本发明涉及一种传感器调理芯片的测试方法，特别涉及一种用于传感器调理芯片的单线测试方法。
背景技术：
传感器调理芯片的测试几乎是必不可少的环节，然而在引脚数量较少的特定应用场合，进入测试模式和测试模式中的通信是最重要的环节，特别是对成本控制敏感的应用中，通信的双方或者没有足够多的剩余引脚也没有额外的引脚供进入测试模式，或者鉴于成本不方便有更多的引脚或更多的连接线。比如，红外热释电传感器的测试场合，传感器只有极少量的引脚，且测试方案要求尽可能的简单便宜。而现有的测试方案，基本是额外的控制引脚为代价进入测试模式，然后测试中使用时钟和数据双线通信模式，或多周期单线通信以速度换取成本的方式，进行测试数据的收集即在使用被测试芯片的额外引脚进入测试模式，然后使用高速的时钟，检测主设备发起的单线通信波形，常常每一个有效位的传输通常要使用数个甚至数十个时钟周期。
技术实现要素：
本发明的目的在于，提供一种用于传感器调理芯片的单线测试方法，其可以提供测试效率，降低测试成本。
为实现上述目的，本发明采用的技术方案在于，一种用于传感器调理芯片的单线测试方法，包括以下步骤：
(1)在被测试芯片的电源上驱动一个异常电压，芯片内部检测到电压异常，进入测试模式；
(2)测试过程中主设备在通信线上驱动一对时间很短的高低电平构成一个边沿，然后释放总线；
(3)从设备收到边沿后，发出一个有效位的测试数据，每个有效位数据在单周期发送完毕，主设备读取通信线上的状态，完成有效数据位“0”和“1”的传输；
在本步骤中，主设备读取通信线上的状态有最短时间限制，最短时间依赖于通信传输线上的寄生电容。通常情况下，主设备读取通信状态的等待时间是5us到无穷大。而考虑到通信效率，不会使用无穷大的等待时间，更为常规的考虑到通信效率应用是等待5us～约定时间，约定时间是从设备的一个时钟周期。
(4)重复步骤(2)和(3)直至测试数据收集完成，测试结束。
作为优选，在步骤(2)中，所述边沿为上升沿或者下降沿，当然也不局限于该两种形式。
作为优选，在步骤(1)中，当进入测试模式，测试模式下芯片的原功能引脚将切换成测试引脚，用来作为测试数据的通信。
作为优选，被测试芯片至少包含三个引脚。
本发明的有益效果：本专利的单线测试方法，利用电源线上的异常电压进入测试模式，然后利用异步的快速握手机制实现有效位数据的单线传输方法，主要用于快速低成本，引脚数量少的芯片测试；不需要专门的测试模式使能管脚或者使用复杂的时序组合进入测试模式；在单一通信上完成了单周期的数据传输；结合以上几点可完成非常简易的芯片三脚测试，在不影响速度的前提下，有效的节省了测试成本，对引脚数要求低而且测试效率高。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
图1为本发明测试连接图；
图2为本发明测试构成的边沿的形式；
图3为本发明测试构成的边沿的形式。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解
本技术：
中的技术方案，下面将结合实施例对本申请中的技术方案进行清楚、完整地描述。
本发明公开了一种用于传感器调理芯片的单线测试方法，其利用电源线上的异常电压进入测试模式，然后利用异步的快速握手机制实现有效位数据的单线传输方法，主要用于快速低成本，引脚数量少的芯片测试；不需要专门的测试模式使能管脚或者使用复杂的时序组合进入测试模式；在单一通信上完成了单周期的数据传输。
实施例一
如图1所示，本专利以具有三个引脚的待测试芯片为例，对其进行测试，其步骤如下：
(1)比如芯片正常的工作电压是3v～3.6v，在被测试芯片的电源上驱动一个异常电压，比如2.5v或4v，芯片内部检测到电压异常，进入测试模式；
在测试模式下芯片的原功能引脚切换成测试引脚，用来作为测试数据的通信。
(2)测试过程中测试设备在通信线上驱动一对时间很短的高低电平构成一个下降沿或者上升沿，如图2和图3所示，当然也不局限于该两种形式，然后释放总线。
(3)待测试芯片收到边沿后，发出一个有效位的测试数据，每个有效位数据在单周期发送完毕，测试设备读取通信线上的状态，完成有效数据位“0”和“1”的传输。
在本步骤中，主设备读取通信线上的状态有最短时间限制，最短时间依赖于通信传输线上的寄生电容。通常情况下，主设备读取通信状态的等待时间是5us到无穷大。而考虑到通信效率，不会使用无穷大的等待时间，更为常规的考虑到通信效率应用是等待5us～约定时间，约定时间是从设备的一个时钟周期。
(4)重复步骤(2)和(3)直至测试数据收集完成，测试结束。
与现有的单线测试方式相比本方法效率高：现有技术的测试中每发起一个有效位的传输需要数个时钟周期，本方法只要一个时钟周期就能完成一个有效位的传输。
与现有的多线高速测试方法相比本方法成本低：现有技术至少需要四个以上的引脚才能完成单周期的测试数据传输。本方法仅要求至少三个引脚就能实现同样的测试功能。
所描述的实施例只是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。