专利名称：选择性地使用或绕过远程管脚电子设备块来测试至少一个待测设备的方法和装置的制作方法
选择性地使用或绕过远程管脚电子设备块来测试至少一个 待测设备的方法和装置相关申请的交叉引用本申请是De La Puente 等人的题为 “Parallel Test Circuit with ActiveDevices” (申
请号为12/035,378，于2008年2月21日递交)的美国专利申请的部分继续，该美国专利 申请所公开的全部内容通过引用被结合于此。申请12/035,378在此被称作’ 378申请。
背景技术：
当对设备进行测试时，尤其是对电气设备进行测试时，希望将接收、驱动、生 成、处理或评估测试信号的(即，提供测试功能的)管脚电子设备(pin electronics)放置 得尽可能接近待测设备(DUT)。这是因为尽管存在用于减轻信号在信号传输路径上的 劣化的多种技术，但是减轻信号在较短信号路径上而非较长信号路径上的劣化通常是更 容易的。理想地，所有需要与DUT I/O相接口的管脚电子设备将被放置得十分接近于 DUT I/O。然而，许多DUT具有小的形状因数或者高的输入/输出(I/O)密度，从而使 得这样做较为困难(或者不可能)。结果，测试系统的设计者通常需要在如下各项之间进 行选择1)在距DUT I/O较远的位置处实现全部的所希望测试功能，或者2)在距DUT I/O较近的位置处实现部分的测试功能。
在附图中图示出本发明的说明性实施例，其中图1图示出用于测试至少一个DUT的第一示例性装置；图2图示出图1所示的远程管脚电子设备块的第一示例性实现方式，以及远程管 脚电子设备块和旁路电路之间的示例性协作；图3图示出图1所示的远程管脚电子设备块的第二示例性实现方式，以及远程管 脚电子设备块和旁路电路之间的示例性协作；图4图示出其中图1的装置的远程管脚电子设备块和旁路电路可在测试器I/O节 点和DUT I/O节点之间提供双向信号路径的示例性方式；图5图示出图1所示的装置与测试系统的示例性耦合；图6图示出用于例如利用图5中示出的装置和测试系统来测试至少一个DUT的 示例性方法；并且图7图示出在测试信号在单个测试器I/O节点和多个DUT I/O节点之间被扇入 (fan-in)/扇出(fan-out)的环境中可以如何扩展图1所示的装置。
具体实施例方式图1图示出用于测试至少一个待测设备(DUT) 102的第一示例性装置100。装置 100包括测试器I/O节点104、DUT I/O节点106、远程管脚电子设备块108、旁路电路110和控制系统112。远程管脚电子设备块108提供测试功能114并且耦合在测试器I/O 节点104和DUT I/O节点106之间。作为示例，测试功能114可以是信号接收、信号驱 动、信号生成、信号处理或信号评估功能。测试功能114也可以是子功能的集合，比如 接收、评估和驱动功能的集合。旁路电路110耦合在测试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间并且提供测 试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间的信号旁路路径116。信号旁路路径116提 供绕过由远程管脚电子设备块108提供的测试功能114的路线。控制系统112被配置来 使能和禁用旁路电路110，从而使能和禁用信号旁路路径116。在图1所示装置100的一些实施例中，测试信号(例如，DUT响应信号)可经 由DUT I/O节点106从DUT 102接收。当旁路电路110被禁用时，测试信号被远程管脚 电子设备块108的测试功能114接收、处理或评估。测试电路114的输出然后可被提供 给测试器I/O节点104。当旁路电路110被使能时，测试功能114被绕过，并且测试信 号经由信号旁路路径116向测试器I/O节点104传播。在图1所示装置100的其他实施例中，测试信号可以经由测试器I/O节点104从 测试系统接收。当旁路电路110被禁用时，测试信号被远程管脚电子设备块108的测试 功能114接收或处理，并且测试功能114的输出可被提供(驱动)到DUT I/O节点106。 当旁路电路110被使能时，测试功能114被绕过，并且测试信号经由信号旁路路径116向 DUT I/O节点106传播。在图1所示装置的另一些实施例中，远程管脚电子设备块108和旁路电路110可 以在测试器I/O节点104和DUT I/O节点106之间提供双向信号路径。