高压开关动特性测试仪校验装置制造方法
【专利摘要】高压开关动特性测试仪校验装置。目前高压开关特性测试仪器不断出新，但校验设备仍存在功能简单，工作效率低等不足。本产品组成包括：壳体（1），壳体内安装有衰减电路（2）、放大电路（3），衰减电路与交直流转换电路（4）连接，交直流转换电路与A/D转换器（5）连接，A/D转换器与光电耦合器A（6）连接，放大电路与整流电路（7）连接，整流电路与调理电路（8）连接，调理电路与与输入电路（9）连接，输入电路与光电耦合器B（10）连接，光电耦合器A、光电耦合器B分别与微处理器（11）连接，微处理器与显示电路（12）、键盘控制电路（13）、时基电路（14）、电源电路（15）连接。本实用新型用于校验高压开关动特性测试仪。
【专利说明】高压开关动特性测试仪校验装置
[0001]【技术领域】:
[0002]本实用新型涉及一种高压开关动特性测试仪校验装置。
[0003]【背景技术】:
[0004]随着科学技术的发展，智能型高压开关动特性测试仪器不断出新，但对应的校验技术和设备仍比较落后，存在着功能简单，自动化程度不高，校验接线复杂，附加误差不确定，工作效率低等不足，影响了其发展和应用。
[0005]实用新型内容:
[0006]本实用新型的目的是提供一种高压开关动特性测试仪校验装置。
[0007]上述的目的通过以下的技术方案实现:
[0008]一种高压开关动特性测试仪校验装置，其组成包括:壳体，所述的壳体内安装有衰减电路、放大电路，所述的衰减电路与交直流转换电路连接，所述的交直流转换电路与A/D转换器连接，所述的A/D转换器与光电耦合器A连接，所述的放大电路与整流电路连接，所述的整流电路与调理电路连接，所述的调理电路与输入电路连接，所述的输入电路与光电耦合器B连接，所述的光电耦合器A、所述的光电耦合器B分别与微处理器连接，所述的微处理器与显示电路、键盘控制电路、时基电路、电源电路连接。
[0009]所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的壳体上具有显示屏、操作按键，所述的显示屏与所述的显示电路连接，所述的操作按键与所述的键盘控制电路连接。
[0010]所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的微处理器是单片机，所述的单片机的型号为AT89S52。
[0011]所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的交直流转换电路包括电阻R1、电阻R2、跟随器Ul、真有效值转换器U2，所述的真有效值转换器U2的型号为AD536，实现被测电压的交、直流转换。
[0012]所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的A/D转换器包括A/ D芯片U3和外围电路，所述的A/D芯片的型号为ICL7135，是4位半双积分型转换器。
[0013]有益效果:
[0014]1.本实用新型的电量参数测量电路使输入的电压信号Ui经过衰减电路、交直流转换电路接入A/D转换器，变为数字信号，然后经光电耦合器A接入微处理器进行运算，经微处理器处理后的数据、信号以程序代码的形式传送到显示电路，在壳体的显示屏上给出测量结果，进而自动完成电量参数的校验工作。
[0015]2.本实用新型输入的合、分闸等时间参数、机械参数信号经过放大电路、整流电路、调理电路和输入电路，进行放大、整流、调理、整形，得到的数字信号经过光电耦合器B接入微处理器，微处理器对此信号进行识别和操作，输出相应的测量开关参数或机械参数的触发信号，去控制被校高压开关特性测试仪的运行，并显示开关参数或机械参数的测量结果。
[0016]3.本实用新型将被检高压开关动特性测试仪与高压开关动特性测试仪校验装置各端子对应相连，由校验装置给出合、分闸时间，合、分闸同期性及弹跳时间等测量时间参数的触发信号，同时记录被测高压开关动特性测试仪相应参数的测量值，比较校验装置和测试仪二者的差异，即可实现被测高压开关动特性测试仪各参数的校准。
[0017]4.本实用新型的输入信号处理电路与微处理器的接口，都是经过光电耦合器来实现信号的传送的，这样能够将系统与现场进行电气隔离，防止干扰的窜入，保证系统的运行稳定。
[0018]【专利附图】
【附图说明】:
[0019]附图1是本实用新型的结构示意图。
