键盘测试的制造方法
【专利摘要】本发明公开一种键盘测试机，其用以测试电子装置的键盘。电子装置承载于输送带上。键盘测试机包含机架、三维移动装置、线性编码器、第一驱动模块及按压模块。机架的第一滑轨平行于输送带的输送方向。三维移动装置可滑动地设置于第一滑轨上。线性编码器用以感测输送带的输送速度。第一驱动模块设置于机架上，用以驱动三维移动装置以输送速度沿着第一滑轨移动。按压模块操作性连接三维移动装置。三维移动装置使按压模块按压键盘，并使按压模块沿着按压路径相对键盘移动。
【专利说明】键盘测试机
【技术领域】
[0001] 本发明涉及一种键盘测试机，特别是涉及一种测试笔记型电脑的键盘的键盘测试 机。
【背景技术】
[0002] 在现今资讯化的社会中，键盘几乎是各种电子设备不可或缺的数据输入装置，例 如常见的个人电脑、笔记型电脑、电子计算机、电话机…等，皆以键盘做为控制命令或数据 输入的主要装置。因此，键盘的功能正常与否将影响到输入电子设备的信号，确有必要对键 盘进行测试以判断按键的功能是否正常。
[0003] 目前业界对于键盘按键的测试，一般采用人工或机器来测试。人工测试方式是以 雇用大量劳工逐一按压键盘中每一个按键。然而，采用人工测试方式存在一些缺点：（1)需 要操作人员与测试软体交互配合，在测试软体发出命令之后，等待操作人员按压按键；（2) 测试时间较长且效率低；（3)操作人员按压按键时可能出错，需要多次反复测试；以及（4) 操作人员可能怠工…等等。
【发明内容】
[0004] 为了解决上述现有技术中的问题与缺陷，本发明的目的在于提供一种可自动测试 电子装置的键盘的键盘测试机，用于在减少人工参与的前提下，实现键盘的自动测试，进而 提高测试的准确性及效率。
[0005] 本发明提供一种键盘测试机，其用以测试电子装置的键盘。电子装置承载于输送 带上。键盘测试机包含机架、三维移动装置、线性编码器、第一驱动模块以及按压模块。机 架位于输送带上方，并具有第一滑轨。第一滑轨平行于输送带的输送方向。三维移动装置 可滑动地设置于第一滑轨上。线性编码器毗邻输送带，用以感测输送带的输送速度。第一 驱动模块设置于机架上，并电连接线性编码器，用以驱动三维移动装置以输送速度沿着第 一滑轨相对机架移动。按压模块操作性连接三维移动装置。三维移动装置使按压模块按压 键盘，并使按压模块沿着按压路径相对键盘移动。
[0006] 在本发明的一实施方式中，上述的三维移动装置包含第一滑动座、第二滑动座以 及第二驱动模块。第一滑动座可滑动地设置于第一滑轨上，并具有第二滑轨。第二滑轨平 行于第一滑轨。第二滑动座可滑动地设置于第二滑轨上。第二驱动模块设置于第一滑动座 上，用以驱动第二滑动座沿着第二滑轨相对第一滑动座移动，进而使按压模块沿着输送方 向移动。
[0007] 在本发明的一实施方式中，上述的第二滑动座具有第三滑轨。第三滑轨沿着平行 于输送带并垂直于输送方向的水平方向设置。三维移动装置还包含第三滑动座以及第三驱 动模块。第三滑动座可滑动地设置于第三滑轨上。第三驱动模块设置于第二滑动座上，用以 驱动第三滑动座沿着第三滑轨相对第二滑动座移动，进而使按压模块沿着水平方向移动。
[0008] 在本发明的一实施方式中，上述的第三滑动座具有第四滑轨。第四滑轨沿着垂直 于输送带的铅直方向设置。三维移动装置还包含第四滑动座以及第四驱动模块。第四滑动 座可滑动地设置于第四滑轨上。按压模块固定至第四滑动座。第四驱动模块设置于第三滑 动座上，用以驱动第四滑动座沿着第四滑轨相对第三滑动座移动，进而使按压模块沿着铅 直方向移动。
