专利名称：一种平面镜反射系数的测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学检测装置，特别是一种平面镜反射系数的测量装置，属于光学技术领域。
背景技术：
平面反射镜在日常生活中有着广泛的使用，同时在光学实验中也是非常重要的光学仪器之一。在精密的光学实验中，平面镜的反射系数可能直接关系到实验最终结果。因此，测量平面镜的反射系数就显得尤为必要。目前，在测量平面镜的反射系数时，主要有绝对测量法和相对测量法两种，其中绝对测量法是相对测量法的基础，为相对测量法提供数据对比，因此绝对测量法中各种测试单元要求都非常严格，设备比较复杂，操作不便。 发明内容本实用新型提供了一种平面镜反射系数的测量装置，利用简单的光路结构，可以精确，方便，有效的测量平面镜的反射系数。本实用新型的采用的技术方案平面镜反射系数的测量装置包括激光器I、支架
2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6 ;将待测平面镜4水平固定在载物台3上，激光器I固定在支架2上，固定位置与待测平面镜4不垂直，光功率测试仪I 5固定在入射光的光路上、光功率测试仪II 6固定在反射光的光路上。所述的光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6固定时要与分别与所测光路垂直。所述的光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6为相同结构元件，激光器I、支架2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6都是市售的普通元件。本实用新型优点及效果可以准确测出平面反射镜的反射系数，同时测量精度高，使用方便，结构简单。
图I为本实用新型结构示意图；图中1-激光器、2-支架、3-载物台、4-待测平面镜、5-光功率测试仪I、6-光功率测试仪II。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。如图I所示平面镜反射系数的测量装置包括激光器I、支架2、载物台3、待测平面镜4、光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6 ;将待测平面镜4水平固定在载物台3上，激光器I固定在支架2上，固定位置与待测平面镜4不垂直，光功率测试仪I 5固定在入射光的光路上、光功率测试仪II 6固定在反射光的光路上；光功率测试仪I 5和光功率测试仪II 6固定时要与分别与所测光路垂直。[0012] 本实用新型装配好以后，打开激光器1，是入射光线通过光功率测试仪I 5，利用光功率测试仪I 5测量入射光的光强Al,然后把光功率测试仪I 5移开,使入射光射向待测平面镜4，在待测平面镜4发生反射以后，反射光通过光功率测试仪II 6，利用光功率测试仪II 6测量反射光的光强A2，根据光功率数据Al和A2，通过计算得到平面镜的反射系数A2/Al。本实用新型是通过具体实施过程进行说明的，在不脱离本实用新型范围的情况下，还可以对实用新型进行各种变换及等同代替，因此，本实用新型不局限于所公开的具体实施过程，而应当包括落入本实用新型权利要求范围内的全部实施方案。
权利要求1.一种平面镜反射系数的测量装置，其特征在于包括激光器(I)、支架(2)、载物台(3)、待测平面镜(4)、光功率测试仪I (5)和光功率测试仪II (6);将待测平面镜(4)水平固定在载物台(3)上，激光器(I)固定在支架(2)上，固定位置与待测平面镜(4)不垂直，光功率测试仪1(5)固定在入射光的光路上、光功率测试仪II (6)固定在反射光的光路上。
2.根据权利要求I所述的所述的一种平面镜反射系数的测量装置，其特征在于所述的光功率测试仪I (5)和光功率测试仪II (6)固定时要与分别与所测光路垂直。
专利摘要本实用新型涉及一种平面镜反射系数的测量装置，属于光学技术领域；测量装置包括激光器、支架、载物台、待测平面镜、光功率测试仪Ⅰ和光功率测试仪Ⅱ；将待测平面镜水平固定在载物台上，激光器固定在支架上，固定位置与待测平面镜不垂直，光功率测试仪Ⅰ固定在入射光的光路上、光功率测试仪Ⅱ固定在反射光的光路上。本实用新型可以准确的测出平面反射镜的反射系数，同时测量精度高，使用方便，结构简单。
文档编号G01M11/02GK202735064SQ20112053542
公开日2013年2月13日 申请日期2011年12月20日 优先权日2011年12月20日
发明者蒋鑫巍, 张永安 申请人:昆明理工大学