专利名称：一种六点五倍密通用测试机开关卡的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电路板的检测设备领域，尤其涉及一种电路板电气性能检测用六点五倍密通用测试机开关卡。
背景技术：
众所周知，所有的电器设备或控制系统都要应用印刷线路板，为确保线路板不发生开路或短路，印刷线路板在出厂前均需通过印刷线路板测试机的测试，将不合格的线路板选出修复或报废。随着半导体制造技术的高速发展，IC器件集成度迅速提高,安装技术已经从插装技术(THT)过渡到表面安装技术，并已走向芯片级封装技术。同时由于通迅技术的发展需要，要求信号的高速传递，PCB作为传送信号的主要渠道，致使PCB向高密度(HDI)发展成为必然。现有的印刷线路板通用测试机开关卡主要有两种:双倍密通用测试机开关卡(标准网格间距为70mil)与四倍密通用测试机开关卡(标准网格间距为50mil)。上述设备能满足一般印刷电路板的测试需求，但在实际测试过程中存在以下缺陷:一、密度不够，比较难以满足高密度HDI板(如间距为15 25mil)的测试要求。二、测试电流不够，增加测试过程中微开，微短板的程度。
发明内容本实用新型的目的在于提供一种六点五倍密通用测试机开关卡，以提升测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率。本实用新型的目的是通过以下技术方案实现的。—种六点五倍密通用测试机开关卡，包括:探头、横梁、PCB ;所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。进一步优选的，所述探头上端的PIN针成矩阵排列。进一步优选的，所述PIN针的中心距为1.0mm。本实用新型与现有技术相比，有益效果在于:本实用新型提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。
图1为本实用新型六点五倍密通用测试机开关卡结构示意图。图2为本实用新型局部放大示意图。[0013]图3为本实用新型实施例等效电路示意图。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，
以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。请参阅图1、2所示，本实用新型提供的六点五倍密通用测试机开关卡，包括:探头1、横梁2、PCB 3 ; PCB 3上端设有密度匀称的探头装置孔5，探头I的针脚4穿过PCB3上的装置孔5而焊接于背面，从而将探头I与PCB3很好的结合在一起。探头I的垂直下方紧贴在横梁2上，在测试过程中横梁2承受绝大部分的压力，使得探头I与PCB3之间的相互作用力很小，这样的结构在测试过程中探头I不易受损而导致接触不良，从而克服了现有转接技术不好的缺陷，稳定可靠的性能保证了良好的测试效果。探头I上端设有成矩阵排列的PIN针6，PIN针6的中心距为1.0mm，相对较小的PIN中心距使得在制作测试夹具时钢针的斜率也较小，更易测试高密度的HDI板。实施例。本实用新型开关卡上测试电路主要包括:开关矩阵模块A ;恒流源模块B ;电压测试模块C。其等效电路图如图3所示。在图3中SW1-H、SW1-L、SW2-H、SW2-L为开关矩阵模块中的4个电子开关；RS1、RS2为转接部分(如夹具，针床等)的等效电阻；RL为被测PCB网络的等效电阻为进行测试时恒流源模块的电流值为进行测试时电压测试模块得到的电压值，根据这个电压值来判断PCB板线路的好坏。假设PCB板上一条网络的等效电阻为RL，机器上转接部分(夹具，针床)的电阻为RSU RS2，打开电子开关SW1-H，SW2-L，设定电流为I (在图中已标明流向)，那么测试电压Vi=(RSl+RS2+RL)*I，将测到的Vi与之前设定的一个标准值进行比较便可对PCB线路的好坏进行判断。分析上述公式:RS1+RS2的值在机器生产完毕后一个相对稳定的经验值，所以PCB线路的等效电阻RL与设定的测试电流就决定了 Vi的值。当增大电流I (如增大到20MA，原来为10MA)时，被测电阻RL变化较小的值(比如I欧姆)，测到的Vi就会相应增大一倍，进而更好地与标准值进行比较。本实用新型提供的六点五倍密通用测试机开关卡正是增加导通与绝缘测试时电流来提高测试的精度与微开，微短PCB效率的。本实用新型提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，包括:探头、横梁、PCB ;所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。
2.如权利要求1所述的六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，所述探头上端的PIN针成矩阵排列。
3.如权利要求2所述的六点五倍密通用测试机开关卡，其特征在于，所述PIN针的中心距为1.0臟。
专利摘要本实用新型提供了一种六点五倍密通用测试机开关卡，包括探头、横梁、PCB；所述PCB上端设有密度匀称的探头装置孔，探头的针脚穿过PCB上的探头装置孔焊接于PCB背面，所述探头的垂直下方紧贴在横梁上，所述探头上端设有PIN针。本实用新型提供的六点五倍密通用测试机开关卡，通过导通测试电流与短路测试电压、电流的增加，有效提升了测试机的测量精度，大大提高了高密度板微开，微短的测试效率；以及不良板具体阻值的读出，为板厂维修及后续制程提供了可靠依据；开关卡与新型探头的有效结合，不但解决了现有技术中因多重转接导致的接触电阻加大的问题，也相应提高了自身连接的稳定性与可靠性。
文档编号G01R31/02GK203054152SQ201320019320
公开日2013年7月10日 申请日期2013年1月15日 优先权日2013年1月15日
发明者林咏华 申请人:深圳市凯码时代科技有限公司