一种电量管理ic校准校验方法
【专利摘要】本发明涉及一种电量管理IC校准校验方法，包括上电加载电压；版本号配对并烧录ROM文件；进入HDQ模式；进入校准模式；进入校验模式；向网络服务器或本地数据库上传数据；上传数据时，上位机开启双线程模式，采用新生线程进行处理数据通信传输，异步调用处理更新主线程上的数据存储，主线程上的界面显示更新内容。本发明可智能检测反馈信号，可以最快速度完成退出单次通信，高效完成电量管理IC的校准校验；提高了电压电流精度基准的测试效率；灵活调配本地序列号信息和服务器序列号信息；自动智能筛选产品PCB板偏置值，杜绝电量管理IC自身校准的低效性；智能筛选获取精准的电压电流精度值，整个校准校验过程更加智能化。
【专利说明】一种电量管理j C校准校验方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及一种电量管理IC的校准校验方法，具体地说是一种电量管理IC校准校验方法。
【背景技术】
[0002]目前移动电子的电源行业中电量管理IC应用越来越广泛，高端产品对电量管理IC的精度要求也越来越高。由于BQ27545-A4架构的电量管理IC的引入，且此种IC涉及新的通信技术，以当前的校准校验一体化设备测试引用了此种IC的电量管理产品，其测试速度缓慢，效率低下，校准烧录校验整个过程耗时高。目前一体化设备的在线配置，无法满足苹果产品的生产交货，而重新制作当前的校准校验一体化设备周期长，无法及时应对当前移动电子产品的量产要求，同时其制作成本高，在当今控制压缩成本，赢取最大利润的方针下实属不可取。因此在原校准校验一体化设备基础上进行提速发明变革，保证电量管理产品品质的同时，才是明智之举。
[0003]目前行业生产BQ27545-A4架构的电量管理IC的电量管理产品所采用的传统方法是基于TI (美国德州仪器公司)提供的软件和硬件(EV2300)，通过手工焊接夹具，纯手工接触测试点的方式单通道实现BQ27545-A4架构的产品(如苹果IPH0NE6，IPADMINI, IPADAIR等产品)的校准烧录校验比对。此方法受制于TI公司，局限性大，可扩展性差，效率低下，校准烧录校验整个过程完成耗时大，同时此投入成本高，整体测试稳定性差，同时作业效率低下，烧写异常出错率高，品质安全系数低。实现对BQ27545-A4架构的电量管理IC的校准烧录校验提速是行业的必然趋势。
【发明内容】
[0004]针对上述现有技术，本发明要解决的技术问题是:提供一种电量管理IC校准校验方法，有效提高电量管理IC校准校验的速度，节省电量管理IC校准校验的时间。
[0005]为了解决上述问题，本发明的电量管理IC校准校验方法，该方法包括如下步骤:
51.上电激活,加载电压；
52.版本号配对，并烧录ROM文件；
53.进入HDQ模式；
54.进入校准模式，校准相关参数；
55.进入校验模式，进行相关项目的测试；
56.测试完成后，向网络服务器或本地数据库上传数据；
其中，步骤S6中，上传数据时，上位机开启双线程模式，采用新生线程进行处理数据通信传输，异步调用处理更新主线程上的数据存储，主线程上的界面显示更新内容；且上述过程发生在上下位机之间的通信过程中。
[0006]优选的，所述的步骤S4包括:
S401.校准恒流补偿偏置值； 5402.校准PCB板偏置值；
5403.加载电流；
5404.校准电流；
5405.校准电压；
5406.验证；
5407.分配烧写序列号；
其中，步骤S402中，上位机简化PCB板偏置值的校准模式，采用自动智能化的模式进行筛选计算出PCB板偏置值的平均值，以固定平均值的模式写入电量管理IC中。
[0007]优选的，所述的步骤S402包括:
S402a.按照一定的时间周期定时采集部分电量管理产品的PCB板偏置值数据；
S402b.经过积分运算，计算出能反映电量管理产品当前情况下的PCB板偏置值的精确平均偏置值；
S402c.通过单片机程序通信模块写入电量管理IC中。
[0008]优选的，所述的步骤S5包括:
5501.测试HDQ电压；
5502.测试自耗电；
5503.测试产品制造信息；
5504.测试ROM内部数据；
5505.温度测试；
5506.电压精度测试；
5507.放电电流精度测试；
5508.充电电流精度测试；
其中，进行电量管理IC的电压电流精度测试时，通过上位机修改电压电流精度的读数模型；首先采取循环固定次数读取产品电压电流精度，然后对循环读数采集到的数据进行加权平均和算术平均的算法计算出电压电流精度的值作为反馈给闭环系统的数据接收口的真实值。