[0009] 在本发明的一实施方式中，上述的键盘测试机还包含读取器以及处理器。读取器 毗邻输送带，用以读取电子装置上的条码。处理器电连接读取器、第二驱动模块、第三驱动 模块与第四驱动模块，用以根据条码驱动第二驱动模块、第三驱动模块与第四驱动模块。 [0010] 在本发明的一实施方式中，上述的处理器根据条码所对应的机台位移参数驱动第 二驱动模块、第三驱动模块与第四驱动模块，进而使按压模块移动至初始按压位置。
[0011] 在本发明的一实施方式中，上述的键盘测试机还包含光感应器。光感应器峨邻输 送带，并电连接至处理器，用以于电子装置通过时产生遮光信号。处理器根据遮光信号以及 条码驱动第二驱动模块、第三驱动模块与第四驱动模块。
[0012] 在本发明的一实施方式中，上述的处理器根据条码所对应的按压路径参数驱动第 二驱动模块、第三驱动模块与第四驱动模块，进而使按压模块由初始按压位置沿着按压路 径相对键盘移动。
[0013] 在本发明的一实施方式中，上述的按压模块包含第一杆件、导引块、至少一第二杆 件、挡块、按压件以及弹簧。第一杆件的一端连接第四滑动座。导引块连接第一杆件的另一 端。第二杆件穿设至导引块，并平行于第一杆件。挡块连接第二杆件的一端。按压件连接第 二杆件的另一端，用以按压键盘。弹簧套设至第二杆件上，并压缩于导引块与按压件之间。
[0014] 在本发明的一实施方式中，上述的按压件包含胶轮，用以按压键盘。
[0015] 综上所述，本发明的键盘测试机所包含的按压模块，采用三维移动装置驱动按压 模块以滑动按压的方式按压电子装置的键盘，用于达到节省人力的功效。并且，本发明的键 盘测试机可搭配读取器读取电子装置上的条码来辨别电子装置的机型，进而可达到因应不 同机型的电子装置，精准地控制三维移动装置调整按压模块相对于键盘的水平位置与铅直 位置的功效。再者，本发明的键盘测试机还利用线性编码器感测输送带的输送速度，用于使 三维移动装置以相同的速度跟随电子装置移动，进而可使三维移动装置驱动按压模块进行 水平移动的过程简单化。此外，本发明的键盘测试机还设置光感应器以感应输送带上的电 子装置是否通过，用于于电子装置通过光感应器时驱动三维移动装置移动按压模块，用于 达到自动化滑动按压测试键盘的功效。
【专利附图】
【附图说明】
[0016] 图1为本发明一实施方式的键盘测试机的立体图；
[0017] 图2为图1中的键盘测试机的局部立体图；
[0018] 图3为图2中的按压模块的局部正视图；
[0019] 图4为本发明一实施方式的键盘测试机的电路示意图。
[0020] 符号说明
[0021] 1 :键盘测试机 182 :导引块
[0022] 10 :机架 184 :第二杆件
[0023] 100 :第一滑轨 186 :挡块
[0024] 12 :三维移动装置188 :按压件
[0025] 120 :第一滑动座 188a :胶轮
[0026] 120a :第二滑轨 190 :弹簧
[0027] 122 :第二滑动座 20 :读取器
[0028] 122a :第三滑轨 22 :处理器
[0029] 124 :第二驱动模块24 :光感应器
[0030] 126:第三滑动座 3:电子装置
[0031] 126a:第四滑轨 30 :键盘
[0032] 128 :第三驱动模块32 :条码
[0033] 130:第四滑动座 4:输送带
[0034] 132 :第四驱动模块A1 :输送方向
[0035] 14:线性编码器 A2:水平方向
[0036] 16 :第一驱动模块A3 :铅直方向
[0037] 18 :按压模块 P :按压路径
[0038] 180 :第一杆件
【具体实施方式】
