专利名称：功放研发评估测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种功放研发评估测试系统。
背景技术：
研发评估测试为了前期在研发阶段充分对功放进行各项性能指标的评估，为功放 设计方案提供充分的依据，同时也一定程度上保证了产品性能指标的一致性。研发早期，采 用手动评估的方式，手动评估对评估人员有一定的要求，必须要对功放产品有一定的射频 测试知识，同时由于测试数据量较大，需要记录的数据繁多，而在评估过程中每个功放可能 需要测试好几个指标，因此手动测试不便于研发前期的评估测试。
实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述现有技术的缺点和不足，提供一种功放研发评估 测试系统，该测试系统能缩短研发周期，减少研发工程师评估测试复杂度，提高操作人员和 测试设备的效率，降低人为因素，对一般的人员也能正常的进行评估测试。本实用新型的目的通过下述技术方案实现功放研发评估测试系统，主要由与被 测功放相连的信号源和频谱仪构成，所述信号源和频谱仪均与控制计算机相连。所述信号源和频谱仪均通过射频线缆与被测功放相连，当控制计算机驱动控制信 号源，信号源通过射频线缆向被测功放传输射频信号，从而提供输入信号；频谱仪也通过射 频线缆测试被测功放的输出功率。所述信号源和频谱仪均通过GPIB卡与控制计算机相连。所述控制计算机安装有me自动测试系统。综上所述，本实用新型的有益效果是缩短研发周期，减少研发工程师评估测试复 杂度，提高操作人员和测试设备的效率，降低人为因素，对一般的人员也能正常的进行评估 测试。
图1为本实用新型的系统框图；图2为本实用新型的测试流程图。
具体实施方式
下面结合实施例及附图，对本实用新型作进一步的详细说明，但本实用新型的实 施方式不仅限于此。实施例如图1所示，本实用新型主要由通过射频线缆与被测功放相连的信号源和频谱仪 构成，所述信号源和频谱仪还通过GPIB卡与控制计算机相连。所述控制计算机安装有me自动测试系统，功放研发评估测试的整个流程均是由Nie自动测试系统的脚本来控制的，通过me自动测试系统，控制计算机完成以下任务a)测试脚本的解析；b)通过GPIB卡调用仪器驱动控制信号源和读取频谱仪测试数据；c)记录测试数据。本实用新型的测试流程如图2所示，其主要由如下步骤构成(a)首先将被测功放预热，测试环境上电；(b)然后通过控制计算机驱动仪器初始化；(c)控制计算机驱动信号源向被测功放提供输入信号；(d)频谱仪通过射频线缆测试被测功放的输出功率；(e)控制计算机从频谱仪上获取测试数据并记录到数据库。如上所述，便可较好的实现本实用新型。
权利要求功放研发评估测试系统，其特征在于，主要由与被测功放相连的信号源和频谱仪构成，所述信号源和频谱仪均与控制计算机相连。
2.根据权利要求1所述的功放研发评估测试系统，其特征在于，所述信号源和频谱仪 均通过射频线缆与被测功放相连。
3.根据权利要求1所述的功放研发评估测试系统，其特征在于，所述信号源和频谱仪 均通过GPIB卡与控制计算机相连。
4.根据权利要求1、2或3所述的功放研发评估测试系统，其特征在于，所述控制计算机 安装有W6自动测试系统。
专利摘要本实用新型公开了一种功放研发评估测试系统。该功放研发评估测试系统主要由与被测功放相连的信号源和频谱仪构成，所述信号源和频谱仪均与控制计算机相连。本实用新型能缩短研发周期，减少研发工程师评估测试复杂度，提高操作人员和测试设备的效率，降低人为因素，对一般的人员也能正常的进行评估测试。
文档编号G01R31/28GK201749169SQ20102050721
公开日2011年2月16日 申请日期2010年8月26日 优先权日2010年8月26日
发明者杨开洪, 王豫, 许晓炜 申请人:芯通科技(成都)有限公司