一种测量内存条金手指接触度的方法与流程

本发明涉及计算机领域，具体涉及一种测量内存条金手指接触度的方法。

背景技术：

内存条是cpu可通过总线寻址，并进行读写操作的电脑部件，用于暂时存放cpu中的运算数据，以及与硬盘等外部存储器交换的数据。只要计算机在运行中，cpu就会把需要运算的数据调到内存中进行运算，当运算完成后cpu再将结果传送出来，内存的运行也决定了计算机的稳定运行。

随着服务器行业的快速发展，越来越多的客户开始偏向于购买大批量的服务器作为自己的核心应用。而服务器需要用到大量的内存条，所以对内存条和内存条接口的连接的紧密度提出了很高的要求。

技术实现要素：

为解决上述技术问题，本发明提供是一种测量内存条金手指接触度的方法，具体如下：

本发明提供一种测量内存条金手指接触度的方法，包括以下步骤：

ss1：测量内存条金手指每一个导电触片的长度，记录数据；

ss2：用黑色记号笔将内存条的金手指的导电触片涂上颜色；

ss3：等第一时间后，将内存条以平时安装的力度插入到内存条插槽中；

ss4：等第二时间后，将内存条拔出；

ss5：用直尺测量每一个金手指的导电触片因插拔内存条所露出部分的长度并记录下来；

ss6：根据步骤ss1及步骤ss5测得的数据判断金手指的接触度是否良好。

进一步的，步骤ss6具体包括：

ss6-1：算出步骤ss5中每一个金手指的导电触片因插拔内存条露出的长度的平均值与步骤ss1中记录的导电触片的长度的比值；

ss6-2：如每一个数值都＞0.75，则判断为金手指的接触度良好，结果为pass；如果有数值＜0.75，则判断金手指的接触度不好，结果为fail。

进一步的，所述第一时间为1分钟。

进一步的，所述第二时间为1分钟。

进一步的，在步骤ss5与步骤ss6之间还包括以下步骤：

重复步骤ss2-ss5步骤两次，共得到三组数据，求平均值，得到每一个金手指的导电触片因插拔内存条露出的长度的平均值。

进一步的，步骤ss3中所使用的内存条插槽为标准用内存条插槽。

进一步的，步骤中所涉及的计算均通过计算机来完成。

进一步的，步骤中所涉及的测量数值均精确到毫米。

通过本发明的方案，可以快速的测试出内存条金手指与内存条接口的接触度，是否有接触不到的地方，是否有接触不够紧密的地方。。

附图说明

图1示出本发明方法流程图。

图2示出本发明方法第一步测量示意图。

图3示出本发明方法第二步涂色示意图。

图4示出本发明方法第三步插入示意图。

图5示出本发明方法第四步拔出后内存条示意图。

图6示出本发明方法第五步测量示意图。

具体实施方式

以下结合说明书附图及具体实施例进一步说明本发明的技术方案。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

本方法主要利用记号笔涂抹内存条金手指，然后插入内存条接口，然后拔出后，通过测试记号笔的痕迹，得出内存条金手指的接触度。

图1为本发明一个实施例的测量内存条金手指接触度的方法的流程图。

如图1所示，测量内存条金手指接触度的方法包括以下步骤：

ss1：测量内存条金手指每一个导电触片(共284pin，正反面都算)的长度，记录数据；

如图2所示，示出本发明方法第一步测量示意图。

ss2：用黑色记号笔将内存条的金手指的导电触片涂上颜色；

如图3所示，示出本发明方法第二步涂色示意图。

ss3：等第一时间后，将内存条以平时安装的力度插入到内存条插槽中；

如图4所示，示出本发明方法第三步插入示意图。

根据本发明的一实施例，上述第一时间为1分钟。

ss4：等第二时间后，将内存条拔出；

如图5所示，示出本发明方法第四步拔出后内存条示意图。

根据本发明的一实施例，上述第二时间为1分钟。

ss5：用直尺测量每一个金手指的导电触片因插拔内存条所露出部分的长度并记录下来；

如图6所示，示出本发明方法第五步测量示意图。

ss6：根据步骤ss1及步骤ss5测得的数据判断金手指的接触度是否良好。

根据本发明的一实施例，步骤ss6具体包括：

ss6-1：算出步骤ss5中每一个金手指的导电触片因插拔内存条露出的长度的平均值与步骤ss1中记录的导电触片的长度的比值；

ss6-2：如每一个数值都＞0.75，则判断为金手指的接触度良好，结果为pass；如果有数值＜0.75，则判断金手指的接触度不好，结果为fail。

根据本发明的一实施例，在步骤ss5与步骤ss6之间还包括以下步骤：

重复步骤ss2-ss5步骤两次，共得到三组数据，求平均值，得到每一个金手指的导电触片因插拔内存条露出的长度的平均值。

根据本发明的一实施例，步骤中涉及的计算均通过计算机来完成。

根据本发明的一实施例，步骤ss3中所使用的内存条插槽为标准用内存条插槽，其经过验证是不存在问题的。

根据本发明的一实施例，步骤中所涉及的测量数值均精确到毫米。

本方法可以快速的测量内存条金手指内存条接口的接触度，了解是否有接触不到的地方，从而对内存条金手指和内存条接口的结构的设计和材料的选择提供建议。

尽管在装置的上下文中已描述了一些方面，但明显的是这些方面也表示对应方法的描述，其中块或设备与方法步骤或方法步骤的特征相对应。类似地，在方法步骤的上下文中所描述的各方面也表示对应的块或项目或者对应装置的特征的描述。可以通过(或使用)如微处理器、可编程计算机、或电子电路之类的硬件装置来执行方法步骤中的一些或所有。可以通过此类装置来执行最重要的方法步骤中的某一个或多个。

所述实现可以采用硬件或采用软件或可以使用例如软盘、dvd、蓝光、cd、rom、prom、eprom、eeprom、或闪存之类的具有被存储在其上的电子可读控制信号的数字存储介质来执行，所述电子可读控制信号与可编程计算机系统配合(或能够与其配合)以使得执行相应的方法。可以提供具有电子可读控制信号的数据载体，所述电子可读控制信号能够与可编程计算机系统配合以使得执行本文所描述的方法。

所述实现还可以采用具有程序代码的计算机程序产品的形式，当计算机程序产品在计算机上运行时，程序代码进行操作以执行该方法。可以在机器可读载体上存储程序代码。

以上所描述的仅是说明性，并且要理解的是，本文所描述的布置和细节的修改和变化对于本领域技术人员而言将是明显的。因此，意在仅由所附权利要求的范围而不是由通过以上描述和解释的方式所呈现的特定细节来限制。

技术特征：

技术总结
本发明提供一种测量内存条金手指接触度的方法，本方法主要利用记号笔涂抹内存条金手指，然后插入内存条接口，然后拔出后，通过测试记号笔的痕迹，得出内存条金手指的接触度,了解是否有接触不到的地方，从而对内存条金手指和内存条接口的结构的设计和材料的选择提供建议。

技术研发人员：张庆华;井鑫
受保护的技术使用者：郑州云海信息技术有限公司
技术研发日：2017.05.12
技术公布日：2017.09.08