电容触控传感器测试仪的制作方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种电容触控传感器测试仪，包括DSP处理器，以及源程序存储器、校正接口、静态随机存储器、第一CPLD逻辑器件和第二CPLD逻辑器件实现信号的输出以及反馈，第一CPLD逻辑器件与扫描卡控制接口、掉电自动存储器以及通讯电路连接实现信号的输出以及反馈，第二CPLD逻辑器件分别与直接数字频率合成器DDS、程控放大电路、程控I/V转换电路、输出选择开关以及数模转换D/A连接实现信号传递。DSP处理器发出测量信号，被测物体通过扫描卡测量到的信号传递到程控放大器转换成合适测量的电压信号，由主LFP低通电路将模拟信号通过ADC数模转换器转化为数字信号，通过DSP处理器处理活动准确度较高的阻抗、电感量、电容量等，测试高效快捷，方便观察、计量以及后期分析。
【专利说明】电容触控传感器测试仪
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及电子技术行业中的一种测试设备，尤其是涉及一种电容触控传感器测试仪。
【背景技术】
[0002]在电子【技术领域】中，随着电子产品和元器件的广泛使用，国内电子产品的技术和性能也在不断的发展和提高，国内相关行业对元器件的检测技术的要求也在不断提高，特别是为了确保元器件使用时其自身技术参数的性能需要获得可靠的数据，目前，再对元器件进行测试大多采用ARM处理器，只能对单一元件进行检测，且测量速度较慢，获得的数值有偏差。
【发明内容】
[0003]本实用新型所要解决的技术问题是提供一种能够高效、准确、快捷的进行显示以便后期数据分析的电容触控传感器测试仪。
[0004]本实用新型解决其技术问题所采取的技术方案是:一种电容触控传感器测试仪，包括DSP处理器，以及与DSP处理器连接的源程序存储器、校正接口、静态随机存储器、第一CPLD逻辑器件和第二 CPLD逻辑器件实现信号的输出以及反馈，所述的第一 CPLD逻辑器件与扫描卡控制接口、掉电自动存储器以及通讯电路连接实现信号的输出以及反馈，所述的通讯电路与GPIB/RS2332接口连接实现信号的输出以及反馈；所述的第二 CPLD逻辑器件分别与直接数字频率合成器DDS、程控放大电路、程控I/V转换电路、输出选择开关以及数模转换D/A连接实现信号传递；所述的直接数字频率合成器DDS将信号传递给主LFP低通电路，所述的主LFP低通电路分别将信号传递给输出程控发大电路以及四组模拟乘法器，所述的数模转换D/A将信号分别传递给二极体测试恒压恒流输出电路以及输出程控放大电路；所述的输出选择开关接收到第二 CPLD逻辑器件的信号并对二极体测试恒压恒流输出电路、输出程控放大电路以及DCR恒流电路输出的信号选择接收，之后将接收信号传递给扫描卡；所述的扫描卡接收扫描卡控制接口以及输出选择开关的信号对被检测物进行检测并将被检测物的信号传递给差分测量电路以及程控I/V转换电路，所述的差分测量电路将信号传递给电子选择开关；所述的程控I/V转换电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及扫描卡的信号传递给电子选择开关，所述的电子选择开关将选择后的信号传递给程控放大电路，所述的程控放大电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及电子选择开关输出的信号输出到四组模拟乘法器内处理；模拟乘法器内的信号通过支LFP低通电路传递给ADC模数转化器之后反馈给第二 CPLD逻辑器件。
[0005]进一步地，为了方便输出报警信号，所述的DSP处理器与蜂鸣器连接。
[0006]进一步地，所述的DSP处理器与用于控制开始或停止测量并且送出判定结果信号的控制判定电路连接。
[0007]本实用新型的有益效果是:采用了上述测量电路之后，DSP处理器发出测量信号，被测物体通过扫描卡测量到的信号传递到程控放大器转换成合适测量的电压信号，再由主LFP低通电路将获得的模拟信号通过ADC数模转换器转化为数字信号，并通过DSP处理器处理活动准确度较高的阻抗、电感量、电容量等，测试高效快捷，方便观察、计量以及后期分析。
[0008]【专利附图】
【附图说明】:
