专利名称：一种两平行平面间距离尺寸的检测工具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测距离尺寸的工具，特别涉及一种检测零件曲面上某一截面距另一平行平面之间的距离尺寸的工具。
背景技术：
目前对距离尺寸的检测方法有采用如游标卡尺、高度尺等通用量具进行直接测量、投影仪上投影测量法测量、三坐标计量仪上坐标计量法测量。当需要测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值Φd的截面距离垂直于该轴线另一平面之间的距离尺寸P时，由于要测量零件曲面上某一截面距另一平行平面之间的距离尺寸，一般采用间接的方面来确定曲面上的被测截面，很难确定测量基准，测量误差很大；特别是在加工过程中，无法满足生产现场的100%在线测量需求，效率较低、成本较高。
发明内容
为了解决上述难题，本发明的目的是提供一种能定性判断出垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值Φ d的截面距离另一平面之间距离尺寸P是否合格的检具，从而实现快速方便地检测。该发明易于实现、操作简单、量具成本低，解决了生产现场在线检测的需求，以及当要求对距离尺寸进行100%检测时效率低的问题。本发明所述的检具，结构为一体两端式，左端为上极限量规孔，右端为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面C3)到上极限量规孔端面O)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸Pmax，基准孔端面(5)到下极限量规孔端面⑷的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸Pmin;测量基准孔(1)的孔径尺寸Φ0的取值与零件上被测截面处的Φ d的值相等，测量时用基准孔直接在回转曲面上确定测量基准。当用本发明所述检具测量垂直于某一轴线并包含以某一曲率半径SR的圆弧绕该轴线回转所形成的回转曲面相截所形成的截圆直径为某一直径值Φ(1的截面与另一平面之间距离尺寸P时，先用检具的上极限量规端由右向左套入被测零件，使量规因受零件的阻挡不能继续向右移动为止，此时观察上极限量规端面与被测端平面沿轴线360° —周内的接触情况。如由于基准孔孔口与被测零件上的回转曲面上直径为Φ(1的圆相接触而使得上极限量规上的测量端面与零件上的被测端平面A没有完全接触，判定该尺寸超长，如由于基准孔孔口与被测零件上的回转曲面上直径为Φ(1的圆没有接触而使得上极限量规上的测量端面与零件上的被测端平面A完全接触，则判定该距离尺寸P没有超长；然后，再用本发明所述检具的另一端下极限量规按同样的操作方法进行检测，如由于下极限量规上的测量端面与被测端平面A完全接触，判定该尺寸P超短，如没有完全接触，判定该距离尺寸P没有超短；当用上极限量规检查合格时，只能说明被测距离尺寸P没有超长，同时还要用下极限量规检查，下极限量规检查合格时，只能说明被测距离尺寸P没有超短。只有当上极限量规和下极限量规检查均合格时即上极限量规的测量端面与被测端平面完全接触，下极限量规的测量端面与被测端平面没有完全接触，才能判定被测距离尺寸P是合格的。该检测方法由于是用本发明所述检具极限量规上的基准孔在零件回转曲面上直接确定测量基准而减少了测量误差，且检具易于实现、操作简单、量具成本低，特别适用于在生产现场在线检测和要求进行100%检测时的情况。
图1是本发明所述一体两端式极限量规结构示意图。图加是被测零件结构示意图。图2b是被测零件结构示意图。图3a是量规测量端面与零件被测端平面没接触情况示意图。图北是量规测量端面与零件被测端平面没接触情况示意图。图3c是量规测量端面与零件被测端面没完全接触情况示意图。图3d是量规测量端面与零件被测端面没完全接触情况示意图。图如是量规测量端面与零件被测端平面完全接触情况示意图。图4b是量规测量端面与零件被测端平面完全接触情况示意图。图5是被测零件管套示意图。图6是测管套上的距离尺寸3. 1 士0. 12的专用极限量规图。图7是被测零件堵头示意图。图8是测堵头上的距离尺寸5. 7士0. 15的专用极限量规图。图中标记(1)测量基准孔，(2)上极限测量端面，(3)基准孔端面，⑷下极限测量端面，(5)基准孔端面，(6)手柄部分，P是被测距离尺寸，Pmin.是被测距离尺寸下极限尺寸，Pmax是被测距离尺寸上极限尺寸，Φ0是基准孔孔径尺寸，Φ(1是垂直于轴线的某一截面与曲面回转体相截截圆直径值，SR是被测零件上曲面半径，δ是量规测量端面与零件被测端平面A之间的间隙，A是被测零件上的被测端平面。
具体实施例方式实施例1 以要求100%检查如图5所示的管套零件上垂直于轴线并包含以按 SR9. 5(+0. 20)为半径曲线绕轴线回转所得回转曲面体相截所形成的截圆直径为Φ9.04的圆的截面距离被测端平面A的距离尺寸为3. 1 士0. 12的实例来说明该发明在如图加所示结构类零件上的实施。检测如图5所示的距离尺寸3. 1 士0. 12时，本发明所述检具设计、制成如图6所示的结构检具为一体两头套筒式，套筒外形中部滚花外圆作为手柄(6)，左边为上极限量规孔，右边为下极限量规孔，中部小孔为测量基准孔(1)，其孔径值为Φ9. 04(0,-0. 01)。左端大台阶孔内端面为基准孔端面(3)，外端面为上极限测量端面O)，端面C3)距端面O)的轴向距离取值为被测尺寸3.1 士0.12的上极限Pmax = 3. 22(0，-0.01)；右端大台阶孔的内端面为基准孔端面(5)，外端面为下极限测量端面，端面( 距端面的轴向距离取值为被测尺寸3. 