专利名称：一种绕组变形测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及变压器变形检测技术领域，特别涉及一种绕组变形测试仪。
背景技术：
频率响应分析法(简称“频响法”)，是一种常用检测变压器绕组变形的方法，具有检测灵敏度高、现场使用方便、可在变压器不吊罩的情况下判断变压器绕组变形等优点，已在电力行业广泛应用。基于频响法的绕组变形测试仪已有很多，但都存在体积大、测试精度不高、抗干扰能力一般等缺陷。
发明内容本实用新型克服了现有技术的缺陷，提供了一种绕组变形测试仪，减小设备体积的同时，提高了测试精度及抗干扰能力。本实用新型公开了一种绕组变形测试仪，该测试仪包括控制器，及分别与该控制器相连的DDS、模数转换单元、外部接口和存储单元。进一步，该测试仪还包括可编程增益放大器。进一步，该控制器为FPGA。进一步，该外部接口为网口。本实用新型公开的一种绕组变形测试仪的有益效果在于一是，体积小，由上位机完成处理、分析功能，省去了原有测试仪中的工控机装置，极大地减小了测试仪的体积；二是，适用性广，通过各类外部接口，测试仪可以与不同的具有处理功能外设进行连接通信；三是，测试精度高，抗干扰能力强。
图1为根据本实用新型实施例的一种绕组变形测试仪。图2为根据本实用新型实施例的另一种绕组变形测试仪。
具体实施方式
面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。参见图1，本新型实施例公开了一种绕组变形测试仪101，包括控制器102，及分别与控制器102相连的DDS103、模数转换单元104、外部接口 105和存储单元106。其中，控制器102为逻辑可编程器件，如FPGA或CPLD，负责控制其它部件的动作；DDS103，即DirectDigital Synthesizer,直接数字式频率合成器,用于向被测变压器绕组输出测试频率；模数转换单元104，用于采集被测变压器绕组的响应信号，模数转换后，经控制器102传送至存储单元106暂作存储，待一次采集完成后，由控制器102将存储单元106中的一次采集数据经外部接口 105传输至上位机，由上位机基于频响法分析测试结果，完成变成器绕组变形的分析与判断；外部接口 105，主要用于控制器102与上位机等具有处理功能的外设进行连接，可以为网口、USB 口等。本新型实施例还提供了一种绕组变形测试仪201，与测试仪101不同在于，测试仪201还包括可编程增益放大器(PGA) 202，作为增益调节单元，使得系统的响应速度大大提高，减少了测试时间。本新型绕组变形测试仪101将测试与处理功能相分离，由测试仪101负责测试频率及响应信号的输出与采集，经外部接口 105传输至上位机(或有处理功能的外设)，由上位机等利用频响法，对被测变压器绕组的幅频响应特性进行分析，既提高了速度和精度，又增强了系统的抗干扰性。以上实施方式仅用于说明本实用新型，而并非对本实用新型的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本实用新型的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本实用新型的范畴，本实用新型的专利保护范围应由权利要求限定。
权利要求1.一种绕组变形测试仪，其特征在于，所述测试仪包括控制器，及分别与所述控制器相连的DDS、模数转换单元、外部接口和存储单元。
2.根据权利要求1所述的绕组变形测试仪,其特征在于，所述测试仪还包括可编程增益放大器。
3.根据权利要求1或2所述的绕组变形测试仪，其特征在于，所述控制器为FPGA。
4.根据权利要求1或2所述的绕组变形测试仪，其特征在于，所述外部接口为网口。
专利摘要本实用新型属于变压器绕组变形检测技术领域，涉及一种绕组变形测试仪，包括控制器，及分别与该控制器相连的DDS、模数转换单元、外部接口和存储单元。本新型测试仪具有体积小、检测精度高、抗干扰能力强等优点。
文档编号G01B7/16GK202915884SQ20122062565
公开日2013年5月1日 申请日期2012年11月23日 优先权日2012年11月23日
发明者王开军, 瞿敏, 吕刚, 周男 申请人:北京博电新力电气股份有限公司