[0009]图1是本实用新型的原理框图。
[0010]【具体实施方式】:
[0011]下面结合附图对本实用新型作详细的描述。
[0012]如图1所示一种电容触控传感器测试仪，包括DSP处理器，以及与DSP处理器连接的源程序存储器、校正接口、静态随机存储器、第一 CPLD逻辑器件和第二 CPLD逻辑器件实现信号的输出以及反馈，所述的第一 CPLD逻辑器件与扫描卡控制接口、掉电自动存储器以及通讯电路连接实现信号的输出以及反馈，所述的通讯电路与GPIB/RS2332接口连接实现信号的输出以及反馈；所述的第二 CPLD逻辑器件分别与直接数字频率合成器DDS、程控放大电路、程控ΙΛ转换电路、输出选择开关以及数模转换D/A连接实现信号传递；所述的直接数字频率合成器DDS将信号传递给主LFP低通电路，所述的主LFP低通电路分别将信号传递给输出程控发大电路以及四组模拟乘法器，所述的数模转换D/A将信号分别传递给二极体测试恒压恒流输出电路以及输出程控放大电路；所述的输出选择开关接收到第二CPLD逻辑器件的信号并对二极体测试恒压恒流输出电路、输出程控放大电路以及DCR恒流电路输出的信号选择接收，之后将接收信号传递给扫描卡；所述的扫描卡接收扫描卡控制接口以及输出选择开关的信号对被检测物进行检测并将被检测物的信号传递给差分测量电路以及程控Ι/v转换电路，所述的差分测量电路将信号传递给电子选择开关；所述的程控Ι/v转换电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及扫描卡的信号传递给电子选择开关，所述的电子选择开关将选择后的信号传递给程控放大电路，所述的程控放大电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及电子选择开关输出的信号输出到四组模拟乘法器内处理；模拟乘法器内的信号通过支LFP低通电路传递给ADC模数转化器之后反馈给第二 CPLD逻辑器件。
[0013]为了能够输出报警信号，所述的DSP处理器与蜂鸣器连接。
[0014]所述的DSP处理器与用于控制开始或停止测量并且送出判定结果信号的控制判定电路连接。
[0015]DSP处理器发出测量信号，被测物体通过扫描卡测量到的信号传递到程控放大器转换成合适测量的电压信号，再由主LFP低通电路将获得的模拟信号通过ADC数模转换器转化为数字信号，并通过DSP处理器处理活动准确度较高的阻抗、电感量、电容量等，测试高效快捷，方便观察、计量以及后期分析。
[0016]DSP处理器:负责整个测试仪的内部电路的控制，包括所有放大电路增益的控制；信号通道的选择；直接数字信号合成器DDS的输出信号幅度、相位、频率的设置；D/A转换的控制；通讯电路以及各种接口的控制；外部信号输入输出的控制，同时DSP处理器还负责测试仪的所有参数运算。
[0017]源程序存储器:用于存放DSP处理器的源程序。
[0018]静态随机存储器:用于DSP处理器高速缓存。
[0019]第一 CPLD逻辑器件、第二 CPLD逻辑器件:用于DSP处理器与各模块电路之间的连接。
[0020]掉电自动存储器:用于存储仪器所有设定值数据。
[0021]扫描卡控制接口:用于连接扫描卡切换通道。
[0022]校正接口:用于连接外部校正设备。
[0023]通讯电路与GPIB/RS2332接口:用于与计算机连接，以方便由计算机控制本仪器。
[0024]直接数字信号合成器DDS=DSP通过数据总线控制其输出幅度、相位、频率，输出频率范围可从20Hz至IMz，该信号传递给主LFP低通电路。
[0025]LFP低通电路:该电路滤除掉不需要的信号成分，将有用信号送至输出程控放大电路以及四组模拟乘法器。
[0026]D/A数模转换:将数字信号转化为模拟信号输出到二极体测试恒压恒流输出电路与输出程控放大电路。
[0027]二极体测试恒压恒流输出电路:用于输出二极管测试电压或电流并将信号输出至输出选择开关。
[0028]DCR恒流电路:用于输出固定的电流值便于测得精密的DC电阻。
[0029]输出选择开关:接收到第二 CPLD逻辑器件信号进行选择二极体测试恒压恒流输出电路、输出程控放大电路或者DCR恒流电路中的一路。
[0030]输出程控放大电路:将直接数字信号合成器输出的正弦波信号进行放大并输出至输出选择开关。
