专利名称：室调节的制作方法
技术领域：
本发明涉及微粒探测。以下描述关注烟雾探测器，尤其关注光学烟雾探测器，然而技术人员将会理解的是，本发明具有更加广泛的应用。为避免不确定，在此使用“微粒探测，，和类似术语，来表示对固态和/或液态微粒的探测。
背景技术：
各种烟雾探测器均包括室，空气样品被吸取经过所述室并被检测，以确定是否存在微粒。随着时间的推移，灰尘或碎片在探测室中的表面上的积累将会影响探测器的工作。举例来说，散射光探测器包括光源，用于投射经过探测室的光束。光电传感器安排为，使光束的一部分穿过其视场。光电传感器接收由探测室中存在的微粒引起的散射光。随着时间的推移，灰尘和碎片将会在探测室中的表面上积累并朝光电传感器反射光，由此带来对探测室中的微粒的错误提示。灰尘和碎片还可能留存在光源和/或光电传感器上，由此使得光的发射和接收变得昏暗并降低探测器的灵敏度。解决这些问题的一个途径涉及“气障层(air barrier) ”的使用。气障层的形成是通过将一股或多股纯净空气导入探测室，以便在关键部件(例如光源、光电传感器和位于光电传感器视场中的壁)的上方流动，从而防止灰尘和碎片在这些部件上积累。吸气式烟雾探测器采用风扇(所谓的吸气装置)，以便将待检测的空气吸取经过探测室。待检测的空气经由入口进入探测室。气障层概念的理想实现方式是采用过滤器来产生纯净空气。过滤器安排为与入口平行，由此，纯净空气由吸气装置吸取经过过滤器并且吸入探测室。同一空气流(例如来自管网(network of pipe))可以分为两部分——一部分被过滤以产生纯净空气，而另一部分进入探测室接受检测。解决与灰尘和碎片在探测室中的积累相关的问题的另一途径是，获得与从积累的灰尘和碎片反射的光(称为“背景光”)相关的测量值，并且响应于背景光，对用于接收自光电传感器的信号的探测准则进行调整。获得对背景光的测量的一个途径涉及在探测室中使用第二光电传感器。第二光电传感器安排为，使其视场不包含光束。来自第二光电传感器的信号由此表示在探测室中反射的光，而不是直接从光束散射的光。日本专利申请59192940的摘要名为带清洗设备的烟雾计，并且描述了向测量设备填充纯净空气并在纯净空气中测量不透明性而进行校准。所描述的设备包括专用的吹风机，以向探测室提供纯净空气。受到可按压开关控制的阀门用于关闭进口管，以在清洗操作前中止废气向探测室的流动。新西兰专利250497涉及防止响应于错误报警而启动灭火措施。其描述了一种可用于吸气式烟雾探测器的操作系统。当探测到报警条件时，探测室由纯净空气清洗并且对背景“烟雾”信号进行测量。如果背景读数没有下降到低于预定的阈值，则表明探测器故障。 如果背景“烟雾”下降到低于预定的阈值，则系统在等到探测的烟雾水平上升到高于另一阈值后触发灭火系统。
本发明的目的是提供一种改进的微粒探测器。
发明内容
本发明的各个方面涉及对探测室进行清洗以获得可以用于校准的背景读数的方法和设备。在一个方面，本发明提供了一种微粒探测器，包括室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口、至少一个用于接收纯净流体的纯净流体入口，以及至少一个流体出口 ；第一吸气装置，用于移动所述样品流体经过所述室；一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；具有探测模式和清洗模式的控制器；纯净流体供应装置，用于向所述纯净流体入口供应纯净流体，当处于探测模式时， 所述纯净流体供应装置与纯净流体入口协作，以将纯净流体导入所述室，从而防止由一个或多个部件的灰尘和碎片引起的污染，所述污染将降低所述微粒探测器的准确度；并且当处于探测模式时，所述控制器接收所述传感器信号并且对传感器信号应用逻辑，以产生另一信号，而当处于清洗模式时，所述控制器控制采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；当所述室进行了如此清洗，所述控制器接收所述传感器信号，并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。当处于清洗模式时，可以停用所述第一吸气装置。所述纯净流体供应装置可以将纯净流体推向所述室。在清洗模式中，可以启动所述纯净流体供应装置，以将纯净流体推向所述室。 