在一些情况下， 控制系统112可以提供确定或使能通过远程管脚电子设备块108或旁路电路110的特定方 向的信号流的一个或多个信号。图2图示出远程管脚电子设备块108 (该块被更一般地示出在图1中)的第一示 例性实现方式。在图2中，远程管脚电子设备块108被配置为经由DUT I/O节点106从 DUT 102接收测试信号。更具体地，图2所示远程管脚电子设备块108的实施例包括比 较器200。比较器200具有接收来自DUT I/O节点106的信号的第一输入端202和接收 基线信号(baselinesignal)的第二输入端204。比较器200的输出端206耦合到测试器I/ O节点104。图2还图示出远程管脚电子设备块108和旁路电路110之间的示例性协作。具体 地，旁路电路Iio被示出为包括复用器208，该复用器208具有接收远程管脚电子设备块 108的输出的第一输入端210和耦合到信号旁路路径116的第二输入端212。复用器208 的输出端214耦合到测试器I/O节点104。复用器208的选择输入端(SEL)耦合到控制 系统112。以这种方式，通过将信号旁路路径116耦合到测试器I/O节点104，旁路电路 110被使能，并且通过将远程管脚电子设备块108耦合到测试器I/O节点104，旁路电路 110被禁用。图3图示出远程管脚电子设备块108 (该块被更一般地示出在图1中)的第二示 例性实现方式。在图3中，远程管脚电子设备块108被配置为经由测试器I/O节点104 从测试系统接收测试信号。更具体地，图3所示远程管脚电子设备块108的实施例包括 驱动器300。驱动器300具有接收来自测试器I/O节点104的信号的输入端302和耦合到处理块306的输出端304。处理块306的输出端308耦合到DUT I/O节点106。作为 示例，处理块306可以放大测试信号，响应于测试信号来生成测试式样(pattern)，或者操 纵测试信号的定时。图3还图示出远程管脚电子设备块108和旁路电路110之间的示例性协作。具 体地，旁路电路Iio被示出为包括切换元件310，该切换元件310具有耦合到测试器I/O 节点104的输入端312、耦合到驱动器输入端302的第一输出端314和耦合到信号旁路路 径116的第二输出端316。切换元件310的控制输入端318耦合到控制系统112。以这 种方式，通过将信号旁路路径116耦合到测试器I/O节点104，旁路电路110被使能，并 且通过将驱动器300耦合到测试器I/O节点104，旁路电路110被禁用。在一些实施例 中，可使用第二切换元件来将远程管脚电子设备块108或旁路电路110中的一个或另一个 耦合到DUT I/O节点106。图4图示出远程管脚电子设备块108(该块被更一般地示出在图1中)的第三示例 性实现方式。在图4中，远程管脚电子设备块108和旁路电路110在测试器I/O节点104 和DUT I/O节点106之间提供双向信号路径。作为示例，远程管脚电子设备块108被示 出为包括扇出功能，其中在测试器I/O节点104处接收到的测试信号被驱动器300缓冲并 且被多个额外的驱动器400、402、404、406扇出到多个DUT I/O节点106、408、410、 412。可通过使用控制系统112禁用除一个扇出驱动器之外的其他扇出驱动器(例如，禁 用除了经由端接电阻器Rtemrf耦合到DUT I/O节点106的驱动器406之外的其他扇出驱动 器)而绕过扇出功能。图4所示远程管脚电子设备块108还包括比较功能。比较功能经 由DUT I/O节点106和接收器414接收测试信号，并且利用比较器200来将所接收的测 试信号与基线信号进行比较，如在前关于图2所讨论的。可通过使用控制系统112选择 复用器208的第二输入端212而绕过比较功能。复用器208经由接收器416和端接电阻 器(Rtemri)耦合到测试器I/O节点104。图5图示出图1所示的装置100与测试系统500的示例性耦合。如所示出的， 测试系统500包括提供测试功能504的测试器管脚电子设备块502。信号路径506将测试 器I/O节点104耦合到测试器管脚电子设备块502和测试功能504。在一些实施例中， 远程管脚电子设备块108和旁路电路110可被集成在集成电路508中。通常而非必定地，将远程管脚电子设备块108耦合到DUT I/O节点106的信号 路径短于将测试器管脚电子设备块502耦合到DUT I/O节点106的信号路径506、116。由远程管脚电子设备块108和测试器管脚电子设备块502提供的测试功能114、 504可以是相同的或不同的。