专利名称：用于检测键盘上键帽高低的检测治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测治具，尤其涉及一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具。
背景技术：
目前，检测键盘上键帽高低是采用人工目视检测，而人工目视检测常常受人员动作的随意性和疲劳度等因素的影响而无法有效检验键帽高低所带来的外观质量问题，如果能生产出一款规范化，实用性强，易于操作的键帽高低检测治来代替人工目视检测，就能避免因人员动作的随意性和疲劳度而造成产品的不良无法得到有效检验的情况。
实用新型内容本实用新型的目的是克服现有技术存在的缺陷，提供一种用于检测键盘上键帽高低的，且能有效检验键帽高低所带来的外观质量问题的检测治具，其规范化，实用性强，且易于操作。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，包括用于放置键盘的底板、用于检测键帽是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆和检测键帽是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆，所述上限滑杆和下限滑杆分别滑动连接在底板上，所述上限滑杆与底板之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽通过的间隙，所述下限滑杆与底板之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽通过的间隙。进一步地，所述底板上设置有两条相对且平行的滑轨，所述上限滑杆和下限滑杆上分别设置有与所述滑轨相对应滑动的滑块。进一步地，所述上限滑杆和下限滑杆相对且平行设置。进一步地，所述底板上在两滑轨之间设置有至少一个用于固定键盘的固定件；所述至少一个固定件包括固定杆，该固定杆通过转轴转动连接在底板上。进一步地，所述底板上在两滑轨之间具有有用于放置键盘的凸台。进一步地，所述至少一个固定件设置在凸台的边缘。本实用新型的有益效果本实用新型解决了背景技术中存在的缺陷，在底板上滑动设置上限滑杆和下限滑杆，上限滑杆通过滑动检测是否有高于键帽高度标准范围上限值的键帽，下限滑杆通过滑动检测是否有低于键帽高度标准范围下限值的键帽，采用治具检测规范了员工的检测程序和标准，受外界环境或人为因素影响小，能有效检验出键帽高低所带来的外观质量问题，其实用性强，且易于操作。
以下结合附图和具体实施方式
对本实用新型作进一步详细的说明。
图1是本实用新型的优选实施例的结构示意图；[0013]图2是图1的仰视图的放大图。其中1、底板；11、12、滑轨；13、凸台；2、上限滑杆；21、22、滑块；3、下限滑杆；31、
32、滑块；4、固定件；41、固定杆；42、转轴；5、键盘；51、键帽。
具体实施方式
如图1、图2所示的一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，包括用于放置键盘 5的底板1、用于检测键帽51是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆2和检测键帽 51是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆3。所述底板1上设置有两条相对且平行的滑轨11、12，所述上限滑杆2和下限滑杆3上分别设置有与所述滑轨11、12相对应滑动的滑块21、31、22、32，所述上限滑杆2两端的滑块21、22分别连接在两滑轨11、12上，所述下限滑杆3两端的滑块31、32也分别连接在两滑轨11、12上，且上限滑杆2和下限滑杆3相对且平行设置。所述上限滑杆2与底板1之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽51通过的间隙，所述下限滑杆3与底板1之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽51通过的间隙。优选实施例所述底板1上在两滑轨11、12之间具有用于放置键盘5的凸台13。 所述凸台13的边缘上设置有若干用于固定键盘5的固定件4，该固定件4包括固定杆41， 该固定杆41通过转轴42水平转动连接在凸台13上，只要将固定杆41旋转至键盘5的边缘上就能实现固定键盘5。所述上限滑杆2与凸台13之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽51通过的间隙，所述下限滑杆3与凸台13之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽51通过的间隙。检测步骤及原理(一)将键盘5平放在凸台13上；(二)旋转固定杆41将键盘 5固定住；(三)将上限滑杆2从键盘5的一侧滑向另一侧，如果其中有键帽51高于高度标准范围上限值，上限滑杆2就会受阻而无法继续滑动，从而判定此键帽51不合格；(四)将下限滑杆3从键盘5的一侧滑向另一侧，此步骤中需要操作人员用眼睛观察，如果其中有键帽51低于下限滑杆3那么就不符合标准，从而判定此键帽51不合格。应当理解，以上所描述的具体实施例仅用于解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。由本实用新型的精神所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本实用新型的保护范围之中。
权利要求1.一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于包括用于放置键盘(5)的底板(1)、用于检测键帽(51)是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆(2)和检测键帽(51)是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆(3)，所述上限滑杆(2)和下限滑杆 ⑶分别滑动连接在底板⑴上，所述上限滑杆⑵与底板⑴之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽(51)通过的间隙，所述下限滑杆(3)与底板 (1)之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽(51)通过的间隙。
2.根据权利要求1所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述底板(1)上设置有两条相对且平行的滑轨(11、12)，所述上限滑杆( 和下限滑杆C3)上分别设置有与所述滑轨(11、1幻相对应滑动的滑块01、31、22、32)。
3.根据权利要求2所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述上限滑杆⑵和下限滑杆(3)相对且平行设置。
4.根据权利要求2所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述底板(1)上在两滑轨(11、12)之间设置有至少一个用于固定键盘(5)的固定件0)。
5.根据权利要求4所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述至少一个固定件(4)包括固定杆(41)，该固定杆通过转轴0 转动连接在底板(1)上。
6.根据权利要求4所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述底板(1)上在两滑轨(11、12)之间具有有用于放置键盘(5)的凸台(13)。
7.根据权利要求6所述的用于检测键盘上键帽高低的检测治具，其特征在于所述至少一个固定件(4)设置在凸台(13)的边缘。
专利摘要本实用新型涉及一种用于检测键盘上键帽高低的检测治具，包括用于放置键盘的底板、用于检测键帽是否高于键帽高度标准范围上限值的上限滑杆和检测键帽是否低于键帽高度标准范围下限值的下限滑杆，所述上限滑杆和下限滑杆分别滑动连接在底板上，所述上限滑杆与底板之间留有一高度仅可以让高度小于等于键帽高度标准范围上限值的键帽通过的间隙，所述下限滑杆与底板之间留有一高度正好让高度等于键帽高度标准范围下限值的键帽通过的间隙。本实用新型提供了一种用于检测键盘上键帽高低的，且能有效检验键帽高低所带来的外观质量问题的检测治具，其规范化，实用性强，且易于操作。
文档编号G01B5/02GK202204432SQ201120324968
公开日2012年4月25日 申请日期2011年9月1日 优先权日2011年9月1日
发明者刘庆江, 刘强, 邱建兴 申请人:群光电子(苏州)有限公司