光学材料色散高精度测量装置制造方法
【专利摘要】本实用新型提供一种成本低、结构简单的对光学材料的色散进行高精度测量的装置。光学材料色散高精度测量装置，沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规、平面反射镜和测微自准望远镜。本实用新型建立一套由测微自准望远镜和透射式光学角规构成的装置，利用透射式光学角规和测微自准望远镜测量光学材料的色散角以及一般精度的测角仪测量光学材料的顶角和偏向角，然后通过计算得到光学材料的色散值，避免使用高精度大型精密测角仪，从而实现低成本高精度测量光学材料的色散的目的。
【专利说明】光学材料色散高精度测量装置
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及一种测量装置，特别是涉及一种对光学材料的色散进行高精度测
量的装置。
【背景技术】
[0002]由于介质对不同波长的光存在折射率的差异，而白光是由不同波长的各色光组成，因此白光在经介质折射时会发生色散现象。光学材料的色散参数是进行光学设计的基础，只有精确掌握光学材料色散的可靠数据，才能根据要求完成高质量的设计工作。而对于光学材料研究制造者而言，确定所研究的光学材料的色散性能指标是重要的基本内容，是进行材料评定的技术基础，也是生产定型的参考依据，因此，对光学材料色散参数的精确测定是使用、研制光学材料的前提。
[0003]目前，光学材料色散的高精度测量是通过最小偏向角法分别测出样品对λi和λ 2的折射率ηλ1和ηλ2，再求出色 散ηλ1-ηλ2。由于色散的高精度测量要求达到10_6量级，因此通常采用1"以上的大型精密测角仪来测量。但精密测角仪价钱高昂、构造复杂，对使用环境和操作者有较高要求，不适用于生产、工程等方面的广泛应用。
实用新型内容
[0004]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种成本低、结构简单的对光学材料的色散进行高精度测量的装置。
[0005]本实用新型解决技术问题所采用的技术方案是:光学材料色散高精度测量装置，沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规、平面反射镜和测微自准望远镜，所述测角仪包括平行光管和载物台，所述透射式光学角规包括调整转台。
[0006]进一步的，所述测角仪精度为2"或3"。
[0007]本实用新型的有益效果是:本实用新型建立一套由测微自准望远镜和透射式光学角规构成的装置，利用透射式光学角规和测微自准望远镜测量光学材料的色散角以及一般精度的测角仪测量光学材料的顶角和偏向角，然后通过计算得到光学材料的色散值，避免使用高精度大型精密测角仪，从而实现低成本高精度测量光学材料的色散的目的。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0009]如图1所示，本实用新型沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规4、平面反射镜6和测微自准望远镜7。所述测角仪满足精度为2"甚至3"就可以了，这样就可以利用一般精度的测角仪，实现高精度测量光学材料的色散的目的。
[0010]测试时，将光学材料试样3放置在测角仪的载物台2上，测角仪的平行光管I发出的光束入射到光学材料试样3上，光束经过光学材料试样3后被色散开后，通过透射式光学角规4，转动透射式光学角规4的调整转台5，使透射式光学角规4产生的标准偏向角，补偿测量过程中两条不同谱线所产生的色散角，然后光束经平面反射镜6转向后，入射到测微自准望远镜7，通过测微自准望远镜7就可以直接测量色散角，再通过测角仪测量光学材料试样3的顶角和偏向角，就可以计算出光学材料试样3的色散,从而实现对光学材料试样3的色散进行高精度的测量目的。
【权利要求】
1.光学材料色散高精度测量装置，其特征在于:沿光路依次包括测角仪、透射式光学角规(4)、平面反射镜(6)和测微自准望远镜(7)，所述测角仪包括平行光管(I)和载物台(2)，所述透射式光学角规(4)包括调整转台(5)。
2.如权利要求1所述的光学材料色散高精度测量装置，其特征在于:所述测角仪精度为2〃或3〃。
【文档编号】G01N21/43GK203798731SQ201420131316
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年3月21日 优先权日:2014年3月21日
【发明者】周佺佺 申请人:成都光明光电股份有限公司