一种在编程时对芯片进行测试的方法及测试系统的制作方法
【专利摘要】本发明提出了一种在编程时对芯片进行测试的方法，包括：将芯片与烧写器相连；将第一写入值保存至芯片，第一写入值用于控制芯片的零点输出；对芯片进行第一检测以获得芯片的第一输出数据；向芯片施加磁场并将第二写入值保存至芯片，第二写入值用于控制芯片的额定输出；对芯片进行第二检测以获得芯片的第二输出数据；撤除磁场并根据第一和第二输出数据生成第一和第二检测值以便根据第一和第二检测值判断对芯片的编程是否合格。根据本发明实施例的方法，在芯片编程过程中对芯片进行及时有效的测试，提高芯片的生产良率，能够有效地降低测试成本，提高芯片的生产效率。本发明还提出了一种芯片编程及测试系统。
【专利说明】一种在编程时对芯片进行测试的方法及测试系统
【技术领域】
[0001]本发明涉及芯片测试【技术领域】，特别涉及一种在编程时对芯片进行测试的方法及芯片编程测试系统。
【背景技术】
[0002]目前对编程芯片的测试方法:首先对一批芯片进行编程，用编程好的芯片组装成最终成品，然后进行测试。
[0003]由于芯片的不一致性，造成芯片编程结果不一致，但现有技术中并没有在编程结束后对芯片进行测试，而是在组装成成品后统一测试，一旦测试未通过，需要重新编程，如果编程芯片不具有可重复编程功能，将会产生不良品，不能再使用，降低了产品生产良率。如果编程芯片具有重复编程功能，但由于需要返工重新编程，会增加产品生产工时，降低生产效率。
【发明内容】
[0004]本发明的目的旨在至少解决所述技术缺陷之一。
[0005]为此，本发明的一个目的在于提出一种在芯片编程中对芯片进行测试，提高芯片的生产良率、降低测试成本的在编程时对芯片进行测试的方法。
[0006]本发明的另一目的在于提出一种芯片编程及测试系统。
[0007]为达到所述目的，本发明第一方面的实施例公开了一种在编程时对芯片进行测试的方法，包括以下步骤:将芯片与烧写器相连；将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出；对所述芯片进行第一检测，以获得所述芯片的第一输出数据；向所述芯片施加磁场，并将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出；对所述芯片进行第二检测，以获得所述芯片的第二输出数据；以及撤除所述磁场，并根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值以便根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。
[0008]根据本发明实施例的在编程过程中对芯片进行测试的方法，能够在芯片编程中对芯片进行及时有效的测试，提高芯片的生产良率，并且该测试方法能够有效地降低测试成本，提闻芯片的生广效率。
[0009]本发明第二方面的实施例公开了一种芯片编程及测试系统，包括:烧写器，所述烧写器与芯片相连，用于将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出，并在所述芯片被施加磁场时，将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出；磁场控制器，用于控制向所述芯片施加磁场；数据采集卡，所述数据采集卡与所述芯片相连，用于获得所述芯片在没有被施加磁场且进行第一检测时获得的第一输出数据，以及获得所述芯片在被施加磁场且进行第二检测时获得的第二输出数据；计算器，所述计算器与所述数据采集卡相连，用于分别根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，以及根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。
[0010]根据本发明实施例的芯片编程及测试系统，能够在芯片编程中对芯片进行及时有效的测试，提高芯片的生产良率，并且该测试方法能够有效地降低测试成本，提高芯片的生
产效率。
[0011]本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【专利附图】
【附图说明】
[0012]本发明所述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0013]图1是根据本发明一个实施例的在编程时对芯片进行测试的方法的流程图；
[0014]图2是根据本发明一个实施例的芯片编程及测试系统的结构图；以及
[0015]图3是根据本发明实施例的芯片编程及测试系统的操作界面示意图。
【具体实施方式】
[0016]下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能解释为对本发明的限制。
[0017]在本发明的描述中，需要理解的是，术语“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底” “内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0018]在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是机械连接或电连接，也可以是两个元件内部的连通，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解所述术语的具体含义。