[0009]优选的，所述的校验过程中，上位机采用双向开启采集数据的方式获取制造信息内容；实时更新服务器中电量管理产品序列号信息的同时，在本地文件中备份一份序列号信息，当在电量管理产品烧录过程中进行序列号信息采集时检测网络信号延时过长的，超过一定时限，则自动开启本地数据采集模式，从本地获取序列号信息，
优选的，所述的下位机模块程序采用并行通信方式，采用双串口双向通信模式，在校验读取产品电压电流精度基准时多通道并行读取产品电压电流精度基准。
[0010]优选的，只在所述的校验过程中进行电压电流精度的基准读取，然后存储于本地数据库中。若对应通道电压电流基准数据在指定规格范围内，则以当前最新的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值，否则以当前通道已判定可用的最近的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值。
[0011]优选的，所述的上下位机通信采用循环发送指令，一旦上位机接收到下位机反馈回来的信号，则智能跳出循环。
[0012]优选的，所述的串口通信的波特率至少为57600B，并通过修改下位控制软件，使用简化的下拉程序嵌套层次。
[0013]与现有技术相比，本发明具有如下优点:
一、上下位机通信采用循环发送搜索通信，可智能检测反馈信号，可以最快速度完成退出单次通信，高效完成电量管理IC的校准校验。
[0014]二、下位机模块程序采用并行通信方式，采用双串口双向通信模式，扩展新型通讯电路，提高通讯串口波特率，提高了电压电流精度基准的测试效率。
[0015]三、采用双向开启采集数据的方式获取制造信息序列号内容时，灵活调配本地序列号信息和服务器序列号信息，灵活性高。
[0016]四、自动智能筛选产品PCB板偏置值(BoardOffset),按照积分算法计算出精准的平均偏置值，以固定值的方式烧写入产品中，杜绝BQ27545-A4架构的电量管理IC自身校准的低效性。
[0017]五、智能判定电压电流精度基准测试情形，自动筛选获取精准的电压电流精度值，过滤不良的电压电流精度值，不良通道重新读取分配精准的电压电流基准精度值，使得整个校准校验过程更加智能化。
【具体实施方式】
[0018]为了让本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，结合下面实施例对本发明作进一步阐述。
[0019]本发明提供一种电量管理IC校准校验方法，该方法包括如下步骤:
51.上电激活,加载电压；
52.版本号配对，并烧录ROM文件；
对分配有不同的版本号的电量管理IC进行分类处理，不同的版本号对应不用的处理程序，并烧录相应的ROM文件。
[0020]S3.进入 HDQ 模式；
对BQ27545-A4架构的电量管理IC进行转口动作，转入HDQ模式。HDQ指的是单线通信协议，应用于智能电池的检测模块。处理器和设备通过HDQ接口作为桥梁连接起来，有效节省硬件连线。
[0021]S4.进入校准模式，校准相关参数；
其中，具体包括如下步骤:
5401.校准恒流补偿偏置值；
5402.校准PCB板偏置值；
5403.加载电流；
5404.校准电流；
5405.校准电压；
5406.验证；
5407.分配烧写序列号；
其中，步骤S402中，上位机简化PCB板偏置值的校准模式，采用自动智能化的模式进行筛选计算出PCB板偏置值的平均值，以固定平均值的模式写入电量管理IC中。
[0022]因产品型号不一致，其对应的PCB板偏置值的趋向分布是不一致的，该步骤具体包括:
S402a.按照一定的时间周期定时采集部分电量管理产品的PCB板偏置值数据；
S402b.经过积分运算，计算出能反映电量管理产品当前情况下的PCB板偏置值的精确平均偏置值；
S402c.通过单片机程序通信模块写入电量管理IC中。
[0023]此方式能够避开按照TI的BQ27545-A4架构的电量管理IC的自身提供的通信协议而展开的PCB板偏置值校准校正的低效性。
[0024]S5.进入校验模式，进行相关项目的测试；
其中，具体包括如下步骤:
5501.测试HDQ电压；
5502.测试自耗电；
5503.测试产品制造信息；
5504.测试ROM内部数据；
5505.温度测试；