通常，测试功能114将是用户希望更快速、更频繁或者更准 确地执行的测试功能(例如，需要在DUT响应信号经历很多劣化(如果存在)之前被执 行的信号比较)。测试功能504例如可以是需要更多开销或者较不频繁地实现的测试功 能。为了确保由测试系统500并且向测试系统500提供最高质量的信号，信号路径506 可被构造为传输线。图6图示出用于例如利用图5中示出的装置100和测试系统500来测试至少一个 DUT的示例性方法600。方法600包括将装置100 (例如，测试电路)配置在第一模式中 的步骤(在块602处)。当装置100被配置在第一模式中时，远程管脚电子设备块108被 用来为DUT I/O节点106提供第一测试功能114(在块604处)，并且第一测试功能的结果被经由信号路径506发送到测试系统500 (在块606处)。在装置100被配置在第一模式中之前或之后，方法600可将装置100配置在第二 模式中(在块608处)。在第二模式中，远程管脚电子设备108被绕过。当装置100被配 置在第二模式中时，测试功能504所需的数据被经由信号路径506发送(在块610处)， 并且测试器管脚电子设备块502被用来为DUT I/O节点104提供测试功能504(在块612 处)。当设计或执行利用方法600的测试程序时，可以设计或执行测试程序以使得第 一多个测试在装置100被配置在第一模式中时执行，并且然后第二多个测试在装置100被 配置在第二模式中时执行。或者，测试程序可以被设计为使得第二多个测试在第一多个 测试之前执行。图7图示出在测试信号在单个测试器I/O节点702和多个DUT I/O节点704、 706、708、710之间被扇入/扇出的环境中可以如何扩展装置100(图1)。作为示例，装 置700提供1 4的扇出。然而，装置700所采用的原理可被用来构造具有1 2或更 大的扇出的任何电路。装置700包括针对DUT I/O节点704、706、708、710的远程管脚电子设备块 712、714、716、718，这些远程管脚电子设备块的每个被耦合在DUT I/O节点704、 706、708、710中的相应一个与测试器I/O节点702之间，并且它们每个为各自的DUT I/ O节点704、706、708、710提供第一测试功能。旁路电路720被耦合在测试器I/O节点 702和多个DUT I/O节点704、706、708、710的每个之间。旁路电路720提供测试器I/ O节点702和多个DUT I/O节点704、706、708、710的每个之间的信号旁路路径722、 724、726、728。控制系统730被配置为每次使能信号旁路路径722、724、726、728中 的一个。以这种方式，并且在旁路模式中，每次DUT I/O节点704、706、708、710中 的一个可被耦合到旁路电路720。在一些实施例中，装置700的测试器I/O节点702可被耦合到如图5所示的测试 系统。‘378申请公开了用于实现远程管脚电子设备块712、714、716、718和旁路电 路720的其他方式。在这里所公开的装置100、装置700中的任一个中，旁路电路110或720优选地 位于它所绕过的远程管脚电子设备块108、712、714、716、718的近旁，从而使替换路
径间的信号失真最小化。通过旁路电路110或720的DC衰减或增益优选地随温度变化保持恒定，以使得 它能够跨所有温度而被测量并且被校准或者被调节。
权利要求
1.一种用于测试至少一个待测设备(DUT)的装置，该装置包括测试器输入/输出(I/O)节点；DUT I/O 节点；提供第一测试功能的远程管脚电子设备块，该远程管脚电子设备块被耦合在所述测 试器I/O节点和所述DUT I/O节点之间；被耦合在所述测试器I/O节点和所述DUT I/O节点之间的旁路电路，该旁路电路提 供所述测试器I/O节点和所述DUT I/O节点之间的信号旁路路径，并且该信号旁路路径 绕过由所述远程管脚电子设备块提供的第一测试功能；以及控制系统，被配置为使能和禁用所述旁路电路。
2.根据权利要求1所述的装置，还包括提供第二测试功能的测试器管脚电子设备块；以及将所述DUT I/O节点耦合到所述测试器管脚电子设备块的信号路径。
3.根据权利要求2所述的装置，还包括其中集成了所述远程管脚电子设备块和所 述旁路电路但不集成所述测试器管脚电子设备块的集成电路。
4.根据权利要求2所述的装置，其中，所述信号路径包括传输线。
