温度传感器检定用支架的制作方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种温度传感器检定用支架，包括支架本体，所述支架本体上端开口，包括侧壁部分、边沿部分和底面部分，所述侧壁部分和所述底面部分围合成一圆台状空腔，该圆台状空腔的上底面直径大于下底面直径，所述侧壁部分具有若干个筛孔或筛缝，所述边沿部分呈环形，该环形内边与所述侧壁部分的上端固定连接。本实用新型的温度传感器检定用支架由于其底面不设圆孔，解决了温度传感器的温度探头与圆孔之间的摩擦问题，且底面较小，标准温度传感器的温度探头和待检温度传感器的温度探头距离更近。本实用新型支架具有三个优点：（1）提高了温度检测准确度；（2）保护温度传感器探头不受损伤；（3）结构虽简单，但非常实用，便于大量的检测工作。
【专利说明】温度传感器检定用支架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及热量表的检定【技术领域】，尤其是一种温度传感器检定用支架。
【背景技术】
[0002]热量表主要由流量传感器、配对温度传感器和计算器组成，热量表的工作原理是:将配对温度传感器分别安装在热交换回路的入口和出口管道上，将流量传感器安装在入口或出口管道上；流量传感器发出流量信号，配对温度传感器给出入口和出口的温度信号，计算器采集流量信号和温度信号，经过计算，显示出载热液体从入口至出口所释放的热量。
[0003]在热量表的温度传感器检定装置中，一般使用恒温水槽模拟进出口温度，以对两个温度传感器进行检定。恒温水槽内温度的稳定性和均匀性是恒温水槽的关键技术参数，它关系到检定结果的准确性，恒温水槽内设有加热系统和搅拌器；为了保证检定的有序性，现有技术常用一种六棱柱形支架容纳多个待检温度传感器和一个标准温度传感器。例如:待检的高温端温度传感器和标准高温端温度传感器通过一个支架放置于恒温水槽的高温端；待检的低温端温度传感器和标准低温端温度传感器通过另一个支架放置于恒温水槽的低温端，分别对比高温端温度与标准高温端温度、低温端温度与标准低温端温度，以及温度与标准温差，如果它们在允许误差范围内，则检定合格。
[0004]现有技术中，温度传感器检定用支架示意图如图1?2所示，支架呈六棱柱型网状结构，其支架的底面需要设计多个圆孔，其目的是保证支架内温度场的均匀性。但是目前这个支架存在以下问题:
[0005](I)由于待检的温度传感器多为铠装的钼电阻温度传感器，温度传感器的温度探头有可能通过圆孔伸出支架，尤其是标准温度传感器的温度探头较细，经常出现标准温度传感器的温度探头伸出支架外的情况。这种情况下，温度探头与圆孔的摩擦会对温度传感器的温度探头有损伤。
[0006](2)在温度传感器的检测中，温度探头的测温区在探头顶端。由于一次测量中进行多个温度传感器的检测，多个温度探头和标准温度探头在支架中较为杂乱，且多个温度探头之间距离较远，这样温场的波动性对温度测量准确度有影响。
实用新型内容
[0007]本实用新型针对现有技术的不足，提出一种温度传感器检定用支架，温度传感器的温度探头与圆孔之间的摩擦问题，且底面较小，标准温度传感器的温度探头和待检温度传感器的温度探头距离更近；提高了温度检测准确度；保护温度传感器探头不受损伤；结构虽简单，但非常实用，便于大量的检测工作。
[0008]为了实现上述实用新型目的，本实用新型提供以下技术方案:一种温度传感器检定用支架，包括支架本体，所述支架本体上端开口，包括侧壁部分、边沿部分和底面部分，所述侧壁部分和所述底面部分围合成一圆台状空腔，该圆台状空腔的上底面直径大于下底面直径，所述侧壁部分具有若干个筛孔或筛缝，所述边沿部分呈环形，该环形内边与所述侧壁部分的上端固定连接。
[0009]进一步地，所述底面部分呈圆片状。
[0010]进一步地，所述侧壁部分的筛缝是长条形缝隙。
[0011]进一步地，所述侧壁部分的筛缝宽度小于被检温度传感器的温度探头直径。
[0012]进一步地，所述侧壁部分的筛孔或筛缝的延伸方向是沿侧壁部分的上下方向。
[0013]进一步地，侧壁部分从上至下分为若干个侧壁区，每个侧壁区上的筛孔或筛缝大小相同，它们在侧壁区的圆台面上均匀设置。
[0014]进一步地，所述支架本体的上端开口直径是底面部分直径的4倍。
[0015]进一步地，所述支架本体的上端开口直径为80mm，底面部分的直径为20mm。
[0016]进一步地，所述支架本体的高度是250mm。
[0017]进一步地，所述侧壁部分的筛缝是长条形缝隙，且宽度不超过4mm。
[0018]与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果:
[0019](I)本实用新型的温度传感器检定用支架，其底面不设圆孔，标准温度探头和被检温度探头不会出现伸出支架外的情况，避免了温度传感器的温度探头因与圆孔之间摩擦造成的损伤，起到保护温度探头的作用。
[0020](2)本实用新型的温度传感器检定用支架，由于其底面较小，不会影响支架内温度场的均匀性，而标准温度传感器的温度探头和待检温度传感器的温度探头距离更接近，排列更有序，在较小的区域内，温度场更为稳定，降低了温度场不均匀性对测温结果的影响，使得检定的准确度提高。
