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并根据测试信息存储该测试报告。相较于现有技术，所述的电子信号走线特性阻抗测试系统及方法，可以在测试前 自动确认测试设备的状态，在确认测试设备的状态为正常状态时获取待测物件的测试参数 文档，并根据所获取的测试参数文档中的测试参数进行测试，节省了测试人员确认设备状 态所需的时间和寻找测试参数的时间，提高了工作效率。
图1是本发明电子信号走线特性阻抗测试系统较佳实施例的硬件架构图。图2是图1中所示电子信号走线特性阻抗测试系统的功能模块图。图3是本发明电子信号走线特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。
具体实施例方式如图1所示，是本发明电子信号走线特性阻抗测试系统较佳实施例的系统架构 图，该电子信号走线特性阻抗测试系统10运行于主机1中。其中，所述主机1和测试设备2 相连，所述测试设备2可为时域反射仪，或者时域反射仪与机械手臂相配合的测试设备。所 述测试设备2通过探针5点取印刷电路板4上的电子信号走线进行测试。所述印刷电路板 4放置于测试机台3上，在其它实施例中，所述印刷电路板4也可以是其它任意适用的电子 信号走线载体。在测试开始前，该电子信号走线特性阻抗测试系统10获取测试设备2的状态信息 并对所获取的状态信息进行确认。当确认所获取的状态信息为正常状态时，该电子信号走 线特性阻抗测试系统10从主机1中获取待测电子信号走线的测试参数，根据所获取的测试 参数控制测试设备2对待测电子信号走线进行测试。测试完成后，该电子信号走线特性阻 抗测试系统10从测试设备2中采集测试结果，对测试结果进行分析以得到分析结果，并根 据所述测试结果和分析结果生成测试报告。如图2所示，是图1中所示电子信号走线特性阻抗测试系统10的功能模块图。所 述电子信号走线特性阻抗测试系统10包括输入模块100、初始化模块101、获取模块102、判 断模块103、测试模块104、分析模块105及生成模块106。本发明所称的模块是完成一特定 功能的计算机程序段，比程序更适合于描述软件在计算机中的执行过程，因此在本发明以 下对软件描述中都以模块描述。所述输入模块100用于在主机1中输入测试信息。所述测试信息包括，但不限于， 测试设备2的IP地址、所使用的测试设备2的通道、待测电子信号走线的测试参数文档的 路径及测试结果存储路径。所述测试设备2包括多个通道，在进行测试前，需选择所使用的 通道，例如测试设备2包括通道1、通道2、通道3、通道4及通道5，测试所需要的通道为通 道3，则输入模块100在输入到主机1中的测试信息中选择通道3。所述初始化模块101用于对测试设备2进行初始化。所述初始化是指将测试设备 2中变量的值还原成该测试设备2出厂时所设定的值。所述获取模块102用于获取该测试设备2的状态信息。所述状态信息包括，但不 限于，测试设备2的温度及探针5的使用状态。所述判断模块103用于判断所获取的测试设备2的状态信息是否正常。当测试设备2的温度在所允许的温度范围之内及探针5的使用状态为正常状态时，判断所获取的测 试设备2的状态信息正常；当测试设备2的温度不在所允许的温度范围之内及/或探针5 的使用状态为异常状态时，例如探针5被静电击穿时，判断所获取的测试设备2的状态信
息异常。所述获取模块102还用于当测试设备2的状态信息正常时，根据测试信息中待测 电子信号走线的测试参数文档的路径，从主机1中获取待测电子信号走线的测试参数。所 述测试参数文档包括多条待测电子信号走线的参数，每条待测电子信号走线的参数按顺序 排列，例如待测电子信号走线参数1，待测电子信号走线参数2，待测电子信号走线参数3。 其中，每条待测电子信号走线的参数包括，但不限于，电子信号走线的名称、电子信号的种 类、电子信号走线的长度及测试结果允许的范围。其中，所述电子信号包括单端信号和差分 信号两类。一般来说，差分信号走线的特性阻抗值为100欧姆，若允许有正负10欧姆的误 差，则可设定测试结果允许的范围为[90，110]，单位为欧姆。所述测试模块104用于控制测试设备2根据所获取的测试参数依次对待测电子信 号走线进行特性阻抗测试，从测试设备2中采集测试结果，并将所采集的测试结果存储至 测试信息中所设定的测试结果存储路径下。所述分析模块105用于根据测试参数中测试结果允许的范围对采集的测试结果 进行分析并得到分析结果。