专利名称：一种器件时序参数确定方法和装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及嵌入式技术领域，尤其涉及嵌入式系统中一种器件时序参数的确定方法和装置。
背景技术：
随着社会经济的发展和信息产业的推进，嵌入式系统已逐渐渗入各行各业，小到手机、iPad(平板电脑)、机顶盒、智能家居，大到通讯基站、航天卫星、现代化工业控制等， 嵌入式系统在人们的生活和工作中正扮演着越来越不可或缺的角色。嵌入式系统是以应用为中心，以计算机技术为基础，软硬件可剪裁(可编程，可重构)的专用计算机系统。在一个小的嵌入式系统中可能包含有各类硬件存储器件、复杂可编程逻辑器件、特殊应用集成电路和现场可编程门阵列等器件，为了保障嵌入式系统可以稳定运行，一般需要在启动嵌入式系统前，对一些器件的时序参数进行配置或调整。现有技术一般通过查找器件手册和CPU手册，根据手册中的参数建议值对器件的时序参数进行配置。然而实际情况是，即使根据手册的参数建议值对一些器件的时序参数进行了配置，系统可能仍无法稳定运行，例如对于一些时序敏感器件，比如内存，即使满足了手册要求，仍然会出现高低温运行不稳定的情况。而且当系统需要更换部件时，也无法通过手册查到这些器件的时序参数，因此如何在未知器件时序参数的情况下，快速定位器件的最佳时序参数，并对器件进行时序参数配置，是本领域有待解决的技术问题。
发明内容
本发明的目的在于，提供一种器件时序参数确定方法和装置，以解决现有技术无法快速定位器件的最佳时序参数，无法保持系统稳定运行的问题。本发明通过以下方法解决上述技术问题一种器件时序参数确定方法，上述方法包括以下步骤上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块，并对上述器件进行压力测试，测试结束后，判断是否有未被测试过的时序参数；若是，则将下一个时序参数写入上述时序模块中，继续进行压力测试；否则计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为上述器件在上述时序模块的最佳时
序参数。上述方法还包括以下初始化步骤上述上位机获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述器件划分为多个时序模块。上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位宽。上述上位机将上述器件划分为多个时序模块之后，还包括以下步骤记录各时序模块的起始地址和位宽，并为各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行上述压力测试的次数。
在对上述器件进行压力测试之前，上述上位机判断上述器件能否正常运转，若否， 则跳过压力测试的步骤。测试结束后，上述上位机还记录被测试的时序参数及其对应的测试结果。上述压力测试为读写压力测试，上述器件包括内存或闪存。本发明还采用以下技术方案一种器件时序参数确定装置，包括上位机，上述上位机包括参数写入模块，压力测试模块，测试判断模块，参数确定模块；上述参数写入模块，用于将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块；上述压力测试模块，用于对待测器件进行压力测试；上述测试判断模块，用于判断是否有未被测试过的时序参数；上述参数确定模块，用于计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为待测器件在相应时序模块的最佳时序参数。上述装置还包括初始化模块，参数设置模块；上述初始化模块，用于获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述待测器件划分为多个时序模块。上述参数设置模块，用于为待测器件的各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行压力测试的次数。上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位宽。上述压力测试为读写压力测试，上述待测器件包括内存或闪存。同现有技术相比，本发明具有如下有益技术效果本发明可以有效解决器件的时序参数配置问题(包括内存，FLASH)，缩短了嵌入式系统的调试时间，使嵌入式产品在各种环境下都能够稳定运行。本发明具有创新性强，拓展性好，适用性广的特点。
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本发明的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中图1是本发明优选实施例中器件时序参数确定方法的流程图；图2是本发明优选实施例中器件时序参数确定装置的模块框图。
具体实施例方式为了使本发明所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚、明白，以下结合附图和实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。图1是本发明优选实施例中器件时序参数确定方法的流程图。如图1上述，本发明优选实施例的方法包括以下步骤步骤SlOl 上位机获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述器件划分为多个时序模块；当待测器件的时序参数未知时，上位机通过上位机配置软件获取待测器件的寄存器的地址信息，包括寄存器的起始地址及位宽。上述寄存器的位宽可能是8位、16位或32位。根据位宽不同，上位机可以将器件划分为多个时序模块，以满足嵌入式系统的运行需要。例如，可以将8位的寄存器划分成2/3/3,2/4/2等类型的三个时序模块，或划分成 2/2/2/2类型的四个时序模块。步骤S102 记录各时序模块的起始地址和位宽，并为各时序模块分别设置待测试的时序参数及压力测试次数；上位机将上述器件划分为多个时序模块后，可以通过上位机配置软件获取并记录各时序模块的起始地址和位宽等地址信息，从而后续步骤中上位机可以根据各时序模块的地址信息，将预设的待测试时序参数写入各时序模块，分别对各时序模块进行测试，并通过测试判断各时序模块的最佳时序参数。步骤S103 将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块；本发明实施例中，可以对时序参数未知的待测器件的各个时序模块单独进行配置。由于上位机记录了每个时序模块的地址信息，因此上位机可以根据时序模块的地址信息，将待测试的时序参数写入需要配置时序参数的特定时序模块中。步骤S104 判断上述器件能否正常运转，若是则转入步骤S105，否则转入步骤 S106 ；在步骤S104中，上位机首先判断写入待测试的时序参数后，器件是否能正常运转，若是，则进一步对器件进行读写压力测试，只有当器件通过了压力测试，才认为该时序参数是上述器件在上述时序模块的一个可选时序参数之一。