优选地，所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置，所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体。根据本发明的优选形式，当处于探测模式时，所述专用的纯净流体吸气装置本质上是停用的， 而所述第一吸气装置移动流体经过所述过滤器。有利地，至少在清洗模式的一部分中，所述第一吸气装置是停用的，以中止样品流体流动经过所述室，而所述专用的纯净控制吸气装置是启动的，以将纯净流体推进所述室。所述探测器优选地包括管件装置(plumbing)，用于将流体流(例如来自管网)分为两部分或更多的部分，并且将一部分导向所述纯净流体供应装置，以便过滤形成纯净流体，而将另一部分导向所述室，以形成样品流体。有利地，所述控制器可以自动清洗所述室，并且在需要时调整所述逻辑。例如，所述控制器可以设置为如此清洗，并且在需要时进行周期性调整；这些调整之间的间隔可以是变化的，但优选地是固定的，并且最优选地是大约28天。清洗和调整操作优选地在一天的同一时间进行，例如在工作时间内。所述探测器可以是光学探测器(例如光散射探测器)，包括光源和光电设备，所述光源用于投射经过所述室的光(例如光束)，而所述光电设备具有与投射的光相交的视场，从而所述光电设备接收来自投射光的、由室中存在的微粒散射的光；所述光电设备构成传感器。所述探测器优选地是烟雾探测器，在这种情况下，所述传感器信号优选地提供对烟雾水平的指示。所述另一信号可以是，或者包括报警信号。所述逻辑可以包括报警阈值。 所述控制器可以设置为，使得从探测模式到清洗模式的过渡依赖于指示信号。例如，所述探测器可以设置为，如果指示信号处于或高于启动清洗阈值，则不进入清洗模式。所述启动清洗阈值优选地对应某一低于报警阈值的微粒浓度，并且最优选地是报警阈值的大约50%。控制器优选地存储多个测量值，这些测量值基于所述室进行了清洗时的一间隔时间上的指示信号。如果在所述室进行清洗时，所述指示信号过低、过高、过于多变和/或与先前的清洗和调整操作中的指示信号过于不同，则所述控制器可以设置为产生故障信号。 所述逻辑可以包括从指示信号中减去背景光的测量值。逻辑的调整可以包括将存储的指示信号进行平均，以计算背景光的新的测量值。本发明的这个方面还提供了一种操作微粒探测器的方法；所述微粒探测器包括 室，所述室具有至少一个用于接收样品流体的样品入口，至少一个纯净流体入口，用于将纯净流体导入所述室，从而防止由一个或多个部件的灰尘和碎片引起的将降低所述微粒探测器的准确度的污染，以及至少一个流体出口 ；以及一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；所述方法包括，当处于探测模式时 移动样品流体经过所述室；接收所述传感器信号以探测室中的微粒；以及对所述传感器信号应用逻辑以产生另一信号；并且当处于清洗模式时采用经由纯净流体入口的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；当所述室进行了如此清洗，接收所述传感器信号；并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。在另一方面，本发明提供了一种微粒探测器，包括室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口，以及至少一个流体出口 ；第一吸气装置，用于移动所述样品流体经过所述室；一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；纯净流体供应装置，所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置，所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体；以及具有探测模式和清洗模式的控制器；当处于探测模式时，所述控制器接收所述传感器信号并且对传感器信号应用逻辑，以产生另一信号，而当处于清洗模式时，所述控制器控制采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；其中当所述室进行了如此清洗，所述控制器接收所述传感器信号，并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。