表面下沉量量测方法及其量测设备的制作方法
【专利摘要】本发明提供一种表面下沉量量测方法及其量测设备。表面下沉量量测设备，用以量测一装置的一机壳表面的下沉量，包括一支撑架、一光源、一接收器以及一控制单元。支撑架支撑该装置。光源提供一光线，其中，该光源位于一基准平面，该光线沿水平方向行进。接收器接收该光线，其中，该接收器位于该基准平面，当该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值时，该机壳表面与该基准平面发生干涉而阻碍该接收器接收该光线。控制单元耦接该接收器，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面是否存在下沉量超过容许值的情况。本发明能够快速检测表面的下沉量。
【专利说明】表面下沉量量测方法及其量测设备
【技术领域】
[0001]本发明有关于一种表面下沉量量测方法及其量测设备，特别有关于一种应用于快速检测的表面下沉量量测方法及其量测设备。
【背景技术】
[0002]在现有技术中，为了取得装置(例如，伺服器主机)的机壳表面下沉量的数据，一般以厚薄规搭配目测的方式进行量测，或者，以单点式数字电子量表进行量测。
[0003]以厚薄规搭配目测的方式进行量测，其准确性以及量测效率极差，无法有效量化及规范量测方法及准则，且测量结果无法数字化。
[0004]使用单点式数字电子量表测量下沉量，其优点为可以数字化测量结果，但是碍于此方法为单点式测量，若要将整体机壳下表面的下沉量测量完毕，所需时间相对较长。另夕卜，单点式数字电子量表为接触式量测仪器，故量表的接触探头有磨损的使用寿命问题。并且可能刮伤待测物表面。
【发明内容】
[0005]本发明的目的是提供一种表面下沉量量测方法及其量测设备，以解决现有技术存在的问题。
[0006]为实现上述目的，本发明提出一种表面下沉量量测设备，用以量测一装置的一机壳表面的下沉量，包括一支撑架、一光源、一接收器以及一控制单元。支撑架支撑该装置。光源提供一光线，其中，该光源位于一基准平面，该光线沿水平方向行进。接收器接收该光线，其中，该接收器位于该基准平面，当该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值时，该机壳表面与该基准平面发生干涉而阻碍该接收器接收该光线。控制单元耦接该接收器，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面是否存在下沉量超过容许值的情况。
[0007]本发明还提出一种表面下沉量量测方法，用以量测一装置的一机壳表面的下沉量，包括:
[0008]提供一表面下沉量量测设备，该表面下沉量量测设备包括一支撑架、一光源、一接收器以及一控制单元，该支撑架支撑该装置，该光源提供一光线，其中，该光源位于一基准平面，该光线沿水平方向行进，该接收器接收该光线，其中，当该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值时，该机壳表面与该基准平面发生干涉而阻碍该接收器接收该光线，该控制单元耦接该接收器，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面是否存在下沉量超过容许值的情况；以及
[0009]将该光源设于一第一导轨，将该接收器设于一第二导轨，该光源沿该第一导轨于该基准平面上移动，该接收器于该第二导轨上以对应该光源的方式移动，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面的何处存在下沉量超过容许值的情况。[0010]应用本发明实施例的表面下沉量量测设备及所搭配的表面下沉量量测方法，相较于单点式数字电子量表的量测方式，本发明实施例的表面下沉量量测方法可快速的检知机壳表面下沉量，并且设备的损坏率极低。相较于以厚薄规搭配目测的量测方式，本发明实施例的表面下沉量量测方法可具体量化检测结果，并可建立稳定的检测步骤以及准则。因此，相较于现有技术，本发明实施例的表面下沉量量测方法提供了快速的检测速度以及精确且稳定的量测结果。
【专利附图】
【附图说明】