5.根据权利要求2所述的装置，其中，将所述远程管脚电子设备块耦合到所述DUT I/O节点的信号路径短于将所述测试器管脚电子设备块耦合到所述DUT I/O节点的信号路 径，其中将所述测试器管脚电子设备块耦合到所述DUT I/O节点的所述信号路径经过所 述旁路电路。
6.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一测试功能和所述第二测试功能是相同 的测试功能。
7.根据权利要求2所述的装置，其中，所述第一测试功能与所述第二测试功能不同。
8.根据权利要求1所述的装置，其中所述远程管脚电子设备块包括比较器，该比较器 具有接收来自所述DUT I/O节点的信号的第一输入端、接收基线信号的第二输入端和耦 合到所述测试器I/O节点的输出端。
9.根据权利要求1所述的装置，其中所述DUT I/O节点是多个DUT I/O节点之一；所述旁路电路被进一步耦合在所述测试器I/O节点和所述多个DUTI/0节点中的每个 DUT I/O节点之间；所述旁路电路提供所述测试器I/O节点和所述多个DUT I/O节点中的每个DUT I/O 节点之间的信号旁路路径；并且所述控制系统被进一步配置为每次使能所述信号旁路路径中的一个信号旁路路径。
10.根据权利要求1所述的装置，还包括其中集成了所述远程管脚电子设备块和所 述旁路电路的集成电路。
11.根据权利要求1所述的装置，其中，所述旁路电路在所述测试器I/O节点和所述 DUT I/O节点之间提供双向信号路径。
12.根据权利要求1所述的装置，其中，所述旁路电路包括复用器，该复用器具有接 收来自所述远程管脚电子设备块的信号的第一输入端、接收来自所述信号旁路路径的信 号的第二输入端和耦合到所述测试器I/O节点的输出端。
13.—种用于测试至少一个待测设备(DUT)的方法，该方法包括 将测试电路配置在第一模式中；当所述测试电路被配置在第一模式中时，使用远程管脚电子设备块来为DUT I/O节点提供第一测试功能；并且经由信号路径发送所述第一测试功能的输出；将所述测试电路配置在第二模式中，所述第二模式绕过所述远程管脚电子设备块；当所述测试电路被配置在第二模式中时，经由所述信号路径发送第二测试功能所需的数据；并且使用测试器管脚电子设备块来为所述DUT I/O节点提供第二测试功能。
14.根据权利要求13所述的方法，还包括当所述测试电路被配置在所述第一模式中时，执行第一多个测试；并且然后 将所述测试电路配置在所述第二模式中并且执行第二多个测试。
15.根据权利要求13所述的方法，还包括当所述测试电路被配置在所述第二模式中时，执行第一多个测试；并且然后 将所述测试电路配置在所述第一模式中并且执行第二多个测试。
16.根据权利要求13所述的方法，其中，所述第一测试功能和所述第二测试功能是相 同的测试功能。
17.根据权利要求13所述的方法，其中，所述第一测试功能与所述第二测试功能不同。
18.根据权利要求13所述的方法，其中，所述第一测试功能将从所述DUTI/O节点 接收到的信号与基线信号进行比较。
19.根据权利要求13所述的方法，其中，所述DUTI/O节点是多个DUT I/O节点之 一，并且其中，所述远程管脚电子设备块是多个远程管脚电子设备块之一，该方法还包 括当所述测试电路被配置在所述第一模式中时，使用所述多个远程管脚电子设备块来为所述多个DUT I/O节点提供第一测试功能；并且经由信号路径串行地发送所述第一测试功能的输出；其中将所述测试电路配置在所述第二模式中提供了所述多个远程管脚电子设备块的 旁路并且将所述测试器I/O节点耦合到仅一个DUT I/O节点。
全文摘要
在一个实施例中，用于测试至少一个待测设备(DUT)的装置包括测试器输入/输出(I/O)节点、DUT I/O节点、远程管脚电子设备块、旁路电路和控制系统。远程管脚电子设备块提供测试功能，并且被耦合在测试器I/O节点和DUT I/O节点之间。旁路电路被耦合在测试器I/O节点和DUT I/O节点之间，并且提供测试器I/O节点和DUT I/O节点之间的信号旁路路径。信号旁路路径绕过由远程管脚电子设备块提供的测试功能。控制系统被配置来使能和禁用旁路电路。还公开了用于利用该装置和其他有关装置来测试一个或多个DUT的方法。
文档编号G01R31/28GK102016614SQ200980114118
公开日2011年4月13日 申请日期2009年2月23日 优先权日2008年2月21日
发明者大卫·D·埃斯克德森, 拉 帕恩特 爱德马度·德 申请人:惠瑞捷(新加坡)私人有限公司