光谱分析系统的制作方法
【专利摘要】本发明公开了一种光谱分析系统，包括：切尼-特纳光路结构；光电倍增管阵列，光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中各组光纤的第一端收集不同波长单色光，N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器；高压电源；和温度控制模块，温度控制模块与光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。该系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。
【专利说明】光谱分析系统
【技术领域】
[0001]本发明属于分析仪器领域，具体涉及一种光谱分析系统。
【背景技术】
[0002]光谱仪是通用的光谱分析仪器，在等离子体物理、原子分子物理等研究领域有着广泛的运用。以低温等离子体物理研究为例，要了解等离子体中各种粒子的行为规律，最基本的方法是通过测量各种粒子的发射谱线。低温等离子体的发射光谱包含许多的原子分子谱线，并且分布在从紫外到红外的很宽的波长范围内。同时，对于非恒定状态的等离子体，其发射光谱是随时间变化的，并且可能是非周期性不重复的。为了解等离子体中复杂的物理化学过程，通常需要采集除了主要的强谱线外的许多微弱谱线。因此，光谱测量的难度很大，要求满足以下要求:第一，可以在同一时刻测量不同波长处的谱线强度；第二，系统的灵敏度和信噪比足够高以测量微弱谱线；第三，检测器具有快速的时间响应能力和数据采集能力，以便在短时间内完成大量快速变化的光谱信号的采集。
[0003]目前广泛使用的光谱仪主要为切尼-特纳结构，主要包括:入口狭缝、准直反射镜、衍射光栅、聚焦反射镜、出口狭缝(可选)和检测器。常用的检测器主要有光电倍增管和CCD相机。光电倍增管通常需要配合出口狭缝使用，每个时刻只采集某个波长的光信号，因此是单通道检测器。光电倍增管的优点是高灵敏度和快速时间响应，特别是当其工作在光子计数模式时，其灵敏度是现有所有光学检测器中最高的，可对进入其窗口的光子进行单光子纳秒量级的时间分辨测量。同时，其缺点是作为单通道检测器使用时需要通过转动光栅扫描波长，对于大波长范围内的光谱信号测量需要时间长，效率低。相比较而言，CCD相机具有二维面阵，不需要出口狭缝，可同时采集不同波长处的光信号，因此测量稳定光信号所需的数据采集时间较短。相比光电倍增管，普通的CCD相机的灵敏度和时间分辨能力较差。因此，当需要测量随时间变化的微弱光谱信号时，通常使用增强型CCD相机。增强型CCD相机通过增加电子倍增段以提高灵敏度，同时以电信号控制电子倍增段的开关可以实现纳秒级别的曝光时间。受光阴极材料和荧光板发光效率等因素的限制，增强型CCD相机的检测效率低于光电倍增管。同时，虽然增强型CCD相机的曝光时间可以达到纳秒级，但受信号累加、CCD电荷转移速度和模数转换速度等因素的限制无法连续采集信号，必须多个周期累加信号，因此采集效率较低并且要求光信号必须是周期性重复的，无法用于瞬态不重复光信号的测量。
【发明内容】
[0004]本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
[0005]为此，本发明的目的在于提出一种光谱分析系统。
[0006]为了实现上述目的，根据本发明实施例的光谱分析系统，包括:切尼-特纳光路结构，所述切尼-特纳光路结构用于将光源的光谱分光为不同波长单色光后平行地输出；光电倍增管阵列，所述光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数；光纤阵列，所述光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在所述切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中所述各组光纤的第一端收集不同波长单色光，所述N组光纤的第二端与所述N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管；多通道时间门控计数器，所述多通道时间门控计数器与所述多个光电倍增管分别电性连接；高压电源，所述高压电源与所述光电倍增管阵列电性连接；和温度控制模块，所述温度控制模块与所述光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将所述光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。
[0007]根据本发明实施例的光谱分析系统，利用光电倍增管阵列作为光谱仪的检测器，利用光纤阵列将光谱仪焦平面上不同波长的光谱信号传输到不同的光电倍增管，光电倍增管阵列的脉冲输出信号由多通道门控计数器进行计数，从而使得该系统具有单光子级别的高灵敏度和纳秒量级的时间分辨能力。同时，本发明利用光纤阵列传输光谱信号，减少了电磁干扰和X射线的影响。同时，由温度控制模块进行对光电倍增管阵列进行制冷和温度控制，有利于降低本底信号，提高信噪比，实现稳定工作，提高分析结果的准确性。相比现有的使用单个光电倍增管或CCD相机的光谱仪系统，本发明的光谱分析系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。