[0011]图1显示以本发明实施例的表面下沉量量测设备，量测一装置的机壳表面下沉量，其中，该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值；
[0012]图2显示以本发明实施例的表面下沉量量测设备，量测一装置的机壳表面下沉量，其中，该装置的该机壳表面的下沉量未超过容许值；
[0013]图3显示以本发明实施例的表面下沉量量测设备的立体图。
[0014]其中，附图标记说明如下:
[0015]I?表面下沉量量测设备
[0016]11?支撑架
[0017]111?支撑部
[0018]12?光源
[0019]121?光线
[0020]13?接收器
[0021]14?第一导轨
[0022]15?第二导轨
[0023]2?装置
[0024]21?机壳表面
[0025]22?凸耳
【具体实施方式】
[0026]参照图1、图2以及图3，其显示本发明实施例的表面下沉量量测设备1，其用以量测一装置2的一机壳表面21 (下表面)的下沉量。表面下沉量量测设备I包括一支撑架11、一光源12、一接收器13以及一控制单元(未图示)。支撑架11支撑该装置2。光源12提供一光线121，其中，该光源12位于一基准平面B，该光线121沿水平方向行进。接收器13接收该光线121，其中，该接收器13同样位于该基准平面B。参照图1，当该装置2的该机壳表面21的下沉量超过容许值时，该机壳表面21与该基准平面B发生干涉而阻碍该接收器13接收该光线121。参照图2，当该装置2的该机壳表面21的下沉量未超过容许值时，该机壳表面21则不会与该基准平面B发生干涉，因而该接收器13接收到该光线121。控制单元耦接该接收器13，该控制单元依据该接收器13是否接收到该光线121的结果，而判断该装置2的该机壳表面21是否存在下沉量超过容许值的情况。如，在图1中，由于该接收器13未接收到光线121，因此可判断该机壳表面21存在下沉量超过容许值的情况；在图2中，由于该接收器13接收到光线121，因此可判断该机壳表面21在此检测位置未存在下沉量超过容许值的情况。
[0027]搭配参照图3，在此实施例中，表面下沉量量测设备I更包括一第一导轨14以及一第二导轨15,该第一导轨14平行于该第二导轨15,该光源12设于该第一导轨14,该接收器13设于该第二导轨15。该光源12沿该第一导轨14于该基准平面B上移动，该接收器13于该第二导轨15上以对应该光源12的方式移动。借此，可以提供单一维度的检测，该控制单元依据该接收器13是否接收到该光线121的结果，而判断该装置2的该机壳表面21在单一维度上的何处存在下沉量超过容许值的情况。
[0028]在此实施例中，该光源12为红外线光源，其亦可以为其他型式的直线光源，例如激光。在一实施例中，该光源12于该第一导轨14上是由步进马达驱动，该接收器13于该第二导轨15上是由步进马达驱动，控制单元耦接步进马达。由于步进马达具备行程编码与回馈功能，因此控制单元可精确控制该光源12及该接收器13的位置，并依此判断该装置2的该机壳表面21在单一维度上的何处存在下沉量超过容许值的情况。
[0029]该装置2包括两个凸耳22，分别形成于该装置2的相反的两侧。该支撑架11包括两个支撑部111，该等支撑部111分别支撑该等凸耳22。在此实施例中，该等支撑部111为L型结构。应用凸耳的设计，可以避免支撑部与光源发生干涉，以确保检测顺利进行。
[0030]在一实施例中，在经过一维检测，取得该装置2的该机壳表面21在单一维度上的下沉量数据之后，可将装置水平旋转90度，再次由该光源12以及该接收器13对该机壳表面21进行另一维度的检测，以取得该机壳表面21整体平面(二维)的机壳表面下沉量数据。
[0031]在取得上述下沉量数据之后，使用者可更依据装置2内的电子元件配置情况，判断是何电子元件造成下沉量超过容许值的问题。例如，若下沉量超过容许值的位置为电源供应器的设置位置，可据此判断电源供应器的重量过重，需要考虑更换电源供应器，或重新调整电源供应器的摆放位置。
[0032]应用本发明实施例的表面下沉量量测设备及所搭配的表面下沉量量测方法，相较于单点式数字电子量表的量测方式，本发明实施例的表面下沉量量测方法可快速的检知机壳表面下沉量，并且设备的损坏率极低。相较于以厚薄规搭配目测的量测方式，本发明实施例的表面下沉量量测方法可具体量化检测结果，并可建立稳定的检测步骤以及准则。因此，相较于现有技术，本发明实施例的表面下沉量量测方法提供了快速的检测速度以及精确且稳定的量测结果。
