专利名称：带温度计的千分尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及位移测量器具的领域，更具体的说它涉及一种带温度计的千分尺。
背景技术：
目前的千分尺，包括尺架、测砧、测微螺杆、固定套管、微分筒、测力装置、锁紧装置，使用时并不知道千分尺尺架的温度，而且由于使用环境的不断更换，不能保证测量时温度完全相同，从而增大了千分尺的使用误差。
实用新型内容本实用新型的目的是针对现有技术的不足，而提供一种结构简单，易于制造，方便耐用，可在各种不同使用场合中使用的带温度计的千分尺。本实用新型的带温度计的千分尺，包括尺架、测砧、测微螺杆、锁紧装置、固定套管、微分筒、测力装置，所述尺架上安装有温度计。所述温度计安装在尺架的中间位置。本实用新型的有益效果是(1)当使用千分尺时，通过温度计就可知道尺架的温度，保证测量的严格等温，方便好用；(2)结构简单，易于制造，仅需在原有的千分尺上，略加改动，即可生产。
图1是本实用新型的结构示意图。图中尺架1、测砧2、测微螺杆3、锁紧装置4、固定套管5、微分筒6、测力装置7、温度计8。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。在图中，带温度计的千分尺由尺架1、测砧2、测微螺杆3、锁紧装置4、固定套管5、微分筒6、测力装置7和温度计8组成。所述尺架I的中间位置上安装有温度计8。在测量同一批工件，能保证尺架I的温度相同；当在温度高的场合使用千分尺后，转到温度低的场合使用千分尺测量工件时，需等尺架I的温度降到外界环境温度，才能开始测量，从而保证测量的严格等温。
权利要求1.一种带温度计的千分尺，包括尺架(I)、测砧(2)、测微螺杆(3)、锁紧装置(4)、固定套管(5)、微分筒￠)、测力装置(7)，其特征是，所述尺架(I)上安装有温度计(8)。
2.根据权利要求1所述的带温度计的千分尺，其特征是，所述温度计(8)安装在尺架(I)的中间位 置。
专利摘要本实用新型公开了一种带温度计的千分尺，旨在提供一种结构简单，可以通过温度计来减少使用误差的千分尺。它包括尺架、测砧、测微螺杆、锁紧装置、固定套管、微分筒、测力装置，所述尺架上安装有温度计。在测量同一批工件，保证尺架的温度相同；当在温度高的场合使用千分尺后，转到温度低的场合使用千分尺测量工件，需要等待尺架温度降到环境温度，才能开始测量，从而保证测量的严格等温。本实用新型适合在各种使用千分尺的场合中使用。
文档编号G01B3/18GK202915843SQ20122062268
公开日2013年5月1日 申请日期2012年11月22日 优先权日2012年11月22日
发明者李权玺 申请人:李权玺