5506.电压精度测试；
5507.放电电流精度测试；
5508.充电电流精度测试；
其中，进行电量管理IC的电压电流精度测试时，通过上位机修改电压电流精度的读数模型；首先采取循环固定次数读取产品电压电流精度，然后对循环读数采集到的数据进行加权平均和算术平均的算法计算出电压电流精度的值作为反馈给闭环系统的数据接收口的真实值，以代替临时随机采集电压电流精度值作为反馈给闭环系统的数据接收口的真实值方式。
[0025]由于IC特性存在电压电流精度值的跳变特性，每次采集数据时，通过采用循环5次读取此类电量管理产品的电压电流精度,并将5次测试的值做次加权平均和算术平均，让其得出的值作为当前电压电流精度值的真实值，通过内存传输给闭环系统的数据接收器中，保证电量管理产品的电压电流精度精准性的同时，也提升了测试速度，降低设备因单节电量管理产品电压电流精度不良而造成的复测延时。
[0026]校验过程中，上位机采用双向开启采集数据的方式获取制造信息内容；实时更新服务器中电量管理产品序列号信息的同时，在本地文件中备份一份序列号信息，当在电量管理产品烧录过程中进行序列号信息采集时检测网络信号延时过长的，超过一定时限，则自动开启本地数据采集模式，从本地获取序列号信息，让产品得以快速进行烧录，杜绝因网络信号中断或者网络传送延时过长而造成的生产延时，从而导致校准烧录校验过程测试过慢的问题发生；
下位机模块程序采用并行通信方式，采用双串口双向通信模式，在校验读取产品电压电流精度基准时多通道并行读取产品电压电流精度基准。即，前10通道和后10通道之间同时进行读取电压电流精度基准，代替当前的逐个通道串行读取电压电流精度基准，提升基准读取效率100%。
[0027]只在校验过程中进行电压电流精度的基准读取，然后存储于本地数据库中。若对应通道电压电流基准数据在指定规格范围内，则以当前最新的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值，否则以当前通道已判定可用的最近的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值。取消校准校验过程中所采用固定的各自“电压电流精度基准读取”模式，即在校准和校验过程中各自进行一次“电压电流精度基准读取”，节约一次“电压电流精度基准读取”的时间损耗。
[0028]上下位机通信采用循环发送指令，一旦上位机接收到下位机反馈回来的信号，则智能跳出循环。此方式以最快的速度效率实现上下位机的数据传输通信，代替当前的由上位向下位发送指令信号并以固定的“等待延时时间”完成信号的接收，改善当前的测试通信过程时间长，造成不必要的时间损耗浪费的问题。
[0029]串口通信的波特率至少为57600B，并通过修改下位控制软件，使用简化的下拉程序嵌套层次。其中，提高串口通信的波特率，有效加快上下位机的数据传输速度，提升数据传输效率200%。另一方面，简化下位程序嵌套层次，是通过采用简化电路结构，减少继电器的使用来实现，从而在修改下位控制软件时简化通信模块的层次性。这种简化下位程序的嵌套层次，指的是上下位机通信采取一发一送的方式，即上位机向下位机发送一次指令信号，下位及时向上位反馈回字节信号，杜绝上位多层次的发送，下位才反馈回指令信号的情况，有利于优化通信程序，简化通信协议，提升反馈信号的回馈速度。
[0030]S6.测试完成后，向网络服务器或本地数据库上传数据；
其中，上传数据时，上位机开启双线程模式，采用新生线程进行处理数据通信传输，异步调用处理更新主线程上的数据存储，主线程上的界面显示更新内容；且上述过程发生在上下位机之间的通信过程中。
[0031]因采用BQ27545-A4架构的电量管理IC的单节电量管理产品，在完成本地测试完成后，需要向网络服务器或本地数据库上传数据，之前传输时采用主线程模式，由于受网络信号强弱的约束，容易导致数据传输时造成等待延时，感觉是“假死”现象，界面中的部分控件标示更新滞后，造成员工取板滞后，浪费测试时间，因此充分利用新型计算机技术，采用双向双模思维，开启新生线程，在后台线程中去处理数据通信的传输，异步处理主线程UI上的界面显示更新内容。由于在后台线程处理数据信息的同时可以继续进行下一次的测试，保证数据存储完整性的同时可以有效保证测试。
[0032]以上所述为本发明的较佳实施方式，并非对本发明作任何形式上的限制。需要说明的是，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。