[0033]本发明实施例的表面下沉量量测设备及所搭配的表面下沉量量测方法，可用于检测电脑主机或伺服器主机等电子设备。在上述的电子设备检测中，机壳表面下沉的情况并不是十分复杂，因此可通过本发明实施例的表面下沉量量测设备及所搭配的表面下沉量量测方法，快速检查下沉量是否存在超过容许值的情况。
[0034]虽然本发明已以具体的较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，任何本领域普通技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，仍可作些许的更动与润饰，因此本发明的保护范围当视所附的权利要求范围所界定者为准。
【权利要求】
1.一种表面下沉量量测设备，用以量测一装置的一机壳表面的下沉量，其特征在于，包括: 一支撑架，支撑该装置； 一光源，提供一光线，其中，该光源位于一基准平面，该光线沿水平方向行进； 一接收器，接收该光线，其中，该接收器位于该基准平面，当该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值时，该机壳表面与该基准平面发生干涉而阻碍该接收器接收该光线；以及一控制单元，耦接该接收器，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面是否存在下沉量超过容许值的情况。
2.如权利要求1所述的表面下沉量量测设备，其还包括一第一导轨以及一第二导轨，该第一导轨平行于该第二导轨，该光源设于该第一导轨，该接收器设于该第二导轨，该光源沿该第一导轨于该基准平面上移动，该接收器于该第二导轨上以对应该光源的方式移动，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面的何处存在下沉量超过容许值的情况。
3.如权利要求2所述的表面下沉量量测设备，其中，该光源为红外线光源。
4.如权利要求2所述的表面下沉量量测设备，其中，该光源于该第一导轨上是由步进马达驱动，该接收器于该第二导轨上是由该步进马达驱动。
5.如权利要求1所述的表面下沉量量测设备，其中，该装置包括两个凸耳，分别形成于该装置的相反的两侧，该支撑架包括两个支撑部，所述两个支撑部分别支撑所述两个凸耳。
6.如权利要求5所述的表面下沉量量测设备，其中，所述两个支撑部为L型结构。
7.一种表面下沉量量测方法，用以量测一装置的一机壳表面的下沉量，其特征在于，包括: 提供一表面下沉量量测设备，该表面下沉量量测设备包括一支撑架、一光源、一接收器以及一控制单元，该支撑架支撑该装置，该光源提供一光线，其中，该光源位于一基准平面，该光线沿水平方向行进，该接收器接收该光线，其中，当该装置的该机壳表面的下沉量超过容许值时，该机壳表面与该基准平面发生干涉而阻碍该接收器接收该光线，该控制单元耦接该接收器，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面是否存在下沉量超过容许值的情况；以及 将该光源设于一第一导轨，将该接收器设于一第二导轨，该光源沿该第一导轨于该基准平面上移动，该接收器于该第二导轨上以对应该光源的方式移动，该控制单元依据该接收器是否接收到该光线的结果，而判断该装置的该机壳表面的何处存在下沉量超过容许值的情况。
8.如权利要求7所述的表面下沉量量测方法，其还包括依据装置的电子元件配置情况，判断是何电子元件造成下沉量超过容许值的问题。
9.如权利要求8所述的表面下沉量量测方法，其还包括将装置水平旋转90度，再次由该光源以及该接收器对该机壳表面进行检测，以取得该机壳表面整体平面的机壳表面下沉量数据。
10.如权利要求7所述的表面下沉量量测方法，其中，该装置包括两个凸耳，分别形成于该装置的相反的两侧，该支撑架包括两个支撑部，所述两个支撑部分别支撑所述两个凸耳，所述两个支撑部为L型结构。
【文档编号】G01B11/02GK103913120SQ201310015835
【公开日】2014年7月9日 申请日期:2013年1月16日 优先权日:2013年1月7日
【发明者】陈冠文, 陈大卫 申请人:纬创资通股份有限公司