本发明的这个方面还提供了一种操作微粒探测器的方法；所述微粒探测器包括 室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口，以及至少一个流体出口 ；一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；纯净流体供应装置，所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置，所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体， 所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体；所述方法包括，当处于探测模式时移动样品流体经过所述室；接收所述传感器信号以探测室中的微粒；以及对所述传感器信号应用逻辑以产生另一信号；并且当处于清洗模式时采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；当所述室进行了如此清洗，接收所述传感器信号；并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
图1是根据本发明优选实施例的微粒探测器的示意图；图2是图1的微粒探测器的探测室的示意性轴向截面图；图3是图1的微粒探测器的探测室、纯净空气供给和管件装置的立体图；图4是对应于图3的线4-4的横向截面图；图5A和5B —起构成流程图，示出了图1的微粒探测器的控制器的操作；而图6示出了随时间变化的传感器输出和修正的输出，示出了对根据本发明实施例的方法的操作。
具体实施例方式图1的微粒探测器是根据本发明的优选实施例的烟雾探测器。微粒探测器10包括探测室12、吸气装置14、控制器20、管件装置32和纯净空气供给装置18。吸气装置14是离心式风扇并且受到控制器20的控制。在正常操作中，吸气装置 14经由管网30从样品空间(例如房间)吸取空气。微粒探测器10包括管件装置(plumbing fitting) 32，管件装置32接收来自吸气装置14的排气管的空气流。接收的空气流是流经所述吸气装置的空气的一小部分并且称为样品。管件装置32将空气流分为两部分。管件装置32将一部分空气导向探测室12，而将第二部分空气导向纯净空气供应装置18。导向探测室的空气没有被过滤并且称为“样品空气”。纯净空气供应装置18包括过滤器34，以便本质上将所有微粒从空气中过滤，或者至少本质上将关注的微粒尺寸范围内的所有微粒从空气中过滤，从而产生纯净空气。纯净的、过滤后的空气从纯净空气供应装置18导向探测室12。参照图2，探测室12包括入口 24以及入口 26A、26B和26C，入口 24用于接收来自管件装置32的样品空气，入口 26A、26B和26C用于接收来自纯净空气供应装置18的纯净的、过滤后的空气。探测室12包括与吸气装置14的进口连通的出口 38。经由入口 24进入探测室12的样品空气和经由入口 26A、26B和26C进入探测室12 的纯净空气作为组合气流，由吸气装置14从探测室12经由出口 38吸取。这样，很可能携带微粒的样品空气流62在入口 24和出口 38之间穿过探测室12。探测室12包括光源40，用于投射经过探测室12的一束光42。光束42穿过所述室并且在光学吸收装置44中消散。光电二极管28形式的光电设备安装在探测室12的子室中。探测室12构造为，使得光束42、样品空气流62和光电二极管28的视场在目标区域46相重合。光电二极管28由此安排为，接收来自光束42的由微粒(由样品空气流62 携带)散射的光。
入口 26A、26B和26C安排为，防止样品空气所携带的灰尘和碎片污染关键部件，关键部件的污染物将降低微粒探测器的准确度。入口 26A提供入口 26A和出口 38之间的纯净空气流，由此产生了防止灰尘和碎片到达光源40的防护。入口 26B安排为引导纯净空气流到光电二极管28的上方，以防止灰尘和碎片留存于其上；而入口 26C安排为防止灰尘和碎片留存在光学吸收装置44中。正如技术人员将会理解的，由多个部件(包括管件装置32、纯净空气供应装置18 以及入口 24、26A、26B和26C)的阻力确定的两条流动路径的相对阻力必须平衡，以使得适宜比例的样品空气和纯净空气传给探测室12。控制器20接收来自光电二极管28的传感器信号16，该传感器信号指示样品流体流62中的微粒。在探测模式中，控制器20对传感器信号16应用逻辑，以产生另一信号22。 