被动组件加压检测机构的制作方法
【专利摘要】一种被动组件加压检测机构，包括一机台、一分割盘、一驱动装置及五台加压测试器，该机台设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽可供将多数被动组件依序往前导送，该分割盘设于该机台顶面，且周面等间隔设有50格缺槽可分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第1格，且由该第1格顺时针计算每5颗被动组件定为一组，该驱动装置设在该机台底部可供驱动该分割盘顺时针寸转，每次寸转角度为1格，该五台加压测试器设在该机台上，且该五台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动5格时即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，而该五台加压测试器被配置在可分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
【专利说明】被动组件加压检测机构
【技术领域】
[0001]本实用新型有关于一种被动组件加压检测机构，尤指一种可大幅提升被动组件检测效率的被动组件加压检测机构。
【背景技术】
[0002]一般已知的被动组件加压检测机构主要包括一机台上设有可顺时针转动的一分割盘，该分割盘的周面设有多数缺槽可分别供容纳一被动组件，该分割盘以每次寸转一格缺槽的方式转动，于该分割盘周围的机台上顺时针依序设有一加压器及多数测试器，该分割盘可带动该多数被动组件依序经过该加压器及该多数测试器，该加压器可对经过的被动组件进行加压动作，即将电压、电流由该被动组件的两端部充入)，该多数测试器可依序对经过的被动组件，分别进行各种项目的测试，其检测项目包含交流串联阻抗(RS)、串联感抗(LS)、质量因素(Q)、角度(Θ)、阻抗(Z)……等，而且其中每一测试器仅负责检测上述的一种测试项目的数据，然后再将该数据传送到一控制中心进行整合、判断。
[0003]然而，由于每一测试器仅负责检测一项数据，因此该分割盘每寸转一格便需停止一段时间供该加压器或该多数测试器对相对应的被动组件进行加压测试的动作而一般加压或测试的速度约为20m/s，因此该已知的被动组件加压检测机构一分钟大约仅能达到200~300颗被动组件的检测速度，因此存在着检测速度低落的问题。尤其是，只要其中有一台测试器故障时，该被动组件加压检测机 构便需停机闲置直到该测试器更新或检修完成为止，而如此更是会严重影响到检测的效率。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题为，针对已知的被动组件加压检测机构一次仅能利用一台测试器对一个被动组件进行一项数据的检测，所以存在着检测速度低落的问题，以及只要一台加压器或检测器故障时便需停机而无法继续进行检测而会严重影响检测效率的问题，本实用新型提供一种多台测试器可同时对多个被动组件进行数据检测，且一台测试器出现故障不会影响其它测试器工作的被动组件加压检测机构。
[0005]为解决上述技术问题，本实用新型所采用的第一种技术方案是:一种被动组件加压检测机构，其包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第I格，且由该第I格顺时针计算每5颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及五台加压测试器，设在该机台上，且五台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动5格时即同时对相对应的被动组件进行加压及检测一次，而该五台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。该五台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压检测器可同时对经过的被动组件进行电压及电流的充入与交流串联阻抗(RS)、串联感抗(LS)、质量因素(Q)、角度(Θ)、阻抗(Z)……等的检测。
[0006]上述第一种技术方案的进一步改进为，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第22格处，第四台加压测试器位于该分割盘顺时针数第28格处，第五台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该五台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
[0007]本实用新型所提供的被动组件加压检测机构可利用该五台加压测试器一次同时对五个被动组件进行加压及各项数据的检测，因此可大幅提升检测的速度。尤其是，当其中有一台、两台或三台加压测试器发生故障时只需利用将其余的加压测试器安装在第一、二、三、五台位置或第一、二、五台的位置或第一、二台的位置，然后再配合控制该多数加压测试器的加压检测时机便可达到一次同时对四个、三个或两个被动组件进行加压检测的目的，而无需停机闲置等待加压测试器的更新或检修，因此可大幅提升被动组件的检测效率。
[0008]为解决上述技术问题，本实用新型所采用的第二种技术方案是:一种被动组件加压检测机构，其包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50 格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第I格，且由该第I格顺时针计算每4颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及四台加压测试器，设在该机台上，且该四台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动4格时即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，而该四台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
