专利名称：一种检测光纤微弯损耗的装置的制作方法
技术领域：
一种检测光纤微弯损耗的装置技术领域[0001]本实用新型涉及光纤检验领域，具体涉及光纤光学特性中的微弯损耗检测方法。
技术背景[0002]光纤的弯曲损耗可以分为微弯损耗和宏弯损耗，光纤的常规检验都是检验光纤的宏弯损耗，微弯损耗不受人们的重视。随着对光纤技术的不断研究，人们发现微弯损耗对光纤的性能有一定的影响。[0003]所谓微弯损耗就是光纤受到不均匀应力的作用，例如受到侧压力或者套塑光纤受到温度变化时，光纤轴产生微小不规则弯曲，其结果是传导模变换为辐射模而导致光能损耗。微弯是一些随机的、曲率半径可以与光纤的横截面尺寸相比拟的畸变。 纤芯包层接口在几何上的不完善，可能会造成在相应区域上微观的凸起或凹陷。尽管光是在光纤的直分段中传输，光束碰到这些不完善的地方会改变其方向。光束最初以临界传播角传输，经过在这些不完善点处的反射以后，传播角会发生变化，结果就是不再满足全内反射条件，部分光被折射掉，即泄露出纤芯，这就是微弯损耗的机制。 许多厂家都在做关于微弯损耗的研究，也提出了一些厂内的检验方法，但是都存在很大的缺陷实用性不强、准确性差、 重复性比较差。如(I)可膨胀圆桶法在一个圆桶上覆一层砂纸，把光纤绕在上面，然后光纤加热膨胀，看其衰减后曲线。这种方法需要复绕机且对环境的要求比较高，因此成本较高实用性交叉；因为复绕的张力以及复绕设备不同，测试的结果重复性比较差。(2)固定直径圆筒法固定石英鼓法原理和可膨胀圆桶法一样，也存在类似的缺点。(3)金属网格法成本低，便于推广使用。其实验装置如图I所示，包括I公斤重的金属盖板I、金属网格2、橡胶板3、设有定位柱5的基座4，所述金属盖板I、金属网格2和橡胶板3上均设置了与定位柱相配合的定位孔6，所述橡胶板3上还设置了直径为98 mm的标记圆8，该橡胶板上有个用于放置光纤交叉的缺口，由于该缺口的存在标记圆的长度减少了 8 _。检测时，取样品光纤2m,先将光纤接入光功率计,再把光纤在60mm的圆柱上松绕一圈,滤掉高截模,然后把余下的测试光纤用胶带固定在标记圆8上，然后再将金属网格2、盖板I、重物依次放在光纤上，以检测重物对固定在标记圆上的光纤的压迫，所造成的微弯损耗。这种方法的缺陷有 (I)光纤绕成98_的圆时会出现误差，不同的人在绕圈时大小不同形状也可能有差异，且绕圈会增加光纤的扭转使光纤测试数据有偏差，重复性降低，精度也会降低(2)胶带的使用也使光纤的受力不均匀，同时微弯的形成也不准确。(3)橡胶片上使标记圆的长度少8mm的缺口也增加了不确定因素。因此金属网格法也存在重复性、准确性差的缺点。(4)定位柱只有两个，定位准确不高。实用新型内容[0004]本实用新型目的是提供一种检测微弯损耗的装置，该装置操作简单、方便。[0005]本实用新型的另一目的是提供采用该装置检测光纤微弯损耗的方法，该方法操作简单、方便，检测结果准确性高，重复性好。[0006]本实用新型提供一种检测光纤微弯损耗的装置，包括金属盖板、金属网格、橡胶板和设有定位柱的金属基座，所述金属盖板、金属网格和橡胶板上均设置了与定位柱相配合的定位孔，所述橡胶板上还设置了两条间距为20-30mm、长度为145_155mm的标记线，所述金属网格的长度与所述标记线相同。[0007]所述金属基座上的定位柱为4个，所述金属盖板、金属网格和橡胶板上的定位孔分别为4个。[0008]所述金属网格是长方形。[0009]有益效果[0010]本实用新型检测光纤微弯损耗的装置，与现有的检测装置相比，操作简单、方便。 采用本实用新型检测光纤微弯损耗与原金属网格法相比，该方法不需要沿着圆形的标记固定光纤，仅需要将光纤固定在线状的标记上，因此操作简单、准确、方便。胶带不在标记线上的固定光纤，因此，胶带不会造成光纤受力不均匀，也就不会增加不确定因素对测试结果的 影响。
[0011]图I是金属网格法的检测装置，其中I-金属盖板，2-金属网格，3-橡胶板，4-金属基座，5-定位柱,6-定位孔,8-标记圆。[0012]图2是本实用新型微弯损耗的检测装置，其中I-金属盖板，2-金属网格，3-橡胶板，4-金属基座,5-定位柱,6-定位孔,7-标记线。