【权利要求】
1.一种电量管理IC校准校验方法，其特征在于:该方法包括如下步骤: 51.上电激活,加载电压； 52.版本号配对，并烧录ROM文件； 53.进入HDQ模式； 54.进入校准模式，校准相关参数； 55.进入校验模式，进行相关项目的测试； 56.测试完成后，向网络服务器或本地数据库上传数据； 其中，步骤S6中，上传数据时，上位机开启双线程模式，采用新生线程进行处理数据通信传输，异步调用处理更新主线程上的数据存储，主线程上的界面显示更新内容；上述过程发生在上下位机之间的通信过程中且为多通道同时进行。
2.根据权利要求1所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的步骤S4包括: 5401.校准恒流补偿偏置值； 5402.校准PCB板偏置值； 5403.加载电流； 5404.校准电流； 5405.校准电压； 5406.验证； 5407.分配烧写序列号； 其中，步骤S402中，上位机简化PCB板偏置值的校准模式，采用自动智能化的模式进行筛选计算出PCB板偏置值的平均值，以固定平均值的模式写入电量管理IC中。
3.根据权利要求2所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的步骤S402包括: S402a.按照一定的时间周期定时采集部分电量管理产品的PCB板偏置值数据； S402b.经过积分运算，计算出能反映电量管理产品当前情况下的PCB板偏置值的精确平均偏置值； S402c.通过单片机程序通信模块写入电量管理IC中。
4.根据权利要求1所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的步骤S5包括: 5501.测试HDQ电压； 5502.测试自耗电； 5503.测试产品制造信息； 5504.测试ROM内部数据； 5505.温度测试； 5506.电压精度测试； 5507.放电电流精度测试； 5508.充电电流精度测试； 其中，进行电量管理IC的电压电流精度测试时，通过上位机修改电压电流精度的读数模型；首先采取循环固定次数读取产品电压电流精度，然后对循环读数采集到的数据进行加权平均和算术平均的算法计算出电压电流精度的值作为反馈给闭环系统的数据接收口的真实值。
5.根据权利要求1或4所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的校验过程中，上位机采用双向开启采集数据的方式获取制造信息内容；实时更新服务器中电量管理产品序列号信息的同时，在本地文件中备份一份序列号信息，当在电量管理产品烧录过程中进行序列号信息采集时检测网络信号延时过长的，超过一定时限，则自动开启本地数据采集模式，从本地获取序列号信息， 根据权利要求5所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的下位机模块程序采用并行通信方式，采用双串口双向通信模式，在校验读取产品电压电流精度基准时多通道并行读取产品电压电流精度基准。
6.根据权利要求6所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，只在所述的校验过程中进行电压电流精度的基准读取，然后存储于本地数据库中。
7.若对应通道电压电流基准数据在指定规格范围内，则以当前最新的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值，否则以当前通道已判定可用的最近的电压电流基准数据作为下一次校准的标准值。
8.根据权利要求1所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的上下位机通信采用循环发送指令，一旦上位机接收到下位机反馈回来的信号，则智能跳出循环。
9.根据权利要求1所述的电量管理IC校准校验方法，其特征在于，所述的串口通信的波特率至少为57600B，并通过修改下位控制软件，使用简化的下拉程序嵌套层次。
【文档编号】G01R31/00GK104267290SQ201410527494
【公开日】2015年1月7日 申请日期:2014年10月9日 优先权日:2014年10月9日
【发明者】邓振东, 陈思波, 黄建科 申请人:惠州市蓝微电子有限公司