[0009]上述第二种技术方案的进一步改进为，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第22格处，第四台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该四台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
[0010]为解决上述技术问题，本实用新型所采用的第三种技术方案是:一种被动组件加压检测机构，其包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第I格，且由该第I格顺时针计算每3颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及三台加压测试器，设在该机台上，且该三台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动3格时即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，而该三台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
[0011]上述第三种技术方案的进一步改进为，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该三台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
[0012]上述三种方案被动组件加压检测机构优选为，该机台上具有一良品导槽、一不良品导槽及一重工导槽，该良品导槽以一良品导管连接到一良品容置盒，该良品导槽藉由该良品导管将良品导送到该良品容置盒，该不良品导槽以一不良品导管连接到一不良品容置盒，该不良品导槽藉由该不良品导管将不良品导送到该不良品容置盒，该重工导槽以一重工导管连接到一重工容置盒，该重工导槽藉由该重工导管将误差不大而欲再次加压测试的被动组件导送到该重工容置盒。
[0013]上述三种方案被动组件加压检测机构优选为，该每一加压测试器具有可同步升降的两根探针，该两根探针位于该分割盘的相对应缺槽的下侧，该两根探针上升时接触该相对应缺槽中的被动组件的两端部以充入电压、电流及检测该被动组件充入电压及电流时所产生的各项数据。
【专利附图】
【附图说明】
[0014]图1为本实用新型第一实施例的立体示意图。
[0015]图2为本实用新型第一实施例的俯视示意图。
[0016]图3为本实用新型第一实施例的加压检测器的立体放大示意图。
[0017]图4为本实用新型第一实例进行加压检测时的检测次序表。
[0018]图5为本实用新型第二实例进行加压检测时的检测次序表。
[0019]图6为本实用新型第三实例进行加压检测时的检测次序表。
[0020]标号说明:
[0021]10 机台；
[0022]11送料轨道；
[0023]12良品导槽；
[0024]13不良品导槽；
[0025]14导料槽；
[0026]15良品导管；
[0027]16不良品导管；
[0028]17重工导槽；
[0029]18重工导管；
[0030]20分割盘；
[0031]21 缺槽；
[0032]22水平分割线；
[0033]30驱动装置；
[0034]40加压测试器；
[0035]41 探针。
【具体实施方式】
[0036]请参阅图1?3所示，为本实用新型的第一实施例，其显示本实用新型所述的被动组件加压检测机构包括一机台10、一分割盘20、一驱动装置30及五台加压测试器40。其中:
[0037]该机台I设有一送料轨道11、一良品导槽12、一不良品导槽13及一重工导槽17。该送料轨道11上具有一导料槽14可供将多数被动组件(图中未示)依序往前导送。该良品导槽12以一良品导管15连接到一良品容置盒(图中未示)。该不良品导槽13以一不良品导管16连接到一不良品容置盒(图中未示)。该重工导槽I以一重工导管18连接到一重工容置盒(图中未示)。
[0038]该分割盘20设于该机台10的顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽21，每一格缺槽21可分别供容纳一个被动组件。该分割盘20的两相邻缺槽21之间的夹角为7.2度，并界定该分割盘20上与该送料轨道11的导料槽14相对的缺槽21为第I格(O度)，该第I格缺槽21与水平分割线22之间的夹角为3.6度。
[0039]该驱动装置3设在该机台I底部，可供驱动该分割盘20顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格(7.2度)。
[0040]该五台加压测试器40设在该机台10上，第一台加压测试器40位于该分割盘20顺时针数第9格(57.6度)处，第二台加压测试器40位于该分割盘20顺时针数第16格(10度)处，第三台加压测试器40位于该分割盘20顺时针数第22格(151.2度)处，第四台加压测试器40位于该分割盘20顺时针数第28格(194.4度)处，第五台加压测试器40位于该分割盘20顺时针数第35格(244.8度)处。该五台加压测试器40分别连接到一控制中心(图中未示)，可供将测试的数据传送到该控制中心，利用该控制中心判断出所检测的被动组件为良品或不良品。在本实用新型中，每一台加压测试器40具有可同步升降的两根探针41，该两根探针41位于该分割盘20的相对应缺槽21的下侧。该两根探针41上升时可接触该相对应缺槽21中的被动组件的两端部以充入电压、电流及检测该被动组件充入电压及电流时所产生的各项数据，如交流串联阻抗(RS)、串联感抗(LS)、质量因素(Q)、角度(Θ)、阻抗(Z)……等。