[0039] 以下将以附图公开本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节 将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就 是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化附图起见，一 些现有惯用的结构与元件在附图中将以简单示意的方式绘示之。
[0040] 请参照图1、图2以及图3。图1为绘示本发明一实施方式的键盘测试机1的立体 图。图2为绘示图1中的键盘测试机1的局部立体图。图3为绘示图2中的按压模块18 的局部正视图。
[0041] 如图1、图2与图3所示，在本实施方式中，键盘测试机1用以测试电子装置3的 键盘30。电子装置3承载于输送带4上。电子装置3为笔记型电脑，然而本发明并不以此 为限。只要是具有键盘的电子装置（或是单独键盘本身），皆可使用本发明的键盘测试机1 进行按压测试。
[0042] 键盘测试机1包含机架10、三维移动装置12、线性编码器14、第一驱动模块16以 及按压模块18。键盘测试机1的机架10位于输送带4上方，并具有第一滑轨100。机架10 的第一滑轨100平行于输送带4的输送方向A1。键盘测试机1的三维移动装置12可滑动 地设置于机架10的第一滑轨100上。键盘测试机1的线性编码器14毗邻输送带4,用以感 测输送带4的输送速度。键盘测试机1的第一驱动模块16设置于机架10上，并电连接线 性编码器14。由此，第一驱动模块16即可驱动三维移动装置12以输送带4的输送速度沿 着第一滑轨100相对机架10移动。键盘测试机1的按压模块18操作性连接三维移动装置 12。键盘测试机1的三维移动装置12使按压模块18按压电子装置3的键盘30,并使按压 模块18沿着一按压路径P (如图2所示）相对键盘30移动。
[0043] 因此，本发明的键盘测试机1可利用线性编码器14感测输送带4的输送速度，用 于使三维移动装置12以相同的速度跟随电子装置3移动（亦即，三维移动装置12与电子 装置3之间并无相对位移），进而可使三维移动装置12驱动按压模块18进行水平移动的过 程简单化。
[0044] 换句话说，本发明的键盘测试机1使三维移动装置12以同样速度随着电子装置3 移动的作法，即已先解决了三维移动装置12与输送带4之间的位移关系，因此三维移动装 置12驱动按压模块18相对电子装置3的键盘30进行水平移动的位移计算过程即可简单 化。
[0045] 在本实施方式中，键盘测试机1的三维移动装置12使按压模块18相对键盘30移 动的按压路径P，由键盘30的右下角的最右键向左方依序按压键盘30为第一行，再向上一 排由最左键向右依序按压键盘30为第二行，再向上一排由最右键向左依序按压键盘30为 第三行，再向上一排由最左键向右依序按压键盘30为第四行，再向上一排由最右键向左依 序按压键盘30为第五行，最后再向上一排由最左键向右依序按压键盘30为第六行（如图 2所示），用于将键盘30上的所有按键都按压过一遍。
[0046] 然而，本发明并不以此为限。在实际应用中，键盘测试机1的三维移动装置12使 按压模块18相对键盘30移动的按压路径P，可依据实际需求或机构限制（例如，机台的规 格要求）而弹性地调整。
[0047] 以下进一步说明键盘测试机1的三维移动装置12如何使按压模块18移动并滑动 按压电子装置3的键盘30的一实施方式。
[0048] 如图1所不，在本实施方式中，键盘测试机1的三维移动装置12包含第一滑动座 120、第二滑动座122以及第二驱动模块124。三维移动装置12的第一滑动座120可滑动 地设置于机架10的第一滑轨1〇〇上，并具有第二滑轨120a。第一滑动座120的第二滑轨 120a平行于机架10的第一滑轨100。三维移动装置12的第二滑动座122可滑动地设置于 第一滑动座120的第二滑轨120a上。三维移动装置12的第二驱动模块124设置于第一滑 动座120上，用以驱动第二滑动座122沿着第二滑轨120a相对第一滑动座120移动，进而 可达到使按压模块18沿着输送方向A1移动的目的。