所述逻辑包括减去背景光的测量值，使得信号22指示样品流体流62中的微粒浓度。所述逻辑还包括报警阈值。如果样品流体流62中的微粒浓度上升到高于报警阈值，则控制器通过发送另一信号22 (包含报警信号)进行响应。如果传感器信号16下降到低于第二个较低的预定的阈值，则所述另一信号22包含故障信号。除了过滤器34，纯净空气供应装置18还包括位于过滤器34下游的吸气装置36。 由于位于过滤器34的下游，吸气装置36面对纯净的、过滤后的空气而不是样品空气，并因此免于被未过滤的空气中携带的灰尘和碎片弄脏。这允许吸气装置36是相对轻量级的单元并且在一段时间内保持待用而没有阻碍。在可选择的实施例中(未示出)，图1的系统可以修改为，在朝向探测室12的直接的气流路径上放置阀门，从而供给所述室的样品空气将在探测器进入清洗模式时被切断。 在这种情况下，将可选地省略专门的纯净空气风扇36。凭借这种安排，当系统处于清洗模式时，室12的阀门关闭，并且主吸气装置14吸取空气经过纯净空气过滤器34并吸入所述室，由此对室12填充纯净空气并将样品空气从所述室12清洗出去。可以接着进行背景测量，正如本申请其他地方的描述。为了再次进入探测模式，阀门再次打开并且将样品空气再次吸入室12。在探测模式中，主吸气装置将既吸取样品气流又吸取纯净的空气供应经过室 12。在使用中，微粒探测器设置为具有多个操作模式，包括探测模式和清洗模式，在探测模式中进行普通的微粒探测操作，而在清洗模式中，探测室12被纯净空气冲洗并且进行校准过程。用于此类探测器的一种操作方法的细节，概略地示出在图5A和5B的流程中。过程500以探测器10在其探测模式中的操作作为开始。对控制器进行设置或编程，使每隔预定的28天，在预定的测量室背景启动时间 (见图5A ；步骤0)，从探测模式转变到清洗模式。在进入清洗模式前，控制器20首先检查报警信号是否即将发生(步骤1)。在该实施例中，通过将传感器信号16与一阈值进行比较，控制器检查报警信号是否即将发生。控制器20仅在指示信号16对应报警阈值的50% 以下的情况下进入清洗模式。如果传感器信号低于所述阈值，则控制器进入清洗模式，并且控制器停止总管道和室的流动故障监控并停止记录烟雾趋势数据(步骤2)。这防止了在主风扇于随后步骤中被停转时，以及在室中不存在样品空气的时期，给出低的流动故障。
在清洗模式中，控制器20将吸气装置14停用(步骤3)。接着启动吸气装置36吸取空气经过过滤器34并且将纯净的、过滤后的空气推向探测室12。由此将样品空气从探测室12清洗出去，并且使探测室12填充以纯净空气。吸气装置14的类型使其在停用时允许空气通过。当对室12进行了清洗，空气经由出口 38逸出并通向(或通过)吸气装置14和管网30。空气还经由入口 24逸出室12。在该实施例中，吸气装置36保持运转30秒，以确保在执行其他步骤之前将样品空气从探测室完全清洗出去(步骤4)。这称为“测量背景启动延迟(measure background start delay)”。控制器20监控吸气装置36所吸取的电流(尤其是电流脉冲)。基于所吸取的电流，控制器20能够对吸气装置的工作状况进行推断(步骤5)。可选择地，吸气装置36可以具有连接至控制器20的转速计输出端。如果吸气装置36没有运行或者没有正确运行，则产生故障信号(步骤13)。控制器20接着记录指示信号16，S卩，在室12填充以纯净空气时，以某一间隔(在该实施例中是1秒的间隔)，在“测量背景平均时间”(在该实施例中是8秒)内“读取烟雾水平”(步骤6)。对所存储的8秒的指示信号进行平均，以形成对背景光的新的测量值。还计算了信号的统计测量值(例如标准差、最大扣除量)。如果背景光的新的测量值高于预定的阈值(步骤7C)，则产生故障信号(步骤 14)。相似地，如果背景光的新的测量值过低，则产生故障信号。如果存储的指示信号(或者可选择地，在清洗模式期间持续的指示信号)过于反常(例如，标准差或RMS噪声水平高于预定的阈值，或者相对于平均信号的最大偏差高于预定的阈值)，则产生故障信号(步骤 7A 和 7B)。在出现故障信号的情况下，不对背景进行重新设定，在日志中记录故障(步骤 14B)。如果没有产生故障信号，则使用背景光的新的测量值代替旧值，并据此调整控制器20应用的逻辑(步骤8)。存储在控制器20中的事件日志记录了背景光的测量值已经更新(步骤9)。