[0041]请参阅图1、图4所示，指出当该五台加压测试器40可同时运作时，该驱动装置30驱动该分割盘20每转动5格(36度`)时，该五台加压测试器40即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，如此便会如a列的检测次序表所示，第一台加压测试器40会对每五颗为一组的被动组件的第2颗进行加压测试，第二台加压测试器40会同时对每一组被动组件的第5颗进行加压测试，第三台加压测试器40会同时对每一组被动组件的第4颗进行加压测试，第四台加压测试器40会同时对每一组被动组件的第3颗进行加压测试，第五台加压测试器40会同时对每一组被动组件的第I颗进行加压测试。因此，五颗为一组的被动组件经过该第一~五台加压测试器40后，每一颗被动组件皆会被加压测试到。而且，只要其中那一台加压测试器40测试到的被动组件为不良品时，便可由该台加压测试器40相对的缺槽21位置计算出其到该不良品导槽13的格数，如此便能利用该不良品导槽13准确地将不良品导送到一不良品容置盒中。本实用新型藉此便可利用该五台加压测试器40—次同时对五个被动组件进行加压及各项数据的检测，而且由于该分割盘20在加压测试之间寸转5格的速度约为0.lm/s，而该五台加压测试器40每一次进行加压测试的速度约为20m/s，所以该五道式的被动组件加压检测机构一分钟约可加压检测完成一千颗被动组件，因此加压检测的速度可获得非常大的提升。
[0042]由图4的b列的检测次序表可看出，当本实用新型的加压检测机构中有一台加压测试器40故障时，则只要将其余四台正常的加压检测器40分别安装在原本第一、二、三、五台的位置，然后控制该分割盘20每转动4格(28.8度)时，位于该第一、二、三、五台位置的加压检测器40即同时对相对应的被动组件进行加压及检测一次。如此，便可达到一次同时对四个被动组件进行加压及检测各项数据的目的。
[0043]由图4的c列的检测次序表可看出，当本实用新型的加压检测机构中有两台加压测试器40故障时，则只要将其余三台正常的加压测试器40分别安装在原本第一、二、五台的位置，然后控制该分割盘20每转动3格(21.6度)时，位于该第一、二、五台位置的加压测试器40即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次。如此，便可达到一次同时对三个被动组件进行加压及检测各项数据的目的。
[0044]由图4的d列的检测次序表可看出，当本实用新型的加压检测机构中有三台加压测试器40故障时，则只要将其余两台正常的加压测试器40分别安装在原本第一、二台的位置，然后控制该分割盘20每转动2格(14.4度)时，位于该第一、二台位置的加压测试器40即同时对相对应的被动组件进行加压及检测一次。如此，便可达到一次同时对两个被动组件进行加压及检测各项数据的目的。
[0045]从上述可得知，本实用新型即使其中有一台、两台或三台加压测试器40发生故障时，仍可达到一次同时对四个、三个或两个被动组件进行加压检测的目的，而无需停机闲置等待加压检测器40的更新或检修，因此可大幅提升被动组件的检测效率。
[0046]请参阅图5所示，为本实用新型的第二实施例，其结构与第一实施例大同小异，差别在于该第二实施例仅具有四台加压测试器40，且四台加压测试器40分别位于9格(57.6度)、第16格(108度)、第22格(151.2度)及第35格(244.8度)处，而且该四台加压测试器40在该驱动装置30驱动该分割盘20每转动4格时，即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，如此每一组的四颗被动组件经过该四台加压测试器40后，则不同被动组件便会分别被不同的加压测试器40加压与测试到。
[0047]请参阅图6所示，为本实用新型的第三实施例，其结构与第一实施例大同小异，差别在于该第三实施例仅具有三台加压测试器40分别位于9格(57.6度)、第16格(108度)及第35格(244.8度)处，且该三台加压测试器40在该驱动装置30驱动该分割盘20每转动3格时，即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，如此每一组的3颗被动组件经过该三台加压测试器4后，则不同被动组件便会分别被不同的加压测试器40加压与测试到。
【权利要求】
1.一种被动组件加压检测机构，其特征在于包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第1格，且由该第I格顺时针计算每5颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及五台加压测试器，设在该机台上，且五台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动5格时即同时对相对应的被动组件进行加压及检测一次，而该五台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
2.如权利要求1所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第22格处，第四台加压测试器位于该分割盘顺时针数第28格处，第五台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该五台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