具体实施方式
[0013]实施例I本实用新型检测光纤微弯损耗的装置的结构[0014]本实用新型检测光纤微弯损耗的装置，包括金属盖板I、金属网格2、橡胶板3和设有定位柱5的金属基座4，所述金属盖板I、金属网格2和橡胶板3上均设置了与定位柱5 相配合的定位孔6，所述橡胶板3上还设置了两条间距为20-30mm、长度为145_155mm的标记线7，所述金属网格2的长度与所述标记线长度相同。[0015]所述金属基座4上的定位柱5为4个，所述金属盖板I、金属网格2和橡胶板3上的定位孔6分别为4个。[0016]所述金属网格2是长方形。[0017]实施例2采用本实用新型装置检测光纤微弯损耗的方法[0018]在检测过程中，除了需要本实用新型检测光纤微弯损耗的装置，还需要一根柱子， 一台光功率计。所述柱子的直径为60-200mm,优选60 mm。[0019]具体方法为将检测光纤微弯损耗的装置放置在柱子与光功率计之间，橡胶板3 固定在金属基座4上，该方法还包括如下步骤[0020](I)将待测光纤的自由端留出40-50cm接入光功率计，再将其后的光纤在不受力的状态下用胶带固定在其中一条标记线7上，然后沿着柱子绕一圈滤掉高阶模，再将绕柱子后的光纤在不受力的状态下用胶带固定在另外一条标记线7上，最后留出另外一段 40-50cm长度的自由端接入光功率计；[0021](2)将金属网格2上的定位孔6套在金属基座4的定位柱5上，覆盖标记线7上的光纤；将金属盖板I上的定位孔6套在金属基座4的定位柱5上，压在金属网格2上，记录此时光功率计显示的数值；[0022](3)在金属盖板I上加上重物，记录此时光功率计上显示的数值；[0023](4)步骤(2)与步骤(3)之间差值即为固定在标记线7上的光纤在步骤(3)所述重物压迫下的微弯损耗。[0024]所述胶带的固定位置橡胶板上的非标记线位置。[0025]与原金属网格法相比，该方法不需要沿着圆形的标记固定光纤，仅需要将光纤固定在线状的标记上，因此操作简单、准确、方便。由于胶带不在标记线上固定光纤，因此，胶带不会造成光纤受力不均匀，也就不会增加不确定因素对测试结果的影响。所以本实用新型检测方法准确性高，重复性好。[0026]实施例3使用本实用新型装置检测与原金属网格法的对比[0027]同一盘光纤取样20个，使用本实用新型装置检测及原金属网格法进行测试，比较两种方法测试数据。在所用光功率计(多单模光纤一般用1310nm光源、单模光纤一般用 1550nm光源)、滤掉高阶膜的方法(在直径为60mm的柱上松绕一圈)、橡胶板(硬度为75)、金属网格(规格70目)、金属盖板重量相同的情况下，仅改变加在金属盖板上重物的重量，所得的测试结果如下表[0028]表I金属盖板上重物重量为2kg时的检测结果
权利要求1.一种检测光纤微弯损耗的装置，包括金属盖板、金属网格、橡胶板和设有定位柱的金属基座，所述金属盖板、金属网格和橡胶板上均设置了与定位柱相配合的定位孔，其特征在于所述橡胶板上还设置了两条间距为20-30mm、长度为145_155mm的标记线，所述金属网格的长度与所述标记线长度相同。
2.根据权利要求I所述检测光纤微弯损耗的装置，其特征在于所述金属基座上的定位柱为4个，所述金属盖板、金属网格和橡胶板上的定位孔分别为4个。
3.根据权利要求I或2所述检测光纤微弯损耗的装置，其特征在于所述金属网格是长方形。
专利摘要本实用新型提供一种检测光纤微弯损耗的装置，涉及光纤检验领域。所述检测光纤微弯损耗的装置，包括金属盖板、金属网格、橡胶板和设有定位柱的金属基座，所述金属盖板、金属网格和橡胶板上均设置了与定位柱相配合的定位孔，所述橡胶板上还设置了两条间距为20-30mm、长度为145-155mm的标记线，所述金属网格的长度与所述标记线相同。本实用新型检测光纤微弯损耗的装置，与现有的检测装置相比，操作简单、方便。
文档编号G01M11/02GK202735067SQ201220291228
公开日2013年2月13日 申请日期2012年6月20日 优先权日2012年6月20日
发明者王小泉, 谢晓红, 赵强 申请人:南京烽火藤仓光通信有限公司