[0049] 在本实施方式中，三维移动装置12的第二滑动座122具有第三滑轨122a。第二滑 动座122的第三滑轨122a沿着平行于输送带4并垂直于输送方向A1的水平方向A2设置。 三维移动装置12还包含第三滑动座126以及第三驱动模块128。三维移动装置12的第三 滑动座126可滑动地设置于第二滑动座122的第三滑轨122a上。三维移动装置12的第三 驱动模块128设置于第二滑动座122上，用以驱动第三滑动座126沿着第三滑轨122a相对 第二滑动座122移动，进而可达到使按压模块18沿着水平方向A2移动的目的。
[0050] 在本实施方式中，三维移动装置12的第三滑动座126具有第四滑轨126a。第三滑 动座126的第四滑轨126a沿着垂直于输送带4 (亦即，垂直于输送方向A1与水平方向A2) 的铅直方向A3设置。三维移动装置12还包含第四滑动座130以及第四驱动模块132。三 维移动装置12的第四滑动座130可滑动地设置于第三滑动座126的第四滑轨126a上。按 压模块18固定至三维移动装置12的第四滑动座130。三维移动装置12的第四驱动模块 132设置于第三滑动座126上，用以驱动第四滑动座130沿着第四滑轨126a相对第三滑动 座126移动，进而达到使按压模块18沿着铅直方向A3移动的目的。
[0051] 由此，本发明的键盘测试机1即可利用上述实施方式所公开的三维移动装置12， 达到调整按压模块18相对于键盘30的水平位置与铅直位置的功效。
[0052] 然而，本发明并不以此为限。在实际应用中，第一滑动座120上的第二滑轨120a 的设置方向、第二滑动座122上的第三滑轨122a的设置方向，以及第三滑动作上的第四滑 轨126a的设置方向并不须两两相互垂直，可依据其他三维座标系统而设定。
[0053] 在一实施方式中，键盘测试机1的第一驱动模块16以及三维移动装置12的第二 驱动模块124、第三驱动模块128与第四驱动模块132,皆可由线性滑轨或螺杆与螺块的组 合搭配等类似机构所构成。
[0054] 再回到图2与图3,在本实施方式中，键盘测试机1的按压模块18包含第一杆件 180、导引块182、两第二杆件184、挡块186、按压件188以及两弹簧190。按压模块18的第 一杆件180的一端连接三维移动装置12的第四滑动座130。按压模块18的导引块182连 接第一杆件180的另一端。按压模块18的第二杆件184穿设至导引块182,并平行于第一 杆件180。按压模块18的导引块182用以导引第二杆件184线性地滑动。按压模块18的 挡块186连接第二杆件184的一端。按压模块18的按压件188连接第二杆件184的另一 端，用以按压电子装置3的键盘30。按压模块18的弹簧190分别套设至第二杆件184上， 并压缩于导引块182与按压件188之间。
[0055] 由于按压模块18的挡块186、第二杆件184与按压件188三者相互固定，且第二 杆件184又受导引块182的导引，因此在按压模块18的按压件188按压电子装置3的键盘 30的过程中，按压模块18的挡块186、第二杆件184与按压件188三者一起相对导引块182 线性移动，而压缩于导引块182与按压件188之间的弹簧190则提供缓冲按压模块18的按 压力道以及键盘30的反作用力的作用。
[0056] 为了进一步缓冲按压模块18与电子装置3的键盘30之间的冲击力道，在本实施 方式中，按压模块18的按压件188包含萧氏硬度约为60度的胶轮188a，用以按压键盘30， 但本发明并不以此为限。