3.如权利要求2所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该机台上具有一良品导槽、一不良品导槽及一重工导槽，该良品导槽以一良品导管连接到一良品容置盒，该良品导槽藉由该良品导管将良品导送到该良品容置盒，该不良品导槽以一不良品导管连接到一不良品容置盒，该不良品导槽藉由该不良品导管将不良品导送到该不良品容置盒，该重工导槽以一重工导管连接到一重工容置盒，该重工导槽藉由该重工导管将误差不大而欲再次加压测试的被动组件导送到该重工容置盒。
4.如权利要求2所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该每一加压测试器具有可同步升降的两根探针，该两根探针位于该分割盘的相对应缺槽的下侧，该两根探针上升时接触该相对应缺槽中的被动组件的两端部以充入电压、电流及检测该被动组件充入电压及电流时所产生的各项数据。
5.—种被动组件加压检测机构,其特征在于包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第1格，且由该第I格顺时针计算每4颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及四台加压测试器，设在该机台上，且该四台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动4格时即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，而该四台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
6.如权利要求5所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第22格处，第四台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该四台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
7.如权利要求6所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该机台上具有一良品导槽、一不良品导槽及一重工导槽，该良品导槽以一良品导管连接到一良品容置盒，该良品导槽藉由该良品导管将良品导送到该良品容置盒，该不良品导槽以一不良品导管连接到一不良品容置盒，该不良品导槽藉由该不良品导管将不良品导送到该不良品容置盒，该重工导槽以一重工导管连接到一重工容置盒，该重工导槽藉由该重工导管将误差不大而欲再次加压测试的被动组件导送到该重工容置盒。
8.如权利要求6所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该每一加压测试器具有可同步升降的两根探针，该两根探针位于该分割盘的相对应缺槽的下侧，该两根探针上升时接触该相对应缺槽中的被动组件的两端部以充入电压、电流及检测该被动组件充入电压及电流时所产生的各项数据。
9.一种被动组件加压检测机构，其特征在于包括:一机台，设有一送料轨道，该送料轨道上具有一导料槽供将多数被动组件依序往前导送；一分割盘，设于该机台顶面，且周面具有等间隔设置的50格缺槽，每一格缺槽分别供容纳一个被动组件，并界定该分割盘上与该送料轨道的导料槽相对的缺槽为第I格，且由该第I格顺时针计算每3颗被动组件定为一组；一驱动装置，设在该机台底部，供驱动该分割盘顺时针寸转，且每次寸转的角度为I格；以及三台加压测试器，设在该机台上，且该三台加压测试器在该驱动装置驱动该分割盘每转动3格时即同时对相对应的被动组件进行加压及测试一次，而该三台加压测试器被配置在能分别对每一组的不同颗被动组件加压与测试的位置上。
10.如权利要求 9所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该第一台加压测试器位于分割盘顺时针数第9格处，第二台加压测试器位于该分割盘顺时针数第16格处，第三台加压测试器位于该分割盘顺时针数第35格处，该三台加压测试器分别连接到一控制中心，且每一加压测试器对经过的被动组件进行加压及各项数据的测试后将数据传送到该控制中心。
11.如权利要求10所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该机台上具有一良品导槽、一不良品导槽及一重工导槽，该良品导槽以一良品导管连接到一良品容置盒，该良品导槽藉由该良品导管将良品导送到该良品容置盒，该不良品导槽以一不良品导管连接到一不良品容置盒，该不良品导槽藉由该不良品导管将不良品导送到该不良品容置盒，该重工导槽以一重工导管连接到一重工容置盒，该重工导槽藉由该重工导管将误差不大而欲再次加压测试的被动组件导送到该重工容置盒。
12.如权利要求10所述的被动组件加压检测机构，其特征在于，该每一加压测试器具有可同步升降的两根探针，该两根探针位于该分割盘的相对应缺槽的下侧，该两根探针上升时接触该相对应缺槽中的被动组件的两端部以充入电压、电流及检测该被动组件充入电压及电流时所产生的各项数据。
【文档编号】G01R31/00GK203502507SQ201320522040
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年8月26日 优先权日:2013年8月26日
【发明者】庄长光 申请人:锌咏丰精密科技股份有限公司