一种机箱及x射线荧光光谱仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开一种机箱及X射线荧光光谱仪，X射线荧光光谱仪采用分体式结构，将机箱分为存放有射线发生系统、检测系统、电源系统和控制系统等直接用于样品测试分析的单元部件的测量箱和存放有真空泵、真空阀、真空规管、易产生干扰的电气系统等辅助样品测试分析的单元部件的辅助箱两个部分，从而减少了存放在辅助箱的其他辅助单元部件对存放在测量箱内的检测单元部件的干扰，提高了仪器测试分析的准确性。
【专利说明】一种机箱及X射线荧光光谱仪
【技术领域】
[0001]本实用新型公开一种机箱，特别是一种应用于X射线荧光光谱仪的机箱。
【背景技术】
[0002]随着检测市场的普及，各式各样的光谱仪应运而生，RoHS指令的推广直接推动了光谱仪器的发展，光谱仪器的功能是否强大、检测是否精准、外观是否富有美感等直接影响客户的需求。
[0003]光谱仪机箱的结构不仅要符合审美的角度要求，它还要满足仪器的内部单元部件工作运转时散热的需要，仪器使用时检测系统单元是否受到干扰，也更加受到使用者的普
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[0004]目前的X射线荧光光谱仪将射线发生系统、检测系统、电源系统、控制系统等直接用于样品测试分析的单元部件和真空泵、真空阀、真空规管、易产生干扰的电气系统等辅助样品测试分析的单元部件一起放在机箱内部，因而检测系统在工作时受辅助工作系统单元部件的干扰较大。例如，专利CN202870007U公开一种X射线荧光光谱仪，滤光盘系统、检测系统、射线发生系统、电气控制系统和样品承载装置等单元部件均设置在机箱内。该种所有组成的单元部件全部存放在机箱内的一体式X射线荧光光谱仪，其检测系统容易受到其他单元部件的干扰，导致测试准确度难以进一步提高。
实用新型内容
[0005]针对上述提到的现有技术中的X射线光谱仪机箱抗干扰能力差的缺点，本实用新型采用一种新的机箱结构，其采用分体式的机箱结构，将机箱分为测量箱和辅助箱两部分，极大地减少了辅助箱内部结构对测量箱内部结构的干扰，提高了仪器测试分析的准确性。
[0006]本实用新型解决其技术问题采用的技术方案是:
[0007]—种X射线荧光光谱仪机箱，包括测量箱和辅助箱。所述的测量箱存放有射线发生系统、光路系统、射线探测系统、样品平台、样品室、分析室等直接用于样品测试分析的单元部件；所述的辅助箱存放有真空泵、真空阀、电气系统等辅助样品测试分析的单元部件。其中，电气系统工作时易产生电磁干扰信号，而真空泵工作时则产生较大的振动。因此，将对气流、振动等环境要求较高的、直接用于样品测试分析的单元部件隔离出来，存放在单独的箱体，可以避免其他辅助样品测试分析的单元部件对其的干扰，提高了测试仪器分析的准确性。
[0008]较佳的，所述的测量箱设置在所述的辅助箱上方，所述的测量箱和所述的辅助箱之间留有用于散热的间隙。
[0009]较佳的，在所述的测量箱和所述的辅助箱之间设有用于缓冲振动的弹性垫，所述的弹性垫为橡胶或聚四氟乙烯，优选硅橡胶。辅助箱内的真空泵工作时产生较大振动，利用弹性垫的缓冲作用，测量箱受到振动的影响明显减小。
[0010]较佳的，所述的测量箱包括测量箱主壳体、主面罩、测量箱左侧门、测量箱右侧门、测量箱后门和取样门，所述的主面罩设置在所述的测量箱主壳体上，取样门枢接在主面罩的顶部，测量箱左侧门设置在测量箱主壳体的左侧，测量箱右侧门设置在测量箱主壳体的右侧，测量箱后门安装在测量箱主壳体的后面，测量箱后门上安装有用于锁住测量箱后门的门锁，具有保护及方便维修的作用。
[0011]优选的，所述的测量箱主壳体的底部安装有用于测量箱进风、排风的风扇，所述的测量箱后门上安装有用于所述的测量箱进风的风扇。测量箱采用排风风扇和进风风扇的配合，对测量箱内元器件进行强制散热，可达到散热的目的。
