可测量色彩情感的分光光度计的制作方法
【专利摘要】本发明通过基于双光路结构的分光光度计，采用d/8测量几何条件，测量得到测试样本的光谱反射比，之后计算得到在某一照明体和标准观察者条件下的对应的CIEXYZ值和CIE?L*、a*、b*、C*、h值，最后计算相应的色彩情感值，包括色样的冷暖值、轻重值、消极积极值和硬软值。该发明简单可靠、应用方便、具有很高的实用价值。
【专利说明】可测量色彩情感的分光光度计
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种光谱测量的光学仪器，具体是涉及一种可测量色彩情感的分光光度计。
【背景技术】
[0002]在色彩相关的工业领域，包括纺织领域、油漆领域、塑料领域和油墨领域等，分光光度计是广泛用于工业界和学术界的测量样本光谱的光学仪器。
[0003]经调查研究表明，目前市面上常见的分光光度计只能对样品的光谱进行测量，进而计算出样本的CIELAB值。虽然CIELAB值对于样品的品质管理等方面具有重要的意义；但其很难用于产品设计等方面。普通消费者和设计师交流的过程中用的更多的是色彩的冷暖、色彩的轻重、色彩的硬软等情感相关的属性。然而目前还没有一种分光光度计可以测量计算得到色样的色彩情感属性。因此，设计生产一种可测量色彩情感的分光光度计是具有十分重要的实用价值。
【发明内容】
[0004]本发明为了解决【背景技术】中所述的问题，公开了一种可测量色彩情感的分光光度计。本发明采用如下的技术方案:
[0005]该分光光度计采用双光路的结构，其中有一路为参考光路，一路为测量光路。测量几何条件为d / 8，即散射光照明，8°方向上接收测试样本的反射光。光源发出的光入射到积分球(内表面为高反射率的涂层，如硫酸钡等)内，形成散射光照明，参考光路是经积分球某一特定区域的内表面反射之后，经反射镜、透镜和光栅到达光电探测阵列，形成参考光路光电信号；测量光路是经测试样本反射的偏离中轴8°的反射光，也经相应的透镜和光栅到达光电探测阵列，形成测量光路光电信号；微电子处理单元对于接收到的参考光路和测量光路的光电信号进行处理，计算得到测试样品的光谱反射比R，其波长范围为400-700nm以IOnm为间隔，共31个数据；
[0006]测量得到的光谱反射比R进一步计算对应的情感相关值，其计算方法如下:
[0007]首先，计算CIEXYZ值,计算公式如下:
【权利要求】
1.一种可测量色彩情感的分光光度计，其特征在于该分光光度计采用双光路的结构，其中有一路为参考光路(5)，一路为测量光路(9)。测量几何条件为d / 8，即散射光照明，8°方向上接收测试样本(I)的反射光。照明光源(2)发出的光入射到内表面涂有高反涂层的积分球(3)内，形成散射光照明，参考光路(5)是经积分球(3)某一特定区域的内表面反射之后，经反射镜(4)、透镜(6)和光栅(7)到达光电探测阵列(8)，形成参考光路光电信号；测量光路(9)是经测试样本(1)反射的偏离中轴8°的反射光，也经相应的透镜(10)和光栅(11)到达光电探测阵列(12)，形成测量光路光电信号；微电子处理单元(13)对于接收到的参考光路和测量光路的光电信号进行处理，计算得到测试样品的光谱反射比R，其波长范围为400-700nm以IOnm为间隔，共31个数据；最后将所测量得到的数据传给计算机(14)，进行进一步的数据处理。
2.—种可测量色彩情感的分光光度计，其特征在于对于测得的光谱反射比R进一步计算对应的情感相关值，其计算方法如下: 首先，计算CIEXYZ值，计算公式如下:
【文档编号】G01N21/31GK103575673SQ201310445341
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年9月24日 优先权日:2013年9月24日
【发明者】岑夏凤 申请人:岑夏凤