步骤S105 根据预设的压力测试次数，对上述器件进行压力测试；其中，步骤S105中的压力测试是指读写压力测试。由于读写压力测试为现有技术，故省略对其的进一步说明。步骤S106 测试结束后，上位机记录上述时序参数对应的测试结果；测试结束后，上位机可以将每个被测试的时序参数、及其对应的测试结果保存起来，或者将测试结果绘制为眼图。眼图的横坐标可以为被测试的时序参数，纵坐标可以为测试结果。其中测试结果包括器件不能正常运转、器件能正常运转但不能通过压力测试、器件能通过压力测试。步骤S107 判断是否有未被测试过的时序参数，若是则转入步骤S103，否则转入步骤S108 ；由于步骤S102中，上位机为各时序模块设置了多个待测试的时序参数，因此当一个待测试的时序参数写入时序模块并测试完毕后，上位机还要判断是否还有未被测试过的时序参数，只有当全部预设的待测试时序参数均被测试过之后，才能选择最佳的时序参数。 选择最佳的时序参数方法如步骤S108。步骤S108 上位机根据本地记录的测试结果，计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为上述器件在上述时序模块的最佳时序参数。图2是本发明优选实施例中器件时序参数确定装置的模块框图。如图2所示，本发明优选实施例的装置包括上位机，上述上位机包括参数写入模块3，压力测试模块4，测试判断模块5，参数确定模块6 ；上述参数写入模块3，用于将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块；上述压力测试模块4，用于对待测器件进行压力测试；
上述测试判断模块5，用于判断是否有未被测试过的时序参数；上述参数确定模块6，用于计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为待测器件在相应时序模块的最佳时序参数。上述装置还包括初始化模块1，参数设置模块2 ；上述初始化模块1，用于获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据上述地址信息将上述待测器件划分为多个时序模块。上述寄存器的地址信息包括上述寄存器的起始地址及位宽。上述参数设置模块2，用于为待测器件的各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行压力测试的次数。上述压力测试为读写压力测试，上述待测器件包括内存或闪存。所述说明示出并描述了本发明的优选实施例，但如前所述，应当理解本发明并非局限于本文所披露的形式，不应看作是对其他实施例的排除，而可用于各种其他组合、修改和环境，并能够在本文所述发明构想范围内，通过所述教导或相关领域的技术或知识进行改动。而本领域人员所进行的改动和变化不脱离本发明的精神和范围，则都应在本发明所附权利要求的保护范围内。
权利要求
1.一种器件时序参数确定方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块，并对所述器件进行压力测试，测试结束后，判断是否有未被测试过的时序参数；若是，则将下一个时序参数写入所述时序模块中，继续进行压力测试；否则计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将所述平均值作为所述器件在所述时序模块的最佳时序参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括以下初始化步骤所述上位机获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据所述地址信息将所述器件划分为多个时序模块。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于所述寄存器的地址信息包括所述寄存器的起始地址及位宽。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于所述上位机将所述器件划分为多个时序模块之后，还包括以下步骤记录各时序模块的起始地址和位宽，并为各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行所述压力测试的次数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于在对所述器件进行压力测试之前，所述上位机判断所述器件能否正常运转，若否，则跳过压力测试的步骤。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于测试结束后，所述上位机还记录被测试的时序参数及其对应的测试结果。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述压力测试为读写压力测试，所述器件包括内存或闪存。
8.一种器件时序参数确定装置，包括上位机，其特征在于，所述上位机包括参数写入模块，压力测试模块，测试判断模块，参数确定模块；所述参数写入模块，用于将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块；所述压力测试模块，用于对待测器件进行压力测试；所述测试判断模块，用于判断是否有未被测试过的时序参数；所述参数确定模块，用于计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将所述平均值作为待测器件在相应时序模块的最佳时序参数。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述装置还包括初始化模块，参数设置模块；所述初始化模块，用于获取待测器件的寄存器的地址信息，并根据所述地址信息将所述待测器件划分为多个时序模块。所述参数设置模块，用于为待测器件的各时序模块分别设置待测试的时序参数及进行压力测试的次数。
10.根据权利要求9所述的装置，其特征在于所述寄存器的地址信息包括所述寄存器的起始地址及位宽。
11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于所述压力测试为读写压力测试，所述待测器件包括内存或闪存。
全文摘要
一种器件时序参数确定方法和装置，上述方法包括以下步骤上位机将待测试的时序参数写入待测器件的一个时序模块，并对上述器件进行压力测试，测试结束后，判断是否有未被测试过的时序参数；若是，则将下一个时序参数写入上述时序模块中，继续进行压力测试，否则计算通过压力测试的时序参数的平均值，并将上述平均值作为上述器件在上述时序模块的最佳时序参数。本发明可以快速确定器件的最佳时序参数，缩短了嵌入式系统的调试时间，使嵌入式产品在各种环境下都能够稳定运行。
文档编号G01R31/28GK102508149SQ20111034591
公开日2012年6月20日 申请日期2011年11月4日 优先权日2011年11月4日
发明者关朕 申请人:中兴通讯股份有限公司