专利名称：Led灯阵检测方法
技术领域：
本发明涉及一种LED灯阵检测方法。
背景技术：
LED灯阵在许多领域中都有着广泛的应用，例如在一些手机外屏上便设置有LED 灯阵，以在手机的不同功能场合下显示出不同的图案或数字。现有的LED灯阵测试程序一般分为两个步骤步骤一，点亮LED灯阵中的所有 LED,以对LED灯阵的驱动芯片进行虚焊检测；步骤二，按照一定的显示图案点亮LED灯阵中的部分LED，例如按照所有奇数列LED- >所有偶数列LED- >所有奇数行LED- >所有偶数行LED的顺序依次点亮部分LED，以对驱动芯片进行连焊检测。在这样的测试程序中，虽然能够实现对虚焊现象的有效检测，但是由于未对驱动芯片上的各种引脚的实际排布进行针对性的考虑，因此并不能实现对连焊现象的100%有效检测。例如，在上述的按照所有奇数列LED- >所有偶数列LED- >所有奇数行LED- >所有偶数行LED的顺序依次点亮部分LED，以对驱动芯片进行连焊检测的步骤中，通过实验分析可知，此时仅有一半左右的连焊不良能够被成功地检出。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术无法对LED灯阵的连焊不良实现 100%有效检测的缺陷，提供一种能够对LED灯阵的连焊不良实现100%有效检测、检测过程快速并且不易造成检测人员视觉疲劳的LED灯阵检测方法。本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种LED灯阵检测方法，该 LED灯阵具有一驱动芯片，其特点在于，该方法包括S1、确定该驱动芯片上各LED的正极引脚之间发生相邻连焊以及对角连焊的可能性，并确定该驱动芯片上各LED的负极引脚之间发生相邻连焊以及对角连焊的可能性；S2、确定每个LED的关联引脚，关联引脚定义为所有可能与该LED的正极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的正极引脚，以及所有可能与该LED的负极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的负极引脚；S3、在关联引脚数量最多的LED中选取一 LED作为一检测用LED ；S4、在与所有已选取的检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED中选取一 LED作为一检测用LED ；S5、反复执行步骤S4，直至所有已选取的检测用LED的正极引脚和负极引脚与各检测用LED的关联引脚之间的连焊可能性覆盖步骤S 1中确定的所有连焊可能性；S6、点亮所有LED，判断所有LED是否均正常亮起，若均正常亮起，则说明该驱动芯片上未出现虚焊或LED的正极引脚与负极引脚之间的连焊；S7、仅点亮所有检测用LED，判断该LED灯阵中是否仅有所有检测用LED亮起，若仅有所有检测用LED亮起，则说明该驱动芯片上未出现步骤Sl中确定的任何连焊。其中，将步骤S7替换为点亮该LED灯阵中除了所有检测用LED之外的其它所有 LED,判断该LED灯阵中是否有至少一个检测用LED亮起，若没有任何检测用LED亮起，则说明该驱动芯片上未出现步骤Sl中确定的任何连焊。
较佳地，在步骤S3中在关联引脚数量最多的LED中选取一位置最靠近该LED灯阵的中心的LED作为一检测用LED ；在步骤S4中，在与所有已选取的检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED中选取一位置最靠近该LED灯阵的中心的LED作为一检测用LED。较佳地，在步骤S3-S5中选取检测用LED时，使所有检测用LED的位置之间的离散程度最低。较佳地，在步骤S3-S5中选取检测用LED时，使所有检测用LED在该LED灯阵中的排列图案为一条直线、多条线段、左右对称图形或上下对称图形。较佳地，在步骤S6和S7中点亮LED时，均保持点亮状态3秒。较佳地，该驱动芯片的型号为BH6948⑶，在步骤S3-S5中选取的所有检测用LED 为LED B2B7、LED C7B4、LED A4B6、LED A6BULED A3B8。本发明的积极进步效果在于本发明的该LED灯阵检测方法将LED灯阵的驱动芯片上的各种引脚的实际排布纳入了考虑之中，基于驱动芯片上的各种引脚的基本焊接方式总结出了可能导致连焊不良现象出现的规律，并根据该规律设计出了独特的测试用显示图案，利用该独特的测试用显示图案便可以实现对连焊不良的100%有效检测。另外，在本发明中，利用一帧全亮画面以及一帧该测试用图案画面便可以便捷地完成虚焊检测以及连焊检测，测试速度极快。另外，本发明选择的该测试用显示图案不但将测试用LED的数量降至了最低，而且该测试用显示图案本身也选择为较易观察的图形，因此比较不容易引起测试人员的视觉疲劳。
图1为LED灯阵的驱动芯片上的引脚发生相邻连焊时的示意图。图2为LED灯阵的驱动芯片上的引脚发生对角连焊时的示意图。图3为BH6948⑶型驱动芯片上的引脚排布示意图。图4为BH6948⑶型驱动芯片的电路原理图。图5为与BH6948⑶型驱动芯片相应的各LED的关联引脚关系图。图6为选取的检测用LED在LED灯阵中的分布示意图。