[0008]另外，根据本发明实施例的光谱分析系统还可以具有如下附加技术特征:
[0009]在本发明的一个实施例中，所述切尼-特纳光路结构具体包括:入射狭缝、准直反射镜、衍射光栅和聚焦反射镜，其中，光源发出的连续光谱经过所述入射狭缝到照射到所述准直反射镜上，然后经过所述准直反射镜反射形成平行光，所述平行光经过所述衍射光栅衍射后，通过所述聚焦反射镜使不同波长的单色光聚焦到同一焦平面上的不同位置。
[0010]在本发明的一个实施例中，各组光纤中包括的光纤数目相同。
[0011]在本发明的一个实施例中，所述光电倍增管工作于光子计数模式，所述多通道门控计数器对所述N个光电倍增管同时进行光子计数。
[0012]在本发明的一个实施例中,所述光纤为多模光纤。
[0013]在本发明的一个实施例中，通过已知原子气体放电灯标定可以确定每个光电倍增管所采集的光信号的波长。
[0014]在本发明的一个实施例中，当需要采集指定波长的谱线时，通过调节光纤阵列在第一端的每列光纤间距以改变每个光电倍增管对应的波长。
[0015]本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
【专利附图】
【附图说明】
[0016]本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中:
[0017]图1是本发明实施例的光谱分析系统的结构示意图；
[0018]图2为图1的光谱分析系统的光纤阵列第一端、光纤阵列第二端和光电倍增管阵列的截面图；和
[0019]图3是切尼-特纳光路结构的结构示意图。【具体实施方式】
[0020]下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
[0021]本发明旨在提出一种在同一时刻得到一定波长范围内不同波长处的光谱信号强度，具有单光子级别的高灵敏度和纳秒级别的时间分辨能力，并且可以连续采集信号的光谱分析系统。
[0022]根据本发明实施例的光谱分析系统，如图1和图2所示，可以包括:切尼-特纳光路结构10、光电倍增管阵列20、光纤阵列30、多通道时间门控计数器40、高压电源50和温度控制模块60。切尼-特纳光路结构10用于将光源的光谱分光为不同波长单色光后平行地输出。光电倍增管阵列20包括N个光电倍增管，N为正整数。光纤阵列30包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构10的聚焦平面上。其中各组光纤收集不同波长的单色光。N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管。多通道时间门控计数器40与多个光电倍增管分别电性连接。高压电源50与光电倍增管阵列20电性连接。光电倍增管阵列20工作所需的直流高压供电由高稳定高压电源50提供。温度控制模块60与光电倍增管阵列20相连，该温度控制模块60用于在进行光谱测量时维持光电倍增管阵列处于低温环境。
[0023]需要说明的是尽管图1和图2中示出了 N=4的情况，但此处仅是出于示例的方便而非本发明的限制。实际工作时应根据需要增加光电倍增管数目和光纤阵列列数。例如，光纤阵列采用100列直径为200微米的光纤，则光纤阵列在水平方向下的最小长度为20毫米，与通常使用的CCD相机的像素面阵尺寸相当，即可以采集和CCD相机类似波长范围内的100个波长点的光谱信号。此时，相对应的光电倍增管阵列由100个光电倍增管组成。
[0024]该光谱分析系统的工作过程为:在靠近切尼-特纳光路10的出光的焦平面上的一端，光纤阵列30中的光纤排列成二维方形阵列，与入射狭缝平行方向上的每列光纤收集同一波长的光谱信号。每列光纤在连接光电倍增管阵列20的一端汇成一束，将不同波长的光谱信号传导至不同的光电倍增管，由多个光电倍增管的信号可以同时得到一定光谱范围内的光谱信息。
[0025]上述实施例的光谱分析系统利用光电倍增管阵列作为光谱仪的检测器，利用光纤阵列将光谱仪焦平面上不同波长的光谱信号传输到不同的光电倍增管，光电倍增管阵列的脉冲输出信号由多通道门控计数器进行计数，从而使得该系统具有单光子级别的高灵敏度和纳秒量级的时间分辨能力。同时，本发明利用光纤阵列传输光谱信号，减少了电磁干扰和X射线的影响。同时，由温度控制模块对光电倍增管阵列进行制冷和温度控制，有利于降低本底信号，提高信噪比，实现稳定工作，提高分析结果准确性。相比现有的使用单个光电倍增管或CCD相机的光谱仪系统，本发明的光谱分析系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力，可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。