[0021](3)本实用新型的温度传感器检定用支架，结构简单，非常适于实用。
【专利附图】
【附图说明】
[0022]图1是现有技术温度传感器检定用支架的结构示意图；
[0023]图2是图1的底面仰视图；
[0024]图3是本实用新型的结构示意图；
[0025]图4是本实用新型的温度传感器检定用支架的正面视图；
[0026]图5是图4的仰视图；
[0027]其中:
[0028]1-支架本体，11-侧壁部分，111-筛缝，12-边沿部分，13-底面部分。
【具体实施方式】
[0029]下面结合附图对本实用新型进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本实用新型的保护范围有任何的限制作用。
[0030]如图3?5所示的一种温度传感器检定用支架，包括支架本体I，支架本体I上端开口，包括侧壁部分U、边沿部分12和底面部分13。
[0031]底面部分13呈圆片状，侧壁部分11和底面部分13围合成一圆台状空腔，该圆台状空腔的上底面直径大于下底面直径，优选地，上底面直径是下底面直径的4倍，即支架本体I的上端开口直径是底面部分直径的4倍。
[0032]侧壁部分11具有若干个筛缝111，作为一种实施方式，筛缝111是长条形缝隙，筛缝宽度小于被检温度传感器的温度探头直径。在其它实施例中，筛缝111也可是其它形状，但也应保证温度传感器探头不能穿过筛缝。作为一种实施方式，筛缝111的延伸方向是沿侧壁部分的上下方向。作为一种实施方式，侧壁部分11从上至下分为若干个侧壁区，每个侧壁区上的筛缝111大小相同，它们在侧壁区的圆台面上均匀设置。
[0033]边沿部分12呈环形，其内边与所述侧壁部分11的上端固定连接，或由侧壁部分11的上端水平向外延伸而成。
[0034]在实际使用中，常用的温度传感器检定用支架，其支架本体的上端开口直径为80mm,底面部分的直径为20mm，支架本体的高度是250mm，筛缝是长条形缝隙，且宽度不超过4_。边沿部分12将支架本体I架设于恒温水槽的槽孔上,支架本体I的其它部分则浸入到水槽中。用于检定热量表的温度传感器的恒温水槽一般设有高温区和低温区，高温区和低温区分别设有槽孔。分别将多个待检热量表的高温端温度传感器与高温端标准温度传感器放置到一个支架本体I的空腔内，将测量值与标准值对比；多个待检热量表的低温端温度传感器和低温端标准温度传感器放置于另一个支架本体I的空腔内，将测量值与标准值对比；同时也分别进行温差与标准温差的对比等，然后判定被检温度传感器合格与否。
[0035]最后应说明的是:以上仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，但是凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
【权利要求】
1.一种温度传感器检定用支架，其特征在于:包括支架本体，所述支架本体上端开口，包括侧壁部分、边沿部分和底面部分，所述侧壁部分和所述底面部分围合成一圆台状空腔，该圆台状空腔的上底面直径大于下底面直径，所述侧壁部分具有若干个筛孔或筛缝，所述边沿部分呈环形，该环形内边与所述侧壁部分的上端固定连接。
2.根据权利要求1所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述底面部分呈圆片状。
3.根据权利要求1所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述侧壁部分的筛缝是长条形缝隙。
4.根据权利要求3所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述侧壁部分的筛缝宽度小于被检温度传感器的温度探头直径。
5.根据权利要求1所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述侧壁部分的筛孔或筛缝的延伸方向是沿侧壁部分的上下方向。
6.根据权利要求5所述温度传感器检定用支架，其特征在于:侧壁部分从上至下分为若干个侧壁区，每个侧壁区上的筛孔或筛缝大小相同，它们在侧壁区的圆台面上均匀设置。
7.根据权利要求1所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述支架本体的上端开口直径是底面部分直径的4倍。
8.根据权利要求7所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述支架本体的上端开口直径为80mm,底面部分的直径为20mm。
9.根据权利要求8所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述支架本体的高度是250mmo
10.根据权利要求3所述温度传感器检定用支架，其特征在于:所述侧壁部分的筛缝是长条形缝隙，且宽度不超过4mm。
【文档编号】G01K15/00GK203758648SQ201420153484
【公开日】2014年8月6日 申请日期:2014年3月31日 优先权日:2014年3月31日
【发明者】朱锐, 郑云林, 梁芳, 王锦荣, 王鹏, 黄湘来 申请人:新疆维吾尔自治区计量测试研究院