具体实施例方式下面结合附图给出本发明较佳实施例，以详细说明本发明的技术方案。当LED灯阵的驱动芯片上的各种引脚之间发生连焊不良时，可能会出现两种连焊状态如图1所示的相邻连焊，即横向或纵向相邻的两个引脚之间发生连焊；以及，如图2 所示的对角连焊，即沿对角线方向相邻的两个引脚之间发生连焊。通过对各种引脚的功能分析可知，仅有发生在LED的驱动引脚(包括正极引脚以及负极引脚)之间的连焊才会在LED灯阵的显示状态中反应出来，而LED的驱动引脚与其它功能引脚之间的连焊则可以在本发明所涉及内容之外的其它现有功能测试程序中被有效检出。其中，一旦LED的正极引脚、负极引脚与电源端Vcc或是接地端GND发生连焊，则均会在全屏点亮LED灯阵时被检出，因此本发明要重点分析的连焊现象是各LED的正极引脚之间发生的相邻连焊和对角连焊，以及各LED的负极引脚之间发生的相邻连焊和对角连焊。下文中以型号为BH6948⑶的驱动芯片为例进行说明。该驱动芯片用于驱动一 7X7的LED灯阵，其上的引脚排布如图3所示，图中的“SW+数字”表示的是各LED的正极引脚，而“LED+数字”表示的则是各LED的负极引脚。在图3中用线段表示出了各LED的正极引脚之间以及负极引脚之间可能发生的全部相邻连焊以及对角连焊，共有21种连焊可能性，即21条线段。在得到了全部的连焊可能性之后，接下来参考图4所示的电路原理图，将上述21 种连焊可能性转换为如图5所示的各LED的关联引脚列表，其中，在本文中将一 LED的“关联引脚”定义为所有可能与该LED的正极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的正极引脚，以及，所有可能与该LED的负极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的负极引脚。以LED B2B7为例对确定其所有关联引脚的方法加以说明。针对BH6948⑶型驱动芯片而言，任一 LED的总编号的前两位字母数字组合代表着该LED的正极引脚的编号，而总编号的后两位字母数字组合则代表着该LED的负极引脚的编号。因此，从图3和图4中均可以得到与编号“B2”相应的正极引脚为图3中的“SW4”，而与编号“B7”相应的负极引脚为图3中的“LED2”。由图3可知，经过正极引脚“SW4”的线段有3条，即该引脚“SW4” (编号B2)分别可能与引脚“SW3”(编号A3)、“SW5”(编号B1)、“SW6” (C2)发生连焊，将该3 种连焊可能性用正极引脚编号的两两组合表示出来便是B2A3、B1B2、C2B2 ；而经过负极引脚“LED2”的线段有5条，即该引脚“LED2”(编号B7)分别可能与引脚“LED1 ”(编号A6)、 “LED3” (编号 B8)、“LED4” (编号 C8)、“LED5” (编号 C7)、“LED6” (编号 B6)发生连焊，将该 5种连焊可能性用负极引脚编号的两两组合表示出来便是B7A6、B7B8、C8B7、C7B7、B6B7。 因此在图5中可以看到在与“B2B7”相应的条目中便填写有这8种连焊可能性B2A3、B1B2、 C2B2;W&B7A6、B7B8、C8B7、C7B7、B6B7 ；并且还在该条目右侧的条目中填写有连焊可能性的数量“8”。按照同样的方法获得所有LED的关联引脚，并填写入图5的表格中。接下来开始在所有的LED中选取少量的检测用LED。选取第一个检测用LED 在图5的表格中找出关联引脚数量最多的LED，若仅有一个，则将该LED作为第一个检测用LED，若多于一个，则按照下文中将作说明的一辅助规则从中选取一个LED作为第一个检测用LED。在本实施例中，从图5的表格中可以得到有4 个LED的关联引脚数量均为8个，因此根据该辅助规则从中选取LED B2B7为第一个检测用 LED。选取第二个检测用LED 在图5的表格中找出与第一个检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED，这可以分两步进行首先，在图5的表格中将各LED的关联引脚与第一个检测用LED的关联引脚进行对比，从中剔除掉与第一个检测用LED的关联引脚重复的那些关联引脚，因为该些重复的关联引脚所反应的连焊可能性已经可以利用第一个检测用LED检出，无需再次考虑；然后，再从中找出剩余的关联引脚数量最多的LED，若仅有一个，则将该LED作为第二个检测用LED，若多于一个，则仍旧根据该辅助规则从中选取一个LED作为第二个检测用LED。在本实施例中，最终选取了具有6个与第一个检测用 LED的关联引脚不重复的关联引脚的LED C7B4作为第二个检测用LED。选取第三个检测用LED 类似地，在图5的表格中找出与第一个和第二个检测用 LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED，其中当有多个LED可选时同样按照该辅助规则进行唯一选取。在本实施例中，最终选取了具有4个与第一个和第二个检测用LED 的关联引脚不重复的关联引脚的LED A4B6作为第三个检测用LED。