[0012]较佳的，所述的取样门包括密封盖座和底座，所述的底座固定在所述的主面罩上，所述的密封盖座和所述的底座通过合页、轴承或铰链活动连接，所述的密封盖座上嵌装铅玻璃片。铅玻璃为防辐射玻璃，使它能有效地阻挡X射线的穿透，充分保证了测试人员的人身安全。铅玻璃为透明无色，在仪器工作状态时也可直接观察样品仓中的样品状况。在所述铅玻璃片的边缘设有用于固定所述的铅玻璃片的固定边。铅玻璃表面光滑，采用固定边进行固定，可与样品仓密封形成真空条件，提高元素测量范围和测试的精准性。
[0013]优选的，所述的密封盖座和所述的底座之间设有限位开关和/或气弹簧。密封盖座和底座之间设限位开关，可防止客户在测试过程中无意打开铅玻璃窗而受到射线的辐射。密封盖座和底座之间设气弹簧，可使密封盖座的活动带有缓冲、制动和支撑的作用。限位开关和气弹簧即可单独使用，也可配合使用。较佳的，所述的辅助箱包括辅助箱主壳体，辅助箱左侧门、辅助箱右侧门和辅助箱后门，辅助箱左侧门设置在辅助箱主壳体的左侧，辅助箱右侧门设置在辅助箱主壳体的右侧，辅助箱后门安装在辅助箱主壳体的后面，辅助箱后门上安装有用于锁住辅助箱后门的门锁，具有保护及方便维修的作用。
[0014]优选的，所述的辅助箱主壳体的底部安装有用于所述的辅助箱排风的风扇；所述的辅助箱后门上安装有用于辅助箱进风的风扇。辅助箱采用排风风扇和进风风扇的配合，对辅助箱内元器件进行强制散热，可达到散热的目的。
[0015]较佳的，所述的辅助箱底部安装有滑轮，便于X射线荧光光谱仪的移动和搬运。优选的，在所述的辅助箱底部四个角位置均安装一个滑轮。
[0016]一种X射线荧光光谱仪，包括上述的机箱，射线发生系统、光路系统、射线探测系统、样品平台、样品室、分析室等直接用于样品测试分析的单元部件存放在所述的测量箱内，真空泵、真空阀、电气系统等辅助样品测试分析的单元部件存放在所述的辅助箱内。
[0017]本实用新型的有益效果是:本实用新型的机箱采用分体式结构，将机箱分为测量箱和辅助箱两部分，减少了存放在辅助箱的其他辅助单元部件对存放在测量箱内的检测单元部件的干扰，提高了仪器分析的准确性。测量箱主壳体的底部安装有用于测量箱进风、排风的风扇，测量箱后门上安装有用于测量箱进风的风扇，通过通风、散热位置的合理设置，满足了仪器工作时的散热需求。取样门采用密封盖座上嵌装铅玻璃片的设计，有效防止X射线的辐射泄漏的同时，还可以直接地实时观察样品室内样品的状态。
[0018]下面将结合附图和【具体实施方式】对本实用新型做进一步说明。
【专利附图】
【附图说明】
[0019]图1为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的正视结构示意图。
[0020]图2为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的后视结构示意图。[0021]图3为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的左视结构示意图。
[0022]图4为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的右视结构示意图。
[0023]图5为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的立体结构示意图。
[0024]图6为本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱的立体结构示意图。
[0025]图7为本实用新型的测量箱的仰视结构示意图。
[0026]图中，1-测量箱，2-辅助箱，3-缓冲垫，4-取样门，5-滑轮，11-测量箱主壳体，12-测量箱左侧门，13-测量箱右侧门，14-测量箱后门，15-主面罩，101-测量箱底部进风风扇，102-测量箱底部排风风扇，103-测量箱后门进风风扇，104-测量箱后门门锁，21-辅助箱主壳体，22-辅助箱左侧门，23-辅助箱右侧门，24-辅助箱后门，25-辅助箱前门，201-辅助箱底部排风风扇，202-辅助箱后门进风风扇，203-辅助箱后门门锁，41-密封盖座，42-底座，43-铅玻璃片，44-固定边，45-气弹簧，46-限位开关，47-缓冲片，48-缓冲器。