在控制器的逻辑调整之后，将吸气装置36停用并启动吸气装置14，以建立正如在探测模式中的经过探测器10的空气流(步骤10)，而清洗模式结束。允许有一个称为“测量背景重启时间”的时间段(在该实施例中是15秒)，以使探测室中的相对量的样品空气和纯净空气，以及其中的流型(flow pattern)，在控制器恢复探测模式(步骤12)之前返回稳定状态(步骤11)。这样，步骤11可视为探测模式和清洗模式之间的过渡模式。在理想的实施例中，在清洗模式中，计算并考虑统计测量值，并更新背景(步骤7A 至9)。将会理解的是，这些步骤可以在其他时刻发生，例如在探测模式或过渡模式期间。由此，本发明的优选实施例提供了微粒探测器的有效校准，以及对灰尘和碎片在探测室中的积累的有效补偿。图6示出了随时间变化的原始传感器输出和校准的传感器输出的视图600，示出了对本发明实施例的方法的操作。图6示意性地示出了以下3条随时间变化的定量图线，以便用图形表示本发明的实施例如何操作原始的传感器输出图线602。其定量地反映了在探测室的光传感器处接收的随时间变化的散射光的水平。可以看出，该图线具有随时间大体上升的趋势。该趋势由室中背景光的增加引起，背景光的增加源于室壁的反射水平的增加。该反射由室壁上的灰尘等物质的积累引起。以、为中心的峰值示出了由火灾事件探测引起的接收光的临时峰值。背景的图线604，其用于随时间修正原始的传感器输出。可以看出，图线604包括在清洗事件的时刻之间延伸的一系列线段。该示例示出了在时刻、、、和t。的3个清洗事件。在tA、tB和t。的每个时刻，探测器进入清洗模式，以纯净空气冲洗探测室，并且在存在纯净空气的情况下对室中的光的水平进行探测。将该值接着设定为背景水平604并且在发生下一清洗过程前使用该值。修正的传感器输出606。该值606以其最简单的形式代表减去当前背景值后的原始的传感器输出值。图3和4示出了探测器的优选实施例的部件结构。在探测模式中，空气经由探测器后部的入口 56被接收，并且由管48传给管件装置 32。空气经由探测器后部的出口 38离开探测器。吸气装置14(在图3和4中未示出)产生入口 56和出口 38之间的压力差，以使空气移动经过探测器。管件装置32的一部分与壳体58整体形成，壳体58还形成了纯净空气供应装置18 的一部分。管件装置32包括歧管空间32A。歧管空间32A大致是T形的(包括两个相对的臂和单个中心臂)并且位于水平面中。直立的管状套筒形式的螺纹接头定位在“T”相对的臂的每一个的端部。管状套筒之一密封容纳在管48的端部中，以将空气接收到歧管空间32A中。另一管状套筒密封容纳在管54的端部中，以将样品空气传送到探测室12。“T”的中心臂通向壳体58的内部，以将空气供给纯净空气供应装置18。壳体58是直立的管状结构，具有方形的截面。壳体58安装在板上，该板将壳体58 关闭并且限定歧管空间32A下方的延伸程度。过滤器34由可渗透的壁构成，所述壁限定了位于壳体58内的同心的管状结构。从管件装置32接收到壳体58内部的空气在其通过所述可渗透的壁进入过滤器34的内部时被过滤。吸气装置36围绕竖直轴线旋转并且位于过滤器34的顶上，以从过滤器的内部吸取气体。盖子60盖住所述吸气装置，并且与壳体58配合并由此关闭壳体58。管状套筒形式的螺纹接头在水平面中从盖子60的侧壁倾斜地向前伸出，并且密封容纳在管50的端部中。管50的另一端部与歧管52密封连通。歧管52与入口 26A、26B和26C连通。在某些实施例中连接管件装置32和样品空气入口 24的管54是长而细的，以控制样品空气流动路径的阻力；而各窄孔定位在过滤器34和吸气装置36之间及位于与入口 26A、26B和26C对应的位置处的歧管52中，以控制纯净空气流动路径的阻力。这两条流动路径的相对阻力由此得以平衡，使得将适宜比例的纯净空气和样品空气在正常的探测模式中传送到探测室。根据所描述的实施例，吸气装置14从管网30以及探测室12的出口 38吸取空气。 这种安排称为二次抽样循环。根据其他的实施例，吸气装置仅从探测室吸取空气，而管件装置接收直接来自于管网而不是吸气装置的排气管的空气。这些其他的实施例具有缺点，包括显著增加的从管网到探测器的过渡时间。将会理解的是，本发明的实施例可以使用多个探测室，这些探测室带有共享的或独立的主吸气装置；和/或共享的或独立的纯净空气吸气装置。所有这些可选择的实施例构成本发明的各个方面。 将会理解的是，本说明书中公开和限定的本发明延伸至两个或更多单独特征(所提到的或者从文字或附图中显而易见的)的所有可选择的组合。所有这些不同的组合构成了本发明的多个可选择的方面。
