数显卡尺细分误差检校装置制造方法
【专利摘要】数显卡尺细分误差检校装置。包括支撑脚、检具主体、测量槽、量块、支承座、压板、沉头螺钉在内，其特征在于：检具主体长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽，测量槽内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块的支承座，支承座的槽内分别搁置量块，量块嵌入后由矩形中空的压板覆盖在检具主体上平面，用沉头螺钉将压板固定在检具主体上。与现有技术相比，支撑脚使检具主体前高后低，量块间留有数显卡尺量爪测量空间，保证了检校时量块工作面的长边和卡尺测量面长边垂直，测量时读数视角开阔，无需用手等接触量块，避免了手温对测量的影响，节省了时间并有效保证了检校质量，从而提高了数显卡尺检校的工作效率。
【专利说明】数显卡尺细分误差检校装置
【技术领域】
[0001]本实用新型数显卡尺细分误差检校装置，涉及的是几何量测量标准细分误差专用量块等距定位专用检具的设计制造【技术领域】，具体涉及是检定、校准用的数显卡尺细分误差检校装置。
【背景技术】
[0002]JJG30-2012《通用卡尺》检定规程中增加了对数显类卡尺需要检定细分误差的要求，在4.9和6.3.12.2条款中分别作出了相应测量点的示值最大允许误差和检定细分误差测量点等技术要求。而数显卡尺细分误差专用标准量块是一种高精度的实物量具，主要选择lmm、2mm、3mm、4mm、5mm作为细分误差测量点，则要用3级或5等的1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块共5个作为外尺寸测量标准，专用于数显卡尺细分误差的检定。但1mm、2mm、3mm、4mm、5mm专用标准量块是较短小又较薄的实物量具，检定校准时如无专用检具支架等将量块固定，留出一定的可测量空间，夹持量块时较为麻烦，手持量块检定操作有诸多不便；为了适应JJG30-2012《通用卡尺》检定规程的要求，急需有符合检定规程规定要求的可固定放置专用量块的数显卡尺细分误差专用检校装置问世。
实用新型内容
[0003]本实用新型目的在于克服上述现有技术的不足，设计一种在检校装置上，将5个数显卡尺专用lmm、2mm、3mm、4mm、5_量块进行等距放置后有效固定量块，并留出卡尺量爪的检测空间，分别形成1mm、2mm、3mm、4mm、5mm共5个外尺寸测量标准,可专用于数显卡尺细分误差的检测的数显卡尺细分误差检校装置。
[0004]本实用新型的技术方案如下:包括支撑脚、检具主体、测量槽、量块、支承座、压板、沉头螺钉在内，其特征在于:检具主体长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽，测量槽内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块的支承座，支承座的槽内分别搁置量块，量块嵌入后由矩形中空的压板覆盖在检具主体上平面，用沉头螺钉将压板固定在检具主体上；
[0005]所述的测量槽内从左到右的顺序分别开有搁置1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块的支承座，按规格嵌入1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块；
[0006]所述的支撑脚的前端高于后端，形成检具主体平面向后倾斜的状态。
[0007]本实用新型的有益效果是:与现有技术相比，支撑脚使检具主体前高后低，量块间留有数显卡尺量爪测量空间，保证了检校时量块工作面的长边和卡尺测量面长边垂直，测量时读数视角开阔，无需用手等接触量块，避免了手温对测量的影响，节省了时间并有效保证了检校质量，从而提高了数显卡尺检校的工作效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0008]图1是本实用新型立体剖视结构示意图，
[0009]其中:1-支撑脚、2-检具主体、3-测量槽、4-量块、5-支承座、6_压板、7_沉头螺钉
【具体实施方式】
[0010]以下结合附图，对本实用新型作进一步描述:
[0011]检具主体2长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽3，测量槽3内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块4的支承座5，支承座5的槽内分别搁置量块4，量块4嵌入后由矩形中空的压板6固定量块4的两端，再用沉头螺钉7将压板6固定在检具主体2上；所述的测量槽3内从左到右的顺序分别开有搁置1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块4的支承座5,按规格嵌入1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块4 ;所述的检具主体2的支承座5上嵌入量块4后由矩形中空压板6将量块4两端上平面固定，压板6的两端用沉头螺钉7在检具主体2上固定；所述的支撑脚I的前端高于后端，形成检具主体2平面向后倾斜的状态。
[0012]见附图1，制造时，首先按图纸要求加工检具主体2、在检具主体2长度方向的中间部位加工出矩形中空测量槽3，其次在检具主体2的测量槽3内前后两侧等距离间隔的位置上加工出lmm、2mm、3mm、4mm、5mm的可搁置量块4的支承座3,再将支撑脚I以前高后低的形式安装在检具主体2下端，然后将量块4嵌入在支承座3上，即支承座3的槽内从左至右分别有1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块4,最后由矩形中空压板6将量块4两端上平面固定,压板6的两端用沉头螺钉7在检具主体2上进行固定，组成数显卡尺细分误差检校装置。
[0013]例，当需对数显卡尺细分误差进行检校时，将数显卡尺的量爪在数显卡尺细分误差检校装置上从左到右分别夹持lmm、2mm、3mm、4mm、5_量块4进行测量,就可对数显卡尺细分误差进行各测量点的检校。对照JJG30-2012《通用卡尺》检定规程中表6的规定，判定是否合格。
【权利要求】
1.数显卡尺细分误差检校装置，包括支撑脚、检具主体、测量槽、量块、支承座、压板、沉头螺钉在内；其特征在于:检具主体长度方向的中间部位开有矩形中空测量槽，测量槽内前后两侧等距离间隔的位置上开有搁置量块的支承座，支承座的槽内分别搁置量块，量块嵌入后由矩形中空的压板覆盖在检具主体上平面，用沉头螺钉将压板固定在检具主体上。
2.根据权利要求1所述的数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于:所述的测量槽内从左到右的顺序分别开有搁置1mm、2mm、3mm、4mm、5mm量块的支承座，按规格嵌入lmm、2mm、3mm、4mm、5mm 量块。
3.根据权利要求1所述的数显卡尺细分误差检校装置，其特征在于:所述的支撑脚的前端高于后端，形成检具主体平面向后倾斜的状态。
【文档编号】G01B5/00GK203798271SQ201420147836
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年3月28日 优先权日:2014年3月28日
【发明者】黄守义, 陶三春, 张超, 张宇, 曹盛华, 张耀明 申请人:上海市浦东新区计量质量检测所