一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法
【专利摘要】本发明涉及一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法，首先选取两颗红外标准恒星，对设备辐射响应度进行标校，由于地基观测设备为多元探测器，因此，采用五点多次数据采集方法。其次测量高仰角天空背景，进行单点辐射标校。建立标校源在地基观测设备入瞳处的辐射照度与输出灰度的对应关系（标校方程），求解标校系数，能够在目标测量前、后，给出观测设备标校曲线与实验室定标系数的偏差情况。本发明对试验现场的环境要求低，不需增加额外标定设备，且标校方法简便易于实现。
【专利说明】一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法，特别是涉及一种目标光学特性研究领域的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
【背景技术】
[0002]地面观测设备开展空间目标辐射特性测量时，要准确完成对所研究对象的定量测量与分析，需对设备进行辐射响应度定标，建立探测器输入量(电压、电流、灰度等)与输出量(辐射亮度、辐射通量等)的严格对应关系。数据的测量精度在很大程度上取决于标定精度，因此，定标过程己成为辐射特性测量系统研制、使用中的重要环节之一。
[0003]尽管测量设备在出厂时对其响应度进行了精确的室内检测标定，但在实际使用过程中，环境变化、器件随时间稳定性变化等因素，导致测量设备的响应曲线产生变化，需要开展试验前、后，或阶段性标校测量，用以校准因使用时间、环境变化等因素导致的输出响应偏差。
[0004]经调查研究搜集相关资料:目前国内地基设备辐射定标技术多采用黑体加准直光学系统的方法，该方法能够实现对设备的精确定标，缺点是对试验现场的环境要求高。
[0005]因此亟需提供一种新型的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
【发明内容】
[0006]本发明要解决的技术问题是提供一种不需增加额外标定设备，且标校方法简便易于实现的红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法。
[0007]为解决上述技术问题，本发明一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法，依次包括以下步骤:
[0008]步骤1、在晴空无云的天气条件下，在红外标准星表中选取一颗红外标准星进行测量，使恒星分别成像于探测器的四角和中心，进行η次测量，得到每次测量的成像像元的灰度值DNli ；
[0009]得到设备灰度值DN1;
[0010]
【权利要求】
1.一种红外恒星与天空背景交叉辐射标校方法，依次包括以下步骤: 步骤1、在晴空无云的天气条件下，在红外标准星表中选取一颗红外标准星进行测量，使恒星分别成像于探测器的四角和中心，进行η次测量，得到每次测量的成像像元的灰度值 DNli ； 得到设备灰度值DN1 ；
【文档编号】G01J1/00GK103674237SQ201210361618
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2012年9月25日 优先权日:2012年9月25日
【发明者】李霞, 马勇辉, 朱小芳, 刘兴润, 佟惠原, 朱希娟, 董晓刚 申请人:中国航天科工集团第二研究院二〇七所