[0057] 在本实施方式中，按压模块18的第二杆件184的数量为2,但本发明并不以此为 限，可依据实际需求或限制而弹性地调整。
[0058] 图4为绘示本发明一实施方式的键盘测试机1的电路示意图。
[0059] 如图4所示，并配合参照图1，在本实施方式中，键盘测试机1还包含处理器22。键 盘测试机1的处理器22电连接至线性编码器14与第一驱动模块16,用于根据线性编码器 14所感测的输送速度使三维移动装置12跟随电子装置3 -起移动。
[0060] 此外，键盘测试机1还包含读取器20。键盘测试机1的读取器20毗邻输送带4， 用以读取电子装置3上的条码32。键盘测试机1的处理器22电连接至读取器20以及三 维移动装置12的第二驱动模块124、第三驱动模块128与第四驱动模块132,用以根据条码 32驱动第二驱动模块124、第三驱动模块128与第四驱动模块132。
[0061] 在一实施方式中，键盘测试机1的处理器22设置于一工业电脑（图未示）中，且 工业电脑还包含数据库（图未示），用以记录不同机型的电子装置3所对应的机台位移参数 (包含水平位移参数以及铅直位移参数）。由此，当读取器20读取到电子装置3上的条码 32时，工业电脑即根据条码32辨识出电子装置3的机型，并以处理器22根据电子装置3所 对应的机台位移参数分别驱动第二驱动模块124、第三驱动模块128与第四驱动模块132， 进而使按压模块18精准地移动至电子装置3的键盘30正上方的一初始位置以等待按压测 试的程序启动。
[0062] 由此可知，本发明的键盘测试机1可搭配读取器20读取电子装置3上的条码32 来辨别电子装置3的机型，进而可达到因应不同机型的电子装置3,精准地控制三维移动装 置12调整按压模块18相对于键盘30的水平位置与铅直位置的功效。
[0063] 同样示于图1与图4,在本实施方式中，键盘测试机1还包含光感应器24。键盘测 试机1的光感应器24毗邻输送带4,并电连接至处理器22,用以于电子装置3通过时产生 遮光信号。键盘测试机1的处理器22可进一步根据光感应器24所产生的遮光信号以及条 码32驱动第二驱动模块124、第三驱动模块128与第四驱动模块132。
[0064] 在一实施方式中，工业电脑的数据库还记录不同机型的电子装置3所对应的按压 路径参数。由此，当光感应器24于电子装置3通过而产生遮光信号时，工业电脑立即以处 理器22根据电子装置3所对应的按压路径参数分别驱动第二驱动模块124、第三驱动模块 128与第四驱动模块132,进而使按压模块18由初始按压位置沿着按压路径P相对电子装 置3的键盘30移动，用于达到自动化滑动按压测试键盘30的功效。
[0065] 由以上对于本发明的具体实施例的详述，可以明显地看出，本发明的键盘测试机 所包含的按压模块，采用三维移动装置驱动按压模块以滑动按压的方式按压电子装置的键 盘，用于达到节省人力的功效。并且，本发明的键盘测试机可搭配读取器读取电子装置上的 条码来辨别电子装置的机型，进而可达到因应不同机型的电子装置，精准地控制三维移动 装置调整按压模块相对于键盘的水平位置与铅直位置的功效。再者，本发明的键盘测试机 还利用线性编码器感测输送带的输送速度，用于使三维移动装置以相同的速度跟随电子装 置移动，进而可使三维移动装置驱动按压模块进行水平移动的过程简单化。此外，本发明的 键盘测试机还设置光感应器以感应输送带上的电子装置是否通过，用于于电子装置通过光 感应器时驱动三维移动装置移动按压模块，用于达到自动化滑动按压测试键盘的功效。 [〇〇66] 虽然已结合以上实施方式公开了本发明，然而其并非用以限定本发明，任何熟悉 此技术者，在不脱离本发明的精神和范围内，可作各种的更动与润饰，因此本发明的保护范 围应以附上的权利要求所界定的为准。
