一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统的制作方法

本发明涉及一种测试系统，特别是一种用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统。

背景技术：

单一辐射计只能对指向点反馈温度信号，若要使用辐射计在二维平面内成像，目前主要使用多个辐射计组成的辐射计阵列和运动伺服机构完成的，辐射计的数量决定了一个维度的分辨率，运动伺服的运动幅度决定了另一个维度。这种方法需要较多的辐射和专用运动机构，成本较高，多辐射计之间存在温度漂移，定标复杂，而且成像范围和分辨难以改变。这种测试方法存在测试设备及测试环境复杂、对辐射源温度一致性要求高、测试时间长、效率低等问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统，解决了传统测试方法中辐射计之间温度一致性要求高、测试流程复杂、测试时间长、效率低的问题。

一种用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源、直流电源、控制计算机、转台控制单元、二维转台、反射面天线和毫米波辐射计，其中，显控模块运行在控制计算机上。

优选的，显控模块的功能为：控制二维转台指向，进行二维扫描，并完成图像的采集和存储。

交流电源的输出接口分别与直流电源、控制计算机、转台控制单元、二维转台的输入接口连接，提供各设备需要的220v交流电源；直流电源的输出接口与毫米波辐射计的输入接口连接；毫米波辐射计的输出接口与反射面天线的输入接口连接；反射面天线的输出接口与二维转台的输入接口连接；二维转台的输出接口与转台控制单元的输入接口连接；转台控制单元的输出接口与控制计算机的输入接口连接。

本发明的测试系统工作时，交流电源给各设备供电，进行开机预热稳定操作，待毫米波辐射计工作状态稳定后，再进行正常的测试流程。然后，根据需要采集的二维图像，由控制计算机中的显控模块按先方位再俯仰的蛇形扫描顺序，向转台控制单元发出第一目标点的转台位置控制指令，转台控制单元收到控制指令后，控制二维转台转至目标方位，并向显控模块回传此时毫米波辐射计的采集电压信号；显控模块接收到该点的波辐射计采集电压信号后，将该采集电压信号与此时转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；而后控制计算机中的显控模块向转台控制机箱发出第二目标点的转台位置控制指令，接收该点的波辐射计的采集电压信号后，再次将采集电压信号与转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；以此循环完成全部需要采集的二维图像数据库建立，并存储于控制计算机中，同时在显控模块中画图显示。

本发明通过一台二维转台搭配一根毫米波辐射计的方式完成二维扫描成像，取代了传统方式中依靠多个辐射计组成的辐射计阵列和运动伺服机构完成的二维扫描成像系统，能够简化测试流程，提高测试效率、降低测试成本，实现了小体积、高测量精度和测试时间短的需求。本发明很好的实现了小体积、高测量精度、测试时间短、测试点数可调的需求，同时降低了测试成本。

附图说明

图1一种用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统示意图。

1.交流电源2.直流电源3.控制计算机4.显控模块5.转台控制单元6.二维转台7.反射面天线8.毫米波辐射计

具体实施方式

一种用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源1、直流电源2、控制计算机3、转台控制单元5、二维转台6、反射面天线7和毫米波辐射计8，其中，显控模块4运行在控制计算机3上。显控模块4的功能为：控制二维转台6指向，进行二维扫描，并完成图像的采集和存储。

交流电源1的输出接口分别与直流电源2、控制计算机3、转台控制单元5、二维转台6的输入接口连接，提供各设备需要的220v交流电源1；直流电源2的输出接口与毫米波辐射计8的输入接口连接；毫米波辐射计8的输出接口与反射面天线7的输入接口连接；反射面天线7的输出接口与二维转台6的输入接口连接；二维转台6的输出接口与转台控制单元5的输入接口连接；转台控制单元5的输出接口与控制计算机3的输入接口连接。

本发明的测试系统工作时，交流电源1给各设备供电，进行开机预热稳定操作，待毫米波辐射计8工作状态稳定后，再进行正常的测试流程。然后，根据需要采集的二维图像，由控制计算机3中的显控模块4按先方位再俯仰的蛇形扫描顺序，向转台控制单元5发出第一目标点的转台位置控制指令，转台控制单元5收到控制指令后，控制二维转台6转至目标方位，并向显控模块4回传此时毫米波辐射计8的采集电压信号；显控模块4接收到该点的波辐射计采集电压信号后，将该采集电压信号与此时转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；而后控制计算机3中的显控模块4向转台控制机箱发出第二目标点的转台位置控制指令，接收该点的波辐射计的采集电压信号后，再次将采集电压信号与转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；以此循环完成全部需要采集的二维图像数据库建立，并存储于控制计算机3中，同时在显控模块4中画图显示。

用于w波段辐射计目标辐射特性的测试系统工作的技术指标为：

辐射计工作频段：w；

辐射计输出电压范围：1v～1.2v；

辐射计噪声系数：4db；

天线增益：>46.5db，效率50％；

天线3db波束宽度：<0.7°；

天线副瓣：≤-25db；

转台俯仰向定位精度：≤±0.025°；

转台方位向定位精度：≤±0.025°。

技术特征：

技术总结
本发明公开了一种用于W波段辐射计目标辐射特性的测试系统，包括：交流电源(1)、直流电源(2)、控制计算机(3)、转台控制单元(5)、二维转台(6)、反射面天线(7)和毫米波辐射计(8)，其中，显控模块(4)运行在控制计算机(3)上。测试系统工作时，交流电源(1)给各设备供电，待毫米波辐射计(8)工作状态稳定后，再进行正常的测试流程。显控模块(4)接收到该点的波辐射计采集电压信号后，将该采集电压信号与此时转台的空间方位坐标打包存储于数据库中；完成全部需要采集的二维图像数据库建立，存储于控制计算机(3)中，同时在显控模块(4)中画图显示。本发明具有设备简单，操作简便、成本低等优点。

技术研发人员：吴海涵;赵崇辉;崔广斌;刘一文
受保护的技术使用者：北京遥感设备研究所
技术研发日：2018.08.28
技术公布日：2019.02.01