不断地按照与上述选取第二个以及第三个检测用LED相类似的方法选取新一个检测用LED，直至所有已选取的检测用LED的正极引脚和负极引脚与它们各自的关联引脚之间的连焊可能性已经覆盖了从驱动芯片的引脚排布图中确定的所有连焊可能性为止，例如直至已经覆盖了从图3中得出的全部21种连焊可能性为止。检测用LED的选取数量完全由驱动芯片的引脚排布方式唯一确定，不受本实施例的限制。按照上述的方法所选取的检测用LED将能够在数量最少的条件下对所有的连焊可能性进行100%有效检测。表1所示便为本实施例中针对BH6948⑶型驱动芯片所选取的全部检测用LED的列表，其中在每一检测用LED右侧的条目中均填写有该检测用LED的全部关联引脚中与在前选取的所有检测用LED的关联引脚不重复的那些关联引脚。而图6所示则为在本实施例中选取的5个检测用LED(以方格填充表示)在整个LED灯阵中形成的显示图案。表 权利要求
1.一种LED灯阵检测方法，该LED灯阵具有一驱动芯片，其特征在于，该方法包括51、确定该驱动芯片上各LED的正极引脚之间发生相邻连焊以及对角连焊的可能性， 并确定该驱动芯片上各LED的负极引脚之间发生相邻连焊以及对角连焊的可能性；52、确定每个LED的关联引脚，关联引脚定义为所有可能与该LED的正极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的正极引脚，以及所有可能与该LED的负极引脚发生相邻连焊或对角连焊的各LED的负极引脚；53、在关联引脚数量最多的LED中选取一LED作为一检测用LED ；54、在与所有已选取的检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED中选取一 LED作为一检测用LED ；55、反复执行步骤S4，直至所有已选取的检测用LED的正极引脚和负极引脚与各检测用LED的关联引脚之间的连焊可能性覆盖步骤Sl中确定的所有连焊可能性；56、点亮所有LED，判断所有LED是否均正常亮起，若均正常亮起，则说明该驱动芯片上未出现虚焊或LED的正极引脚与负极引脚之间的连焊；57、仅点亮所有检测用LED，判断该LED灯阵中是否仅有所有检测用LED亮起，若仅有所有检测用LED亮起，则说明该驱动芯片上未出现步骤Sl中确定的任何连焊。
2.如权利要求1所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，将步骤S7替换为点亮该LED 灯阵中除了所有检测用LED之外的其它所有LED，判断该LED灯阵中是否有至少一个检测用LED亮起，若没有任何检测用LED亮起，则说明该驱动芯片上未出现步骤Sl中确定的任何连焊。
3.如权利要求1或2所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，在步骤S3中在关联引脚数量最多的LED中选取一位置最靠近该LED灯阵的中心的LED作为一检测用LED ；在步骤S4中，在与所有已选取的检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED中选取一位置最靠近该LED灯阵的中心的LED作为一检测用LED。
4.如权利要求1或2所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，在步骤S3-S5中选取检测用LED时，使所有检测用LED的位置之间的离散程度最低。
5.如权利要求4所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，在步骤S3-S5中选取检测用 LED时，使所有检测用LED在该LED灯阵中的排列图案为一条直线、多条线段、左右对称图形或上下对称图形。
6.如权利要求1或2所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，在步骤S6和S7中点亮 LED时，均保持点亮状态3秒。
7.如权利要求1或2所述的LED灯阵检测方法，其特征在于，该驱动芯片的型号为 BH6948GU，在步骤 S3-S5 中选取的所有检测用 LED 为LEDB2B7、LED C7B4、LED A4B6、LED A6BULED A3B80
全文摘要
本发明公开了一种LED灯阵检测方法S1、确定该驱动芯片上的连焊可能性；S2、确定每个LED的关联引脚；S3、在关联引脚数量最多的LED中选取一LED作为一检测用LED；S4、在与所有已选取的检测用LED的关联引脚不重复的关联引脚数量最多的LED中选取一LED作为一检测用LED；S5、反复执行步骤S4，直至所有已选取的检测用LED的连焊可能性覆盖步骤S1中确定的所有连焊可能性；S6、点亮所有LED，判断所有LED是否均正常亮起；S7、仅点亮所有检测用LED，判断该LED灯阵中是否仅有所有检测用LED亮起。本发明可以实现对连焊不良的100％有效检测，测试速度极快，且不易引起测试人员的视觉疲劳。
文档编号G01R31/02GK102565722SQ201010621380
公开日2012年7月11日 申请日期2010年12月31日 优先权日2010年12月31日
发明者石翠娥, 黄训刚 申请人:晨讯科技(沈阳)有限公司