【具体实施方式】
[0027]本实施例为本实用新型优选实施方式，其他凡其原理和基本结构与本实施例相同或近似的，均在本实用新型保护范围之内。
[0028]请结合参看附图1至7，本实用新型的X射线荧光光谱仪机箱包括存放有射线发生系统、光路系统、射线探测系统、样品平台、样品室、分析室等直接用于样品测试分析的单元部件的测量箱I和存放有真空泵、真空阀、电气系统等辅助样品测试分析的单元部件的辅助箱2。其中，电气系统工作时易产生电磁干扰信号，而真空泵工作时则产生较大的振动。因此，将对气流、振动等环境要求较高的、直接用于样品测试分析的单元部件隔离出来，存放在单独的箱体内，可以避免其他辅助样品测试分析的单元部件对其的干扰，提高了仪器分析的准确性。测量箱I设置在辅助箱2上方，它们之间留有用于散热的间隙，并在测量箱I和辅助箱2之间设有用于缓冲振动的弹性垫3，弹性垫3为硅橡胶，也可以采用其他类型的橡胶或者聚四氟乙烯材料。辅助箱2内存放的真空泵、在工作时产生较大振动，利用弹性垫3的缓冲作用，测量箱I受到振动的影响明显减小。
[0029]测量箱I包括测量箱主壳体11、测量箱左侧门12、测量箱右侧门13、测量箱后门14、主面罩15和取样门16，主面罩15设置在测量箱主壳体11上，主面罩15在机箱内部通过固定螺钉与测量箱主壳体11固定在一起；取样门16枢接在主面罩15的顶部；测量箱左侧门12设置在测量箱主壳体11的左侧，测量箱左侧门12在机箱内部与测量箱主壳体11固定在一起；测量箱右侧门13设置在测量箱主壳体11的右侧，测量箱右侧门13在机箱内部与测量箱主壳体11固定在一起；测量箱后门14安装在测量箱主壳体11的后部，测量箱后门14在机箱内部与测量箱主壳体11固定在一起，测量箱后门14上安装有测量箱后门门锁104，用于锁住测量箱后门14，可有效防止因错误打开测量箱后门14而造成高压触电，有效的保证了使用者的人身安全。测量箱主壳体11的底部安装有排风的风扇，所述的测量箱后门上固定安装有用于所述的测量箱进风的风扇。测量箱主壳体11的底部固定安装有一个用于进风的测量箱底部进风风扇101和一个用于排风的测量箱底部排风风扇102，在测量箱后门14上固定安装有一个用于进风的测量箱后门进风风扇103。利用测量箱底部进风风扇101、测量箱后门进风风扇103与测量箱底部排风风扇102的配合，对测量箱内的元器件进行强制散热，可达到散热的目的。测量箱底部进风风扇101设置于测量箱I和辅助箱2的接合处，测量箱底部排风风扇102设置于测量箱I和辅助箱2的两箱接合处，在不影响散热效果和外观结构的同时，可以防止X射线辐射的泄漏，保护使用者的安全。
[0030]辅助箱2包括辅助箱主壳体21、辅助箱左侧门22、辅助箱右侧门23和辅助箱后门24，辅助箱左侧门22设置在辅助箱主壳体21的左侧，辅助箱左侧门22在机箱内部与辅助箱主壳体21固定在一起；辅助箱右侧门23设置在辅助箱主壳体21的右侧，辅助箱右侧门23在机箱内部与辅助箱主壳体21固定在一起；辅助箱后门24安装在辅助箱主壳体21的后部，辅助箱后门24在机箱内部与辅助箱主壳体21固定在一起，辅助箱后门24上安装有的辅助箱后门门锁203，用于锁住辅助箱后门24，可有效防止因错误打开辅助箱后门24而造成高压触电，有效的保证了使用者的人身安全。辅助箱主壳体21的底部固定安装有两个用于排风的辅助箱底部排风风扇201，在辅助箱后门24上固定安装有两个辅助箱后门进风风扇202。利用辅助箱底部排风风扇201与辅助箱后门进风风扇202的配合，对辅助箱2内的元器件进行强制散热，可达到散热的目的。