权利要求
1.一种微粒探测器，包括室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口、至少一个用于接收纯净流体的纯净流体入口，以及至少一个流体出口 ；第一吸气装置，用于移动所述样品流体经过所述室；一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；具有探测模式和清洗模式的控制器；纯净流体供应装置，用于向所述纯净流体入口供应纯净流体，当处于探测模式时，所述纯净流体供应装置与纯净流体入口协作，以将纯净流体导入所述室，从而防止由一个或多个部件的灰尘和碎片引起的将降低所述微粒探测器的准确度的污染；并且当处于探测模式时，所述控制器接收所述传感器信号并且对传感器信号应用逻辑，以产生另一信号，而当处于清洗模式时，所述控制器控制采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；当所述室进行了如此清洗，所述控制器接收所述传感器信号，并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
2.根据权利要求1所述的探测器，其中所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置，所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体。
3.根据权利要求2所述的探测器，其中当处于探测模式时，所述专用的纯净流体吸气装置本质上是停用的，而所述第一吸气装置移动流体经过所述过滤器。
4.一种微粒探测器，包括室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口，以及至少一个流体出口 ； 第一吸气装置，用于移动所述样品流体经过所述室；一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；纯净流体供应装置，所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置， 所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体；以及具有探测模式和清洗模式的控制器；当处于探测模式时，所述控制器接收所述传感器信号并且对传感器信号应用逻辑，以产生另一信号，而当处于清洗模式时，所述控制器控制采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去；其中当所述室进行了如此清洗，所述控制器接收所述传感器信号，并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
5.根据权利要求2至4中任意一项所述的探测器，其中当处于探测模式时，所述专用的纯净流体吸气装置本质上是停用的，而所述第一吸气装置移动所述样品流体经过所述过滤ο
6.根据权利要求2至5中任意一项所述的探测器，进一步包括管件装置，用于将流体流分为两部分或更多的部分，并且将一部分导向所述纯净流体供应装置，以便过滤形成纯净流体，而将另一部分导向所述室，以形成样品流体。
7.根据权利要求1至6中任意一项所述的探测器，其中所述控制器设置为，当处于清洗模式时停用所述第一吸气装置。
8.根据权利要求1至8中任意一项所述的探测器，其中所述控制器设置为自动进行如此清洗，并且在需要时进行周期性调整。
9.根据权利要求1至9中任意一项所述的探测器是光学探测器。
10.根据权利要求1至9中任意一项所述的探测器是烟雾探测器。
11.根据权利要求1至10中任意一项所述的探测器，其中所述逻辑包括报警阈值。
12.根据权利要求1至11中任意一项所述的探测器，其中所述控制器设置为，使得从探测模式到清洗模式的过渡依赖于所述传感器信号。
13.根据权利要求1至12中任意一项所述的探测器，其中所述逻辑包括从所述传感器信号中减去背景光的测量值，并且调整所述逻辑包括更新所述背景光的测量值。