【权利要求】
1. 一种键盘测试机，其用以测试一电子装置的一键盘，该电子装置承载于一输送带上， 该键盘测试机包含： 机架，位于该输送带上方，并具有第一滑轨，其中该第一滑轨平行于该输送带的一输送 方向； 三维移动装置，可滑动地设置于该第一滑轨上； 线性编码器，Btt邻该输送带，用以感测该输送带的一输送速度； 第一驱动模块，设置于该机架上，并电连接该线性编码器，用以驱动该三维移动装置以 该输送速度沿着该第一滑轨相对该机架移动；以及 按压模块，操作性连接该三维移动装置，其中该三维移动装置使该按压模块按压该键 盘，并使该按压模块沿着一按压路径相对该键盘移动。
2. 根据权利要求1的键盘测试机，其中该三维移动装置包含： 第一滑动座，可滑动地设置于该第一滑轨上，并具有一第二滑轨，其中该第二滑轨平行 于该第一滑轨； 第二滑动座，可滑动地设置于该第二滑轨上；以及 第二驱动模块，设置于该第一滑动座上，用以驱动该第二滑动座沿着该第二滑轨相对 该第一滑动座移动，进而使该按压模块沿着该输送方向移动。
3. 根据权利要求2的键盘测试机，其中该第二滑动座具有一第三滑轨，沿着平行于该 输送带并垂直于该输送方向的一水平方向设置，该三维移动装置还包含： 第三滑动座，可滑动地设置于该第三滑轨上；以及 第三驱动模块，设置于该第二滑动座上，用以驱动该第三滑动座沿着该第三滑轨相对 该第二滑动座移动，进而使该按压模块沿着该水平方向移动。
4. 根据权利要求3的键盘测试机，其中该第三滑动座具有一第四滑轨，沿着垂直于该 输送带的一铅直方向设置，该三维移动装置还包含： 第四滑动座，可滑动地设置于该第四滑轨上，其中该按压模块固定至该第四滑动座；以 及 第四驱动模块，设置于该第三滑动座上，用以驱动该第四滑动座沿着该第四滑轨相对 该第三滑动座移动，进而使该按压模块沿着该铅直方向移动。
5. 根据权利要求4的键盘测试机，还包含： 读取器，Btt邻该输送带，用以读取该电子装置上的一条码；以及 处理器，电连接该读取器、该第二驱动模块、该第三驱动模块与该第四驱动模块，用以 根据该条码驱动该第二驱动模块、该第三驱动模块与该第四驱动模块。
6. 根据权利要求5的键盘测试机，其中该处理器根据该条码所对应的一机台位移参数 驱动该第二驱动模块、该第三驱动模块与该第四驱动模块，进而使该按压模块移动至一初 始按压位置。
7. 根据权利要求6的键盘测试机，还包含： 光感应器，Btt邻该输送带，并电连接至该处理器，用以于该电子装置通过时产生一遮光 信号，其中该处理器根据该遮光信号以及该条码驱动该第二驱动模块、该第三驱动模块与 该第四驱动模块。
8. 根据权利要求7的键盘测试机，其中该处理器根据该条码所对应的一按压路径参数 驱动该第二驱动模块、该第三驱动模块与该第四驱动模块，进而使该按压模块由该初始按 压位置沿着该按压路径相对该键盘移动。
9. 根据权利要求1的键盘测试机，其中该按压模块包含： 第一杆件，其一端连接该第四滑动座； 导引块，连接该第一杆件的另一端； 至少一第二杆件，穿设至该导引块，并平行于该第一杆件； 挡块，连接该第二杆件的一端； 按压件，连接该第二杆件的另一端，用以按压该键盘；以及 弹簧，套设至该第二杆件上，并压缩于该导引块与该按压件之间。
10. 根据权利要求9的键盘测试机，其中该按压件包含一胶轮，用以按压该键盘。
【文档编号】G01R31/327GK104101830SQ201310159561
【公开日】2014年10月15日 申请日期:2013年5月3日 优先权日:2013年4月15日
【发明者】朱龙江, 王宏伟, 赖进顺 申请人:广达电脑股份有限公司