[0026]在本发明的一个实施例中，如图3所示，切尼-特纳光路结构10具体可以包括:入射狭缝11、准直反射镜12、衍射光栅13和聚焦反射镜14。光源发出的连续光谱经过入射狭缝11到照射到准直反射镜12上，然后经过准直反射镜12反射形成平行光，该平行光经过衍射光栅13衍射后，最后通过聚焦反射镜14使不同波长的单色光聚焦到同一焦平面上的不同位置。
[0027]在本发明的一个实施例中，各组光纤中包括的光纤数目相同。需要说明的是，当各组光纤中的数目不同时，也可以通过对多通道门控计数器的计数结果加乘以一个修正系数以得到正确的光谱分析结果。但是优选采用各组光纤数目相同的方案。
[0028]在本发明的一个实施例中，光电倍增管工作于光子计数模式，多通道门控计数器40对N个光电倍增管同时进行光子计数。具体地，每个光电倍增管的脉冲输出信号由多通道门控计数器40的一个通道进行计数。本发明采用光电倍增管作为检测器，具有目前已有的所有光信号检测器中最优的灵敏度和较佳的时间分辨能力，可连续采集信号。当需要采集周期性变化的光谱信号时，只需为多通道门控计数器提供一个周期同步信号即可。当光信号为瞬态不重复信号时，需要为多通道门控计数器提供一个略早于光信号的触发信号并设置合适的时间门宽和采集序列长度即可。该系统发挥了光电倍增管的高灵敏度和高时间分辨能力的特点，同时具有CCD相机的多通道采集的能力。
[0029]在本发明的一个实施例中，光纤为多模光纤。利用光纤进行信号传输也可减少电磁干扰和X射线的影响，适用于强干扰条件下的光信号测量。
[0030]在本发明的一个实施例中，通过采集不同光电倍增管的信号可以得到不同波长处的光信号。通过已知原子气体放电灯标定可以确定每个光电倍增管所采集的光信号的波长。
[0031]在本发明的一个实施例中，当需要采集指定波长的谱线时，可通过适当调节光纤阵列在光谱仪焦平面一端的每列光纤间距以改变每个光电倍增管对应的波长。
[0032]在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底” “内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
[0033]此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
[0034]在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
[0035]在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。[0036]在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例进行结合和组合。
[0037]尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。
【权利要求】
1.一种光谱分析系统，其特征在于，包括: 切尼-特纳光路结构，所述切尼-特纳光路结构用于将光源的光谱分光为不同波长单色光后平行地输出； 光电倍增管阵列，所述光电倍增管阵列包括N个光电倍增管，N为正整数； 光纤阵列，所述光纤阵列包括N组光纤，各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在所述切尼-特纳光路结构的聚焦平面上，其中所述各组光纤的第一端收集不同波长单色光，所述N组光纤的第二端与所述N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管； 多通道时间门控计数器，所述多通道时间门控计数器与所述多个光电倍增管分别电性连接； 高压电源，所述高压电源与所述光电倍增管阵列电性连接；和 温度控制模块，所述温度控制模块与所述光电倍增管阵列相连，用于在进行光谱测量时将所述光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。
2.如权利要求1所述的光谱分析系统，其特征在于，所述切尼-特纳光路结构具体包括:入射狭缝、准直反射镜、衍射光栅和聚焦反射镜，其中，光源发出的连续光谱经过所述入射狭缝到照射到所述准直反射镜上，然后经过所述准直反射镜反射形成平行光，所述平行光经过所述衍射光栅衍射后，通过所述聚焦反射镜使不同波长的单色光聚焦到同一焦平面上的不同位置。
3.如权利要求1或2所述的光谱分析系统，其特征在于，各组光纤中包括的光纤数目相同。
4.如权利要求1-3所述的光谱分析系统，其特征在于，所述光电倍增管工作于光子计数模式，所述多通道门控计数器对所述N个光电倍增管同时进行光子计数。
5.如权利要求1-4所述的光谱分析系统，其特征在于，所述光纤为多模光纤。
6.如权利要求1-5所述的光谱分析系统，其特征在于，通过已知原子气体放电灯标定可以确定每个光电倍增管所采集的光信号的波长。
7.如权利要求1-6所述的光谱分析系统，其特征在于，当需要采集指定波长的谱线时，通过调节光纤阵列在第一端的每列光纤间距以改变每个光电倍增管对应的波长。
【文档编号】G01J3/28GK103592025SQ201310525282
【公开日】2014年2月19日 申请日期:2013年10月30日 优先权日:2013年10月30日
【发明者】陈文聪, 蒲以康 申请人:清华大学