14.一种操作微粒探测器的方法； 所述微粒探测器包括室，所述室具有至少一个用于接收样品流体的样品入口，至少一个纯净流体入口，用于将纯净流体导入所述室，从而防止由一个或多个部件的灰尘和碎片引起的将降低所述微粒探测器的准确度的污染，以及至少一个流体出口 ；以及一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；所述方法包括，当处于探测模式时 移动样品流体经过所述室； 接收所述传感器信号以探测室中的微粒；以及对所述传感器信号应用逻辑以产生另一信号；并且当处于清洗模式时采用经由纯净流体入口的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去； 当所述室进行了如此清洗，接收所述传感器信号；并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
15.根据权利要求14所述的方法，进一步包括移动流体经过过滤器，以产生所述纯净流体。
16.根据权利要求15所述的方法，其中所述清洗包括启动专用的纯净流体吸气装置， 所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体。
17.一种操作微粒探测器的方法； 所述微粒探测器包括室，所述室包括至少一个用于接收样品流体的样品入口，以及至少一个流体出口 ； 一个或多个传感器，用于探测所述室中的微粒并且提供指示所述室中的微粒的传感器信号；纯净流体供应装置，所述纯净流体供应装置包括过滤器和专用的纯净流体吸气装置， 所述过滤器用于过滤流体，从而产生纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置用于移动所述纯净流体，所述专用的纯净流体吸气装置位于所述过滤器的下游，以避免面对未过滤的流体；所述方法包括，当处于探测模式时 移动样品流体经过所述室； 接收所述传感器信号以探测室中的微粒；以及对指示信号应用逻辑以产生另一信号；并且当处于清洗模式时采用来自纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去； 当所述室进行了如此清洗，接收所述传感器信号；并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
18.根据权利要求15、16或17所述的方法，进一步包括将流体流分为两个或更多部分，将所述部分之一导向所述过滤器，以便过滤形成所述纯净流体，以及将所述部分的另一部分导向所述室，以形成所述样品流体。
19.根据权利要求14至18中任意一项所述的方法，进一步包括如此的清洗，并且在需要时进行周期性调整。
20.根据权利要求14至19中任意一项所述的方法，其中所述清洗依赖于所述传感器信号低于启动清洗阈值。
21.根据权利要求14至20中任意一项所述的方法，其中所述探测器包括第一吸气装置，用于移动样品流体经过所述室；并且所述清洗包括本质上停用所述第一吸气装置。
22.根据权利要求14至21中任意一项所述的方法，其中所述微粒探测器是光学探测ο
23.根据权利要求14至22中任意一项所述的方法，其中所述微粒探测器是烟雾探测ο
24.根据权利要求14至23中任意一项所述的方法，其中所述逻辑包括报警阈值。
25.根据权利要求14至24中任意一项所述的方法，其中所述逻辑包括从指示信号中减去背景光的测量值，并且调整所述逻辑包括更新所述背景光的测量值。
26.根据权利要求1所述的探测器，进一步包括至少一个阀门，用于在探测器处于清洗模式时防止样品流体进入所述室的至少一个样品入口，并且在探测器处于探测模式时允许样品流体进入所述室的至少一个样品入口。
27.根据权利要求26所述的探测器，其中此时所述第一吸气装置还将纯净空气供应进入所述室。
全文摘要
一种微粒探测器(10)，包括室(12)、第一吸气装置(14)、传感器(28)、控制器(20)和纯净空气供应装置(18)。当处于探测模式时，所述控制器接收来自所述传感器的指示信号并且对所述指示信号应用逻辑，以产生另一信号(22)，而当处于清洗模式时，所述控制器采用来自所述纯净流体供应装置的纯净流体，从本质上将样品流体从所述室清洗出去。当所述室进行了如此清洗，所述控制器接收所述传感器信号，并且在需要时，响应于所述传感器信号对所述逻辑进行调整。
文档编号G01N21/53GK102473339SQ201080030761
公开日2012年5月23日 申请日期2010年7月7日 优先权日2009年7月7日
发明者卡尔·波特格, 罗恩·诺克司 申请人:爱克斯崔里斯科技有限公司