[0020]附图2是附图1中微处理器的第一部分的电路原理图。
[0021]附图3是附图1中微处理器的第二部分的电路原理图。
[0022]附图4是附图1中电源电路的电路原理图。
[0023]附图5是附图1中交直流转换电路与A/D转换器连接的电路原理图。
[0024]图中:相同符号线路之间具有连接关系。
[0025]【具体实施方式】:
[0026]实施例1:
[0027]—种高压开关动特性测试仪校验装置，其组成包括:壳体1，所述的壳体内安装有衰减电路2、放大电路3，所述的衰减电路与交直流转换电路4连接，所述的交直流转换电路与A/D转换器5连接，所述的A/D转换器与光电耦合器A，件号:6连接，所述的放大电路与整流电路7连接，所述的整流电路与调理电路8连接，所述的调理电路与输入电路9连接，所述的输入电路与光电稱合器B,件号:10连接,所述的光电稱合器A、所述的光电稱合器B分别与微处理器11连接，所述的微处理器与显示电路12、键盘控制电路13、时基电路14、电源电路15连接。
[0028]实施例2:
[0029]根据实施例1所述的高压开关动特性测试仪校验装置，其特征是:所述的壳体上具有显示屏、操作按键，所述的显示屏与所述的显示电路连接，所述的操作按键与所述的键盘控制电路连接。
[0030]实施例3:
[0031]根据实施例1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的微处理器是单片机，所述的单片机的型号为AT89S52。
[0032]实施例4:
[0033]根据实施例1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的交直流转换电路包括电阻R1、电阻R2、跟随器Ul、真有效值转换器U2、，所述的电阻R1、所述的电阻R2对输入电压Ui进行分压，所述的跟随器Ul是电路的输入级，所述的真有效值转换器U2的型号为AD536，实现被测电压的交、直流转换；
[0034]实施例5:
[0035]根据实施例1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，所述的A/D转换器包括A/ D芯片U3和外围电路，所述的A/D芯片的型号为ICL7135，是4位半双积分型转换器。所述的A/D芯片的三根信号线中，POL是被测电压的极性标志信号，BUSY是转换器的工作状态输出端，CLK是外接时钟输入端，这三根信号线接入所述的单片机，由所述的单片机采集数据，进行处理，再由所述的显示屏进行显示，实现被测电压的测量。
【权利要求】
1.一种高压开关动特性测试仪校验装置，其组成包括:壳体，其特征是:所述的壳体内安装有衰减电路、放大电路，所述的衰减电路与交直流转换电路连接，所述的交直流转换电路与A/D转换器连接，所述的A/D转换器与光电耦合器A连接，所述的放大电路与整流电路连接，所述的整流电路与调理电路连接，所述的调理电路与输入电路连接，所述的输入电路与光电耦合器B连接，所述的光电耦合器A、所述的光电耦合器B分别与微处理器连接，所述的微处理器与显示电路、键盘控制电路、时基电路、电源电路连接。
2.根据权利要求1所述的高压开关动特性测试仪校验装置，其特征是:所述的壳体上具有显示屏、操作按键，所述的显示屏与所述的显示电路连接，所述的操作按键与所述的键盘控制电路连接。
3.根据权利要求1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，其特征是:所述的微处理器是单片机，所述的单片机的型号为AT89S52。
4.根据权利要求1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，其特征是:所述的交直流转换电路包括电阻R1、电阻R2、跟随器U1、真有效值转换器U2，所述的真有效值转换器U2的型号为AD536，实现被测电压的交、直流转换。
5.根据权利要求1或2所述的高压开关动特性测试仪校验装置，其特征是:所述的A/D转换器包括A/ D芯片U3和外围电路，所述的A/D芯片的型号为ICL7135，是4位半双积分型转换器。
【文档编号】G01R35/00GK203745637SQ201420134123
【公开日】2014年7月30日 申请日期:2014年3月24日 优先权日:2014年3月24日
【发明者】黄吉胜, 牛滨, 敖红光, 周绍杰, 贾欣怡 申请人:哈尔滨理工大学