当所采集的测试结果在测试参数中测试结果允许的范围之内， 则分析模块105判定所采集的测试结果有效；当所采集的测试结果不在测试参数中测试结 果允许的范围之内，则分析模块105判定所采集的测试结果无效。例如，设定电子信号走线 特性阻抗的标准值范围为[90，110]，单位为欧姆。如果测试设备2采集到的电子信号走线 的特性阻抗为95欧姆，则分析模块105判定分析结果为该电子信号走线的特性阻抗有效； 如果测试设备2采集到的电子信号走线的特性阻抗为80欧姆，则分析模块105判定分析结 果为该电子信号走线的特性阻抗无效。所述判断模块103还用于根据所述测试参数文档判断是否继续测试印刷电路板4 上的其他电子信号走线。当测试参数文档中还有其他电子信号走线未测试时，判断模块103 判断继续测试该印刷电路板4上的其他电子信号走线。所述生成模块105用于当所述测试参数文档中所有电子信号走线测试完成时，根 据所有电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并将该测试报告存储在测试信 息中设定的测试结果存储路径下。如图3所示，是本发明电子信号走线特性阻抗测试方法较佳实施例的流程图。步骤S10，输入模块100在主机1中输入测试信息。所述测试信息包括，但不限于， 测试设备2的IP地址，所使用的测试设备2的通道、待测电子信号走线的测试参数文档的 路径及测试结果存储路径。步骤S12，初始化模块101对测试设备2进行初始化。所述初始化是指将测试设备 2中变量的值还原成该测试设备2出厂时的所设定的值。步骤S14，获取模块102获取该测试设备2的状态信息。所述状态信息包括，但不 限于，测试设备2的温度及探针5的使用状态。步骤S16，判断模块103判断所获取的测试设备2的状态信息是否正常。当测试设 备2的温度在所允许的温度范围之内及探针5的使用状态为正常状态时，判断所获取的测试设备2的状态信息正常；当测试设备2的温度不在所允许的温度范围之内及/或探针5 的使用状态为异常状态时，例如探针5被静电击穿时，判断所获取的测试设备2的状态信
息异常。当当测试设备2的状态信息异常时，返回至步骤S12 ；或者，步骤S18，当测试设备 2的状态信息正常时，获取模块102根据测试信息中待测电子信号走线的测试参数文档的 路径，从主机1中获取待测电子信号走线测试参数。所述测试参数文档可包括多条待测电 子信号走线的参数，每条待测电子信号走线的参数按顺序排列，例如待测电子信号走线参 数1，待测电子信号走线参数2，待测电子信号走线参数3。其中，每条待测电子信号走线参 数包括，但不限于，电子信号走线的名称、电子信号的种类、电子信号走线的长度及测试结 果允许的范围。步骤S20，测试模块104控制测试设备2根据所获取的测试参数依次对待测电子信 号走线进行特性阻抗测试。步骤S22，从测试设备2中采集测试结果，并将所采集的测试结果存储至测试信息 中所设定的测试结果存储路径下。步骤S24，分析模块105根据测试参数中测试结果允许的范围对所采集的测试结 果进行分析并得到分析结果。当所采集的测试结果在测试参数中测试结果允许的范围之 内，则分析模块105判定所采集的测试结果有效；当所采集的测试结果不在测试参数中测 试结果允许的范围之内，则分析模块105判定所采集的测试结果无效。例如，设定电子信号 走线特性阻抗的标准值范围为[90，110]，单位为欧姆。如果测试设备2采集到的电子信号 走线的特性阻抗为95欧姆，则分析模块105判定分析结果该电子信号走线的特性阻抗有 效；如果测试设备2采集到的电子信号走线的特性阻抗为80欧姆，则分析模块105判定分 析结果为该电子信号走线的特性阻抗无效。步骤S26，根据所述测试参数文档判断模块103判断是否继续测试印刷电路板4上 的其他电子信号走线。当所述测试参数文档还有其他电子信号走线未测试时，返回至步骤S20，根据所获 取的测试参数依次对未测试的待测电子信号走线进行特性阻抗测试；或者，步骤S28，生成 模块105用于当所述测试参数文档所有电子信号走线测试完成时，根据所有待测电子信号 走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并将该测试报告存储在测试信息中设定的测试 结果存储路径下。最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照 较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的 技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。