[0031]扫描卡:主要用于扫描通道的切换，接收到第一 CPLD逻辑器件通过扫描卡控制接口以及输出选择开关发出的信号，对被测物体进行扫描之后输出至差分测量电路以及程控Ι/v转换电路。
[0032]程控I/V转换电路:将电流信号转化为电压信号并将其放大，DSP处理器根据信号幅度的大小控制放大倍数。
[0033]电子选择开关:用于选择差分测量电路与程控I/V转换电路的输出信号的选择。
[0034]程控放大电路:用于将电流信号或者电压信号转化为一个合适测量的电压信号并输出至四组模拟乘法器。
[0035]蜂鸣器:用于输出报警信号。
[0036]工作时，DSP处理器根据设定的测试参数通过第二 CPLD逻辑器件控制直接数字频率合成器DDS、数模转换D/A、程控I/V转换电路以及程控放大电路，直接数字频率合成器DDS输出信号通过LFP低通电路传递给输出程控放大电路和四组模拟乘法器，同时，数模转换D/A将信号传递给二极体测试恒压恒流输出电路和输出程控放大电路，输出选择开关接收到第二 CPLD逻辑器件的命令信号在二极体测试恒压恒流输出电路、输出程控放大电路或者DCR恒流电路选择一路接收信号，并将信号传递给扫描卡，扫描卡同时接收扫描卡控制接口的命令信号对被测物进行测试并输出至差分测量电路和程控ΙΛ转换电路，电子选择开关对差分测量电路或者程控ΙΛ转换电路选择一路做为输出信号并输出给程控放大电路将信号转化成为一合适测量的电压信号输出给四组模拟乘法器，四组模拟乘法器分别输出正弦波的0°、90°、180°以及270°的信号并通过支LFP低通电路滤除掉多余的信号输出至ADC数模转化器将模拟信号转化为数字信号反馈给DSP处理器进行进行处理，通过运算得到被测物的参数，并通过显示设备显示出来。
[0037]需要强调的是:以上仅是本实用新型的较佳实施例而已，并非对本实用新型作任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本实用新型技术方案的范围内。
【权利要求】
1.一种电容触控传感器测试仪，其特征在于，包括DSP处理器，以及与DSP处理器连接的源程序存储器、校正接口、静态随机存储器、第一 CPLD逻辑器件和第二 CPLD逻辑器件实现信号的输出以及反馈，所述的第一 CPLD逻辑器件与扫描卡控制接口、掉电自动存储器以及通讯电路连接实现信号的输出以及反馈，所述的通讯电路与GPIB/RS2332接口连接实现信号的输出以及反馈；所述的第二 CPLD逻辑器件分别与直接数字频率合成器DDS、程控放大电路、程控I/V转换电路、输出选择开关以及数模转换D/A连接实现信号传递；所述的直接数字频率合成器DDS将信号传递给主LFP低通电路，所述的主LFP低通电路分别将信号传递给输出程控发大电路以及四组模拟乘法器，所述的数模转换D/A将信号分别传递给二极体测试恒压恒流输出电路以及输出程控放大电路；所述的输出选择开关接收到第二CPLD逻辑器件的信号并对二极体测试恒压恒流输出电路、输出程控放大电路以及DCR恒流电路输出的信号选择接收，之后将接收信号传递给扫描卡；所述的扫描卡接收扫描卡控制接口以及输出选择开关的信号对被检测物进行检测并将被检测物的信号传递给差分测量电路以及程控Ι/v转换电路，所述的差分测量电路将信号传递给电子选择开关；所述的程控Ι/v转换电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及扫描卡的信号传递给电子选择开关，所述的电子选择开关将选择后的信号传递给程控放大电路，所述的程控放大电路接收到第二 CPLD逻辑器件以及电子选择开关输出的信号输出到四组模拟乘法器内处理；模拟乘法器内的信号通过支LFP低通电路传递给ADC模数转化器之后反馈给第二 CPLD逻辑器件。
2.根据权利要求1所述的电容触控传感器测试仪，其特征在于，所述的DSP处理器与蜂鸣器连接。
3.根据权利要求1所述的电容触控传感器测试仪，其特征在于，所述的DSP处理器与用于控制开始或停止测量并且送出判定结果信号的控制判定电路连接。
【文档编号】G01R31/00GK203981798SQ201420353744
【公开日】2014年12月3日 申请日期:2014年6月30日 优先权日:2014年6月30日
【发明者】唐志娟 申请人:苏州茂鼎电子科技有限公司