一种用于消除原子荧光光度计道间干扰的电路的制作方法

本实用新型涉及一种抗干扰电路，具体是一种用于消除原子荧光光度计道间干扰的电路。

背景技术：

原子荧光光度计利用原子荧光谱线的波长和强度进行物质定性及定量的检测方法，是一种优良的痕量分析仪器。现有技术中专利申请号：201210156612.0的多通道原子荧光光度计道间干扰消除电路，采用的方法是：在信号通过耦合电容的时间内，受控开关在控制脉冲作用下断开，使信号能够耦合到模拟和数字信号处理系统；在下一通道信号进来之前，受控开关在控制脉冲作用下闭合，使得耦合电容能通过电阻快速放电，去除耦合电容存储的当前通道信号，消除了对下一通道信号的影响。

这个专利采用的方法本质上是电容放电的方法，通过增加额外的放电电路，在下一通道信号到来之前，迅速将耦合电容里储存的上一通道的电荷释放，以此达到不影响下一通道的目的。这个方案的缺点之一是，耦合电容放电需要一定时间，下一通道的信号必须延迟固定的时间才能接入。这样检测完一个通道，不能马上检测下一个通道，使仪器检测总体时间大大延长。缺点之二是，这个方案总体上所有通道共用一套信号放大电路，除了前面所述耦合电容，组成放大电路的其它容抗器件也会有存储电荷的效应，虽然影响没有耦合电容明显，但是本质上肯定会对下一通道信号产生干扰。

专利申请号：200910182018.7的用于原子荧光光谱仪双道或多道道间干扰消除电路，其采用的方法是：在电路中通过放大器的前锋加入一级可调电位器与放大器的第一阶电容并联，通过调节这个电位器，可以将放大器产生的前一个脉冲信号的反响过冲对下一级的干扰完全消除，从而达到消除仪器道间干扰的目的。

这个专利也存在专利1中存在的两个缺点，其一是检测完一个通道，不能马上检测下一个通道，因为前一个脉冲信号存在反向过冲，使仪器检测总体时间大大延长。其二是，总体上所有通道共用一套信号放大电路，组成放大电路的容抗器件会有存储电荷的效应，本质上肯定会对下一通道信号产生干扰。

上述两个专利存在两个共同的缺点：

（1）检测完一个通道，不能马上检测下一个通道，使仪器检测总体时间大大延长。

（2）因所有通道共用一套信号放大电路，组成放大电路的容抗器件会有存储电荷的效应，本质上肯定会对下一通道信号产生干扰。

本发明采用一种创新的方案，从本质上彻底解决了这两个缺点。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便的用于消除原子荧光光度计道间干扰的电路，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

一种用于消除原子荧光光度计道间干扰的电路，包括整体方案由光电倍增管PMT、模拟开关SPDT1、电阻R1、电容C1和微处理器MCU，所述光电倍增管PMT的输出管脚SIG分别与各通道的输入模拟开关SPDT1常开管脚3和SPDT3的常开管脚3相连，模拟开关SPDT2的常开管脚3连接SPDT4的常开管脚3和模数转换器ADC的输入管脚1，模数转换器ADC的输出总线2和MCU输入总线1相连，模拟开关SPDT1的常闭管脚2与放电电阻R1一个管脚相连，电阻R1的另一管脚接地，SPDT1的公共管脚1和耦合电容C1的一个管脚相连，电容C1另一管脚和放电器A1的输入管脚1相连，放大器A1的输出管脚2和模拟开关SPDT2的公共管脚1相连，模拟开关SPDT2的常闭管脚2与放电电阻R2一个管脚相连，电阻R2的另一管脚和地相连。

作为本实用新型的优选方案：所述模拟开关SPDT1、电阻R1、电容C1、放大器A1、电阻R2和模拟开关SPDT2组成通道1。

作为本实用新型的优选方案：所述模拟开关SPDT3、电阻R3、电容C2、放大器A2、电阻R4和模拟开关SPDT4组成通道2。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型在采用双通道的方式，通道1和通道2可以进行无时间延迟的交替采集，从而避免了现有专利中必须等到前一个通道脉冲信号放电完毕之后，才能进行下一个通道的信号采集，大大缩短了仪器整体的信号采集时间。另外每个通道都有自己单独的一套信号放大电路，并且通过各自的模拟开关与其他通道完全隔离，从本质上彻底解决了通道间干扰的问题。

附图说明

图1为本实用新型双通道的电路图；

图2为双通道方案工作时序图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-2，一种用于消除原子荧光光度计道间干扰的电路，包括整体方案由光电倍增管PMT、模拟开关SPDT1、电阻R1、电容C1和微处理器MCU，所述光电倍增管PMT的输出管脚SIG分别与各通道的输入模拟开关SPDT1常开管脚3和SPDT3的常开管脚3相连，模拟开关SPDT2的常开管脚3连接SPDT4的常开管脚3和模数转换器ADC的输入管脚1，模数转换器ADC的输出总线2和MCU输入总线1相连，模拟开关SPDT1的常闭管脚2与放电电阻R1一个管脚相连，电阻R1的另一管脚接地，SPDT1的公共管脚1和耦合电容C1的一个管脚相连，电容C1另一管脚和放电器A1的输入管脚1相连，放大器A1的输出管脚2和模拟开关SPDT2的公共管脚1相连，模拟开关SPDT2的常闭管脚2与放电电阻R2一个管脚相连，电阻R2的另一管脚和地相连。

模拟开关SPDT1、电阻R1、电容C1、放大器A1、电阻R2和模拟开关SPDT2组成通道1。模拟开关SPDT3、电阻R3、电容C2、放大器A2、电阻R4和模拟开关SPDT4组成通道2。

本实用新型的工作原理是：本实用新型以双通道为例，技术方案如图1所示。整体方案由光电倍增管PMT、模拟开关SPDT1、SPDT2、SPDT3、SPDT3、电阻（R1、R2、R3、R4）、电容（C1、C2、C3、C4）、信号放大器（A1、A2）、模数转换器ADC和微处理器MCU组成。其中光电倍增管（PMT）、模数转换器ADC和微处理器MCU是所有通道共用的，而通道切换和放大电路（对通道1而言是通道1虚线框中的电路，通道2是通道2虚线框中的电路）每个通道各有一路。

对于三通道只需增加一路虚线框（两个虚线框中的元器件及其连接关系均相同）中的元器件及其连接即可。对于三通道以上的多通道以此类推。

光电倍增管PMT的输出管脚SIG分别与各通道的输入模拟开关SPDT1和SPDT3的常开管脚3(NO)相连；各通道的输出模拟开关SPDT2和SPDT4的常开管脚3(NO)和模数转换器ADC的输入管脚1相连；模数转换器的输出总线2和MCU输入总线1相连。

对于通道1，其模拟开关SPDT1的常闭管脚2（NC）与放电电阻R1一个管脚相连，R1的另一管脚和地相连；SPDT1的公共管脚1(COM)和耦合电容C1的一个管脚相连，C1另一管脚和放电器A1的输入管脚1相连；放大器A1的输出管脚2和模拟开关SPDT2的公共管脚1（COM）相连，模拟开关SPDT2的常闭管脚2（NC）与放电电阻R2一个管脚相连，R2的另一管脚和地相连。

对于通道2，其连接和通道1相同。对于3通道和3通道以上的多通道以此类推。