专利名称：用于电能表的按键检测电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测电路，特别涉及一种用于电能表的按键检测电路。
背景技术：
目前，现有的用于电能表的按键检测电路包括上拉电阻R1、按键Kl和滤波电容Cl，按键Kl通过上拉电阻Rl连接到电源DVBB后直接接地，上拉电阻Rl不与电源相连的一端串联滤波电容Cl后接地，滤波电容Cl与上拉电阻Rl相连的一端与按键检测信号端KeyDet相连。在电能表性能测试中，一些电磁干扰会影响此按键的动作有效性。按键的可靠性是电能表检测项目之一，如何提高按键检测的可靠性是电能表设计必须考虑的问题。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种高可靠性的用于电能表的按键检测电路。本实用新型提供的这种用于电能表的按键检测电路，包括上拉电阻，按键，滤波电容和下拉电阻，按键通过上拉电阻与电源相连，再通过下拉电阻后接地，电源通过上拉电阻串联滤波电容后接地，滤波电容与上拉电阻相连的一端与按键检测信号端相连。所述按键检测信号端输出的按键检测有效信号为高电平。本实用新型的按键检测有效信号为高电平，出现的低电平干扰信号对其为无效电平信号，从而能够避免干扰对电路有效输出的影响，保证电路不会产生误动作，极大地提高了按键检测的可靠性。
图1是本实用新型的电路图。图2是现有技术的电路图。
具体实施方式
如图1所示，本实用新型包括上拉电阻R1，按键K1，滤波电容Cl和下拉电阻R2，按键Kl通过上拉电阻Rl连接到电源DVBB，再串联下拉电阻R2后接地，滤波电容Cl与上拉电阻Rl相连的一端与按键检测信号端KeyDet相连。按键Kl不动作时，按键检测信号端KeyDet输出高电平；按键Kl按下时，按键检测信号端KeyDet也输出高电平。滤波电容Cl是在电磁干扰环境中高频干扰信号的通道。在性能实验中，由于大面积敷铜，高频电磁干扰信号往往通过对地滤波电容Cl叠加到信号线上，此时信号线上就会出现低电平的干扰信号。如果按键检测有效信号为低电平(如图2所示)，则该干扰信号会触发一个事件，导致系统误动作。而本实用新型电路由于其按键检测有效信号为高电平，在电磁干扰实验中出现的低电平干扰信号为无效电平，从而保证不会产生误动作。为保证信号的有效性，该电路中上拉电阻Rl和下拉电阻R2的取值可根据后及电路的具体情况来选 择(例如后级电路为CMOS电平，或者是TTL电平)。
权利要求1.一种用于电能表的按键检测电路，包括上拉电阻(Rl)，按键(Kl)，滤波电容(Cl)，其特征在于，还包括下拉电阻(R2)，按键(Kl)通过上拉电阻(Rl)与电源(DVBB)相连，再通过下拉电阻(R2)后接地，电源(DVBB)通过上拉电阻(Rl)串联滤波电容(Cl)后接地，滤波电容(Cl)与上拉电阻(Rl)相连的一端与按键检测信号端(KeyDet)相连。
2.根据权利要求1所述的用于电能表的按键检测电路，其特征在于，所述按键检测信号端(KeyDet)输出的按键检测有效信号为高电平。
专利摘要本实用新型公开了一种用于电能表的按键检测电路，包括上拉电阻，按键，电容和下拉电阻，电源通过上拉电阻串联按键，再串联下拉电阻后接地，电源通过上拉电阻串联电容后接地，电容与上拉电阻相连的一端与按键检测信号端相连。本实用新型的按键检测信号端输出的按键检测有效信号为高电平，出现的低电平干扰信号对其为无效电平信号，从而能够避免干扰对电路有效输出的影响，保证电路不会产生误动作，极大地提高了按键检测的可靠性。
文档编号G01R31/327GK202903970SQ20122063851
公开日2013年4月24日 申请日期2012年11月28日 优先权日2012年11月28日
发明者周勇, 陈聪玲, 陈维红, 王建忠 申请人:威胜集团有限公司