1 士0. 12的下极限Pmin = 2. 98. (+0. 015，+0. 005)。测量端面⑵、⑷及基准孔端面(3)、(5)相对于基准孔Φ9.04(0，-0.01)轴线垂直度要求为Φ0. 008，检具的其他技术要求按量规的常规要求设计。检测的实施通过手柄(6)首先将检具的左端(上极限量规)由右向左套入被测零件，使量规因受零件的阻挡不能继续向右移动为止，此时观察上极限测量端面O)与被测端平面A沿轴线在360° —周内的接触情况。如由于基准孔孔口与被测零件上的 SR9. 5(+0. 2 0)回转曲面相接触而使得上极限量规上的测量端面O)与零件上的被测端平面A没有接触，如图3a所示，判定该距离尺寸3. 1 士0. 12超长；若是如图如所示完全接触，判定该尺寸3. 1 士0. 12没有超长。然后再用检具的另一端下极限量规按同样的操作方法测量，如由于下极限量规上的测量端面(4)与被测端平面A完全接触，如图如所示，判定该尺寸3. 1 士0. 12超短；如没有完全接触，似图3a所示，判定该距离尺寸3. 1 士0. 12没有超短。如用上极限量规检测时，上极限量规的测量端面⑵与被测端平面A接触情况如图如所示，用下极限量规检测时，下极限量规的测量端面(4)与被测端平面A接触情况如图3a 所示，则判定垂直于轴线并包含以半径为SR9. 5(+0. 2,0)曲线绕轴线回转所形成的回转曲面相截所得截圆直径为Φ 9. 04的截面距离被测端平面A的距离尺寸3. 1 士0. 12合格。实施例2 以要求100%检查如图7所示的堵头零件上垂直于轴线并包含以按 SR5(+0. 15 0)为半径的球体相截所形成的截圆直径为Φ9. 22的圆的截面距离被测端平面A的距离尺寸为5. 7士0. 15的实例来说明该发明在如图2b所示结构类零件上的实施。检测如图7所示的距离尺寸时，本发明所述检具(上极限、下极限量规)被设计、 制成如图8所示的结构所述检具为一体两头套筒式，套筒外形中部滚花外圆作为手柄 (6)，内部为同轴的中部小孔两头大孔组成的台阶孔结构，左边为上极限量规，右边为下极限量规，中部小孔为测量基准孔(1)，其孔径值为Φ9.22(0，-0.01)，左边大台阶孔内端面为基准孔端面(3)，外端面为上极限测量端面O)，端面C3)距端面O)的轴向距离取值为被测尺寸5. 7士0. 15的上极限值Pmax = 5. 85(0，-0. 01)；右端大台阶孔的内端面为基准孔端面(5)，外端面为下极限测量端面，端面( 距端面的轴向距离取值为被测尺寸 5. 7士0. 15的下极限值Pmin= 5. 55(+0. 015，+0. 005)。测量端面(2)、(4)及基准孔端面(3)、 (5)相对于基准孔Φ9. 22(0,-0.01)轴线垂直度要求为Φ0.008。检测的实施通过手柄(6)首先用检具的左边(上极限量规)由右向左套入被测零件，使量规因受零件的阻挡不能继续向右移动为止，此时观察上极限测量端面O)与被测端平面A沿轴线在360° —周内的接触情况。如由于基准孔孔口与被测零件上的 SR5 (+0. 15 0)球面相接触而使得上极限量规上的测量端面( 与零件上的被测端平面A 没有完全接触，似图北或3c或3d所示，判定该距离尺寸5. 7士0. 15超长；如是似图4b所示完全接触，判定该尺寸5. 7士0. 15没有超长。此时再用检具的另一边下极限量规按同样的操作方法，如由于下极限量规上的测量端面(4)与被测端平面A完全接触，似图4b所示， 判定该尺寸5. 7士0. 15超短；如没有完全接触，似图北或3c或3d所示，判定该距离尺寸 5.7士0. 15没有超短。如用上极限量规检测时，上极限量规的测量端面( 与被测端平面A 接触情况如图4b所示，用下极限量规检测时，下极限量规的测量端面(4)与被测端平面A 接触情况如图北或3c或3d所示，则判定垂直于轴线并与半径为SR5(+0. 15，0)球体相截所得截圆直径为Φ9. 22的截面距离被测端平面A的距离尺寸5. 7士0. 15合格。
权利要求
1. 一种两平行平面间距离尺寸的检测工具，其特征在于所述检具的结构为一体两端式，左边为上极限量规孔，右边为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面 (3)到上极限量规孔端面⑵的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸Pmax，基准孔端面 (5)到下极限量规孔端面⑷的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸Pmin，测量基准孔 (1)的孔径尺寸ΦD的取值与零件上被测截面处的Φ(1的值相等。
全文摘要
本发明所述的检具，结构为一体两端式，左端为上极限量规孔，右端为下极限量规孔，中部内部为测量基准孔(1)，基准孔端面(3)到上极限量规孔端面(2)的距离尺寸为被测距离尺寸P的上极限尺寸Pmax，基准孔端面(5)到下极限量规孔端面(4)的距离尺寸为被测距离尺寸P的下极限尺寸Pmin；测量基准孔(1)的孔径尺寸φD的取值与零件上被测截面处的φd的值相等，测量时用基准孔直接在回转曲面上确定测量基准。用本发明所述检具极限量规上的基准孔在零件回转曲面上直接确定测量基准而减少了测量误差，且检具易于实现、操作简单、量具成本低，特别适用于在生产现场在线检测和要求进行100％检测时的情况。
文档编号G01B3/34GK102261879SQ20101018590
公开日2011年11月30日 申请日期2010年5月28日 优先权日2010年5月28日
发明者刘辉, 陈祖芳 申请人:中国航空工业标准件制造有限责任公司