[0031]主面罩15的顶部枢接有取样门4，包括密封盖座41和底座42，密封盖座41和底座42通过合页活动连接，密封盖座41上嵌装铅玻璃片43。其中，密封盖座41和底座42也可以采用轴承或铰链活动连接。底座42固定在主面罩15上，底座42与密封盖座41之间装有气弹簧45，使密封盖座41的活动带有缓冲、制动和支撑的作用。密封盖座41和底座42之间还设有限位开关46，防止操作人员在测试过程中无意打开铅玻璃窗而受到X射线的辐射。密封盖座41和底座42之间还设置两个对称的缓冲器48,并在底座42上设置两个缓冲片47，可以缓冲密封盖座41下落时的速度，起到减震的作用。铅玻璃为防辐射玻璃，使它能有效地阻挡X射线的穿透，充分保证了测试人员的人身安全。铅玻璃为透明无色，在仪器工作状态时也可直接观察样品仓中的样品状况。在铅玻璃片43的两侧边缘设有的固定边44，用于固定铅玻璃片43。铅玻璃片43表面光滑，采用固定边44进行固定，可与样品仓密封形成真空条件，提高元素测量范围和测试精准性。
[0032]以上所揭露的仅为本实用新型的优选实施例而已，当然不能以此来限定本实用新型之权利范围，因此依本实用新型申请专利范围所作的等同变化，仍属本实用新型所涵盖的范围。
【权利要求】
1.一种X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:包括测量箱和辅助箱，所述的测量箱存放有射线发生系统、光路系统、射线探测系统、样品平台、样品室、分析室；所述的辅助箱存放有真空泵、真空阀、电气系统。
2.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的测量箱设置在所述的辅助箱上方，所述的测量箱和所述的辅助箱之间留有用于散热的间隙。
3.根据权利要求1所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:在所述的测量箱和所述的辅助箱之间设有用于缓冲振动的弹性垫。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的测量箱包括测量箱主壳体、主面罩、测量箱左侧门、测量箱右侧门、测量箱后门和取样门，所述的主面罩设置在所述的测量箱主壳体上，取样门枢接在主面罩的顶部，测量箱左侧门设置在测量箱主壳体的左侧，测量箱右侧门设置在测量箱主壳体的右侧，测量箱后门安装在测量箱主壳体的后面，测量箱后门上安装有用于锁住测量箱后门的门锁。
5.根据权利要求4所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的测量箱主壳体的底部安装有用于所述的测量箱进风、排风的风扇，所述的测量箱后门上安装有用于所述的测量箱进风的风扇。
6.根据权利要求4所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的取样门包括密封盖座和底座，所述的底座固定在所述的主面罩上，所述的密封盖座和所述的底座活动连接，所述的密封盖座上嵌装铅玻璃片。
7.根据权利要求6所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的密封盖座与所述的底座之间安装有气弹簧和/或限位开关。
8.根据权利要求书I至3中任一项所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的辅助箱包括辅助箱主壳体、辅助箱左侧门、辅助箱右侧门、辅助箱后门，辅助箱左侧门设置在辅助箱主壳体的左侧，辅助箱右侧门设置在辅助箱主壳体的右侧，辅助箱后门安装在辅助箱主壳体的后面，辅助箱后门上安装有用于锁住辅助箱后门的门锁。
9.根据权利要求书8所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:所述的辅助箱主壳体的底部安装有用于所述的辅助箱排风的风扇；所述的辅助箱后门上安装有用于所述的辅助箱进风的风扇。
10.一种X射线荧光光谱仪，包括如权利要求1至9中任一项所述的X射线荧光光谱仪机箱，其特征是:直接用于样品测试分析的单元部件存放在所述的测量箱内，辅助样品测试分析的单元部件存放在所述的辅助箱内。
【文档编号】G01N23/223GK203432924SQ201320411578
【公开日】2014年2月12日 申请日期:2013年7月11日 优先权日:2013年7月11日
【发明者】杨宁波 申请人:深圳市禾苗分析仪器有限公司