[0019]以下结合附图描述根据本发明实施例的在编程时对芯片进行测试的方法及芯片编程及测试系统。
[0020]图1是根据本发明一个实施例的在编程时对芯片进行测试的方法的流程图。
[0021]如图1所示，根据本发明一个实施例的在编程时对芯片进行测试的方法，包括以下步骤:
[0022]步骤S101，将芯片与烧写器相连。
[0023]步骤S102，将第一写入值保存至芯片，其中，第一写入值用于控制芯片的零点输出，在具体应用中，第一写入值由操作人员设定，即第一写入值根据产品要求设定。在该步骤中，保存指第一写入值不会被烧写至芯片中，而只是保存在芯片的软件中，即第一写入值不会被烧写至芯片中，而只是记录在编程软件中。
[0024]步骤S103，对芯片进行第一检测，以获得芯片的第一输出数据。具体地，第一检测是在没有对芯片施加磁场时进行的，其目的是为了验证芯片在没有磁场情况下输出是否正确，在本发明的一个实施例中，在未施加均匀磁场时，可以用数据米集卡米集芯片的第一输出数据，即无磁场时芯片的输出值。第一输出数据指芯片的零点输出。
[0025]步骤S104，向芯片施加磁场，并将第二写入值保存至芯片，其中，第二写入值用于控制芯片的额定输出。在该步骤中，第二写入值由操作人员设定。进一步地，磁场为均匀磁场，且垂直于芯片的平面方向，具体而言，在垂直于芯片平面方向，施加均匀磁场，该磁场为所加被测量，值的大小由芯片使用环境中磁场的大小要求决定。
[0026]步骤S105，对芯片进行第二检测，以获得芯片的第二输出数据。在施加均匀磁场后进行第二检测，其目的是为了验证芯片在有磁场情况下输出是否正确，同样地，可用数据采集卡采集芯片的第二输出数据，即有磁场时芯片的输出值。第二输出数据指芯片的额定输出。
[0027]步骤S106，撤除磁场，并根据第一输出数据和第二输出数据生成第一检测值和第二检测值以便根据第一检测值和第二检测值判断对芯片的编程是否合格。具体地，在第一检测和第二检测中，通过以下公式计算对芯片的测试结果:
[0028]
【权利要求】
1.一种在编程时对芯片进行测试的方法，其特征在于，包括以下步骤: 将芯片与烧写器相连； 将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出； 对所述芯片进行第一检测，以获得所述芯片的第一输出数据； 向所述芯片施加磁场，并将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出； 对所述芯片进行第二检测，以获得所述芯片的第二输出数据； 撤除所述磁场； 以及根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，并根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在撤除所述磁场之后还包括: 对所述芯片中保存的所述第一写入值进行校验； 当校验正确之后，将所述第一写入值和第二写入值烧写至所述芯片。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁场为均匀磁场，且垂直于所述芯片的平面方向。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述第一检测和第二检测中，通过以下公式计算对所述芯片的测试结果:
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一写入值和第二写入值在测试时由操作人员设定。
6.一种芯片编程及测试系统，其特征在于，包括: 烧写器，所述烧写器与芯片相连，用于将第一写入值保存至所述芯片，其中，所述第一写入值用于控制所述芯片的零点输出，并在所述芯片被施加磁场时，将第二写入值保存至所述芯片，其中，所述第二写入值用于控制所述芯片的额定输出； 磁场控制器，用于控制向所述芯片施加磁场； 数据采集卡，所述数据采集卡与所述芯片相连，用于获得所述芯片在没有被施加磁场且进行第一检测时获得的第一输出数据，以及获得所述芯片在被施加磁场且进行第二检测时获得的第二输出数据； 计算器，所述计算器与所述数据采集卡相连，用于分别根据所述第一输出数据和所述第二输出数据生成第一检测值和第二检测值，以及根据所述第一检测值和第二检测值判断对所述芯片的编程是否合格。
7.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述烧写器还用于在撤除所述磁场之后对所述芯片中保存的所述第一写入值进行校验，并在校验正确之后将所述第一写入值和第二写入值烧写至所述芯片。
8.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述磁场为均匀磁场，且垂直于所述芯片的平面方向。
9.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，在所述第一检测和第二检测中，通过以下公式计算对所述芯片的测试结果:
10.如权利要求6所述的芯片编程及测试系统，其特征在于，所述第一写入值和第二写入值在测试时由操作人员设定。
【文档编号】G01R31/28GK103809102SQ201210438601
【公开日】2014年5月21日 申请日期:2012年11月6日 优先权日:2012年11月6日
【发明者】刘双, 唐新颖 申请人:比亚迪股份有限公司