专利名称：一种高精度电子数显内测千分尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及千分尺，特别是涉及一种高精度电子数显内测千分尺。
背景技术：
现有技术的内测千分尺和电子数显内测千分尺，如图1所示，活动测量爪都是安 装在螺杆套18上，螺杆套18安装在测微螺杆5上，测量时活动测量爪4、螺杆套18和测微 螺杆5同时伸长縮短，测量力完全作用在测微螺杆上，测微螺杆的变形随测量长度的变大 而变大，并且是非线性的无法在技术上修正，故造成现有技术的内测千分尺测量精度低而 无法适应现代工业的测量需求，这是现有技术的致命缺陷。
发明内容本实用新型所要解决的技术问题就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供 一种高精度电子数显内测千分尺。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现一种高精度电子数显内测千分
尺，包括尺架、螺旋测微机构以及数显装置，所述的尺架的后部设有安装型腔，所述的螺旋
测微机构包括测微螺杆、固定测量爪以及活动测量爪，所述的数显装置设于尺架上，其特征
在于，所述的尺架的前部设有一圆管，所述的固定测量爪设于安装型腔上方，所述的活动测
量爪设于圆管上，所述的测微螺杆穿过安装型腔并且在圆管内与活动测量爪连接。 与现有技术相比，本实用新型采用了一种前端为圆管的尺架，活动测量爪安装在
圆管上，使得测量力完全作用在圆管上而不是现有技术的测微螺杆上，由于圆管直径大，所
以刚性远大于测微螺杆，这样就大大减小了由测量力引起的弯曲变形，具有测量精度高的特点。
图1为现有内测千分尺的结构示意图； 图2为本实用新型的外形示意图； 图3为本实用新型的剖视图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型做进一步说明。 如图2、3所示，一种高精度电子数显内测千分尺，包括尺架6、螺旋测微机构1以及 数显装置2，所述的尺架6的后部设有安装型腔，所述的螺旋测微机构1包括测微螺杆5、固 定测量爪8以及活动测量爪4，所述的数显装置2设于尺架上，所述的尺架6的前部设有一 圆管3，所述的固定测量爪8设于安装型腔上，所述的活动测量爪4设于圆管上，所述的测微 螺杆5穿过安装型腔并且在圆管3内与活动测量爪4连接。 螺旋测微机构1还包括轴套7、定栅座9、定栅片10、动栅片11、动栅座12、导向螺钉、螺纹轴套14、刻度套15、测微螺杆5、微分筒16、恒力器17，所述的尺架6的安装型腔为 底面垂直全开腔体，腔体的左侧面上设有一圆孔，所述的轴套7固定于该圆孔内；腔体右侧 面上设有用于安装螺纹轴套14的螺纹孔，所述的螺纹轴套14上设有与螺孔相适配的安装 螺纹，所述的螺纹轴套14固定于该螺纹孔内；所述的定栅座9、定栅片10、动栅片11以及 动栅座12均位于尺架6的腔体内，所述的测微螺杆5上设有轴向的沟槽，该沟槽的截面呈 V形状，所述的测微螺杆5依次穿过螺纹轴套14、动栅座12、动栅片11、定栅片10、定栅座9 以及轴套7，所述的动栅座12上设有螺孔，所述的导向螺钉经动栅座12上的螺孔穿入测微 螺杆5的V形沟槽内，所述的动栅片11与动栅座12固定，所述的定栅片10与定栅座9固 定，该定栅座9固定于轴套7上，所述的活动测量爪4安装在尺架6的圆管上，所述的活动 测量爪4上设有螺孔，所述的导向螺钉经过活动测量爪4上的螺孔穿入圆管的V形沟槽内， 所述的测微螺杆5的尾端与恒力器17连接，所述的螺纹轴套14与测微螺杆5通过螺纹副 连接，所述的刻度套15套固于螺纹轴套14上，所述的微分筒16套于刻度套15上，其尾端 与测微螺杆5的尾端紧配合，所述的固定测量爪8固定在尺架6上，并且与活动测量爪4相 对称；所述的数据处理装置包括主处理单元以及位移传感单元，所述的主处理单元与数显 屏连接，所述的位移传感单元包括动栅片11与定栅片IO，其中定栅片10与主处理单元连 接；所述的微分筒16与测微螺杆5的相接处呈锥形。 如图3所示，使用者施加外力在恒力器17上，带动测微螺杆5做螺旋运动，进而带 动活动测量爪4做轴向运动，同时带动动栅座12与动栅片11做旋转运动，使得动栅片11
和定栅片io之间发生相对位移，该位移量被位移传感单元自动输入主处理单元的芯片，经
芯片处理后将测量数据显示在数显屏上，即实现了内径的测量。
权利要求一种高精度电子数显内测千分尺，包括尺架、螺旋测微机构以及数显装置，所述的尺架的后部设有安装型腔，所述的螺旋测微机构包括测微螺杆、固定测量爪以及活动测量爪，所述的数显装置设于尺架上，其特征在于，所述的尺架的前部设有一圆管，所述的固定测量爪设于安装型腔上方，所述的活动测量爪设于圆管上，所述的测微螺杆穿过安装型腔并且在圆管内与活动测量爪连接。
专利摘要本实用新型涉及一种高精度电子数显内测千分尺，包括尺架、螺旋测微机构以及数显装置，所述的尺架的后部设有安装型腔，所述的螺旋测微机构包括测微螺杆、固定测量爪以及活动测量爪，所述的数显装置设于尺架上，所述的尺架的前部设有一圆管，所述的固定测量爪设于安装型腔上，所述的活动测量爪设于圆管上，所述的测微螺杆穿过安装型腔并且在圆管内与活动测量爪连接。与现有技术相比，本实用新型采用了一种前端为圆管的尺架，活动测量爪安装在圆管上，使得测量力完全作用在圆管上而不是现有技术的测微螺杆上，由于圆管直径大，所以刚性远大于测微螺杆，这样就大大减小了由测量力引起的弯曲变形，具有测量精度高的特点。
文档编号G01B3/18GK201527241SQ20092021179
公开日2010年7月14日 申请日期2009年11月3日 优先权日2009年11月3日
发明者杜云君 申请人:上海君丰科贸有限公司