权利要求
一种电子信号走线特性阻抗测试系统，运行于主机中，该主机与测试设备相连，其特征在于，该系统包括输入模块，用于在主机中输入测试信息；初始化模块，用于对测试设备进行初始化；获取模块，用于获取测试设备的状态信息，及当测试设备的状态信息正常时，根据测试信息中待测电子信号走线的测试参数文档的路径从主机中获取测试参数；测试模块，用于控制测试设备根据所获取的测试参数逐一对所有待测电子信号走线进行特性阻抗测试，从测试设备中获取测试结果，并根据测试信息存储所采集的测试结果；分析模块，用于根据所获取的测试参数对每一条待测电子信号走线的测试结果进行分析并得到分析结果；及生成模块，用于根据所有待测电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并根据测试信息存储该测试报告。
2.如权利要求1所述的电子信号走线特性阻抗测试系统，其特征在于，该系统还包括判断模块，用于根据测试参数文档判断是否继续测试其他电子信号走线。
3.如权利要求1所述的电子信号走线特性阻抗测试系统，其特征在于，所述测试信息 包括测试设备的IP地址，所使用的测试设备的通道、待测电子信号走线的测试参数文档的 路径及测试结果存储路径。
4.如权利要求1所述的电子信号走线特性阻抗测试系统，其特征在于，所述状态信息 包括测试设备的温度及探针的使用状态。
5.如权利要求1所述的电子信号走线特性阻抗测试系统，其特征在于，所述测试参数 文档包括多条待测电子信号走线参数，每条待测电子信号走线参数按顺序排列，每条待测 电子信号走线参数包括电子信号走线的名称、电子信号的种类、电子信号走线的长度及测 试结果允许的范围。
6.一种电子信号走线特性阻抗测试方法，该方法应用于主机中，该主机与测试设备相 连，其特征在于，该方法包括步骤(a)在主机中输入测试信息；(b)对测试设备进行初始化；(c)获取该测试设备的状态信息；(d)当测试设备的状态信息正常时，根据待测电子信号走线的测试参数文档的路径从 主机中获取测试参数；(e)控制测试设备根据所获取的测试参数逐一对所有待测电子信号走线进行特性阻抗 测试；(f)从测试设备中获取测试结果，并根据测试信息存储所采集的测试结果；(g)根据所获取的测试参数对每一条待测电子信号走线的测试结果进行分析并得到分 析结果；及(h)根据所有待测电子信号走线的测试结果和分析结果生成测试报告，并根据测试信 息存储该测试报告。
7.如权利要求6所述的电子信号走线特性阻抗测试方法，其特征在于，在步骤(g)之后 还包括步骤根据测试参数文档判断是否继续测试其他电子信号走线特性；当所述测试参数文档还有其他电子信号走线未测试时，返回至步骤(e)；当所述测试参数文档所有电子信号走线测试完成时，至步骤(h)。
8.如权利要求6所述的电子信号走线特性阻抗测试方法，其特征在于，所述测试信息 包括测试设备的IP地址，所使用的测试设备的通道、待测电子信号走线的测试参数文档的 路径及测试结果存储路径。
9.如权利要求6所述的电子信号走线特性阻抗测试方法，其特征在于，所述状态信息 包括测试设备的温度及探针的使用状态。
10.如权利要求6所述的电子信号走线特性阻抗测试方法，其特征在于，所述测试参数 文档包括多条待测电子信号走线参数，每条待测电子信号走线参数按顺序排列，每条待测 电子信号走线参数包括电子信号走线的名称、电子信号的种类、电子信号走线的长度及测 试结果允许的范围。
全文摘要
一种电子信号走线特性阻抗测试方法，该方法包括步骤在主机中输入测试信息；获取该测试设备的状态信息；当测试设备的状态信息正常时，从主机中获取待测电子信号走线的测试参数；控制测试设备根据所获取的测试参数对待测电子信号走线进行特性阻抗测试；从测试设备中获取测试结果；对所采集的测试结果进行分析并得到分析结果；及根据测试结果和分析结果生成测试报告。本发明还提供一种电子信号走线特性阻抗测试系统。
文档编号G01R27/02GK101930030SQ20091030376
公开日2010年12月29日 申请日期2009年6月26日 优先权日2009年6月26日
发明者李昇军, 梁献全, 许寿国, 陈永杰 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司