集中线束测试工装的制作方法

本实用新型属于线束检测设备技术领域，具体涉及集中线束测试工装。

背景技术：

数据一体化移动基站是一种小型化、数字化、智能化和网络化、高带宽，内置服务器的自组网系统，适合于点到点、多点到点及多点间的通信业务，以传输优质视频信号和通信数据为主，还兼传其它用户业务。广泛的用于军事、通讯领域，移动性基站，具有极强的灵活性。数据一体化移动基站主要包括数据板、网板、控制主板等主要元件，主要部件间的连接依靠集成线束，集成线束的多个分芯线对应的板件连接，实现互联。

集成线束在制备后需要进行检验，检验每个芯线的导通性、耐压值等参数，满足使用要求的才可进行使用。目前的检测方式是人工检测，人工采用万用表挨个的检测，检测的效率低。

技术实现要素：

本实用新型所要解决的技术问题是针对上述缺陷，提供集中线束测试工装，便于检测操作，极大的提高线束检测效率。

本实用新型解决其技术问题采用的技术方案如下：

集中线束测试工装，包括一检测板，所述的检测板上设有多个对集中线束的多个芯线进行测试连接的测试板，测试板上设有对应连接芯线的连接插口，多个测试板设有连接测试仪器的测试线路，所述的检测板包括底板、底板上的护板，底板上对应测试板处设有测试板槽，测试板粘接在测试板槽内，护板粘接在底板上，护板上对应底板的测试板槽处设有供集中线束的芯线插入的配合孔，配合孔的形状与芯线的结构配合，配合孔的内壁设有多个均匀分布的胶粒。

进一步的，所述的护板为eva板。

进一步的，所述的配合孔处上端开口处设有便于插入的倒角结构。

进一步的，所述的胶粒为半球状。

进一步的，所述的配合孔的上端沿口同一位置处的对立两边处设有连通配合孔的凹槽。

进一步的，倒角结构处设有硅胶层，硅胶层下端延伸至配合孔孔壁上部。

本实用新型的有益效果是：

①结构简单，便于制造，制造成本低；

②便于集成线束的连接固定操作，一次性测试，测试效率高；

③线束固定可靠，避免磨损，促使提高测试精度，具有较长的使用寿命。

附图说明

通过下面结合附图的详细描述，本实用新型前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。

图1为本实用新型一种实施例中底板处的俯视图。

图2为本实用新型一种实施例中测试板与底板配合处的截面结构示意图。

图3为本实用新型一种实施例中胶粒的侧视图。

其中：1为底板，11为测试板槽，2为护板，21为配合孔，22为凹槽，3为测试板，4为胶粒，41为弧形凹口，5为硅胶层。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型做进一步说明。

参照图1-图3，集中线束测试工装，包括一检测板、测试板3，检测板为双层板，包括底部的硬质底板1、底板1上的eva材质的护板2，测试板3用于与集成线束的分芯线进行连接，测试板3上设有与分芯连接的连接插口，测试板3上集成有电路，底板1上集成有连接电路，底板1上设有安装测试板3的测试板槽11，测试板3粘接在测试板槽11内，底板上的连接电路延伸至测试板槽11内，连接电路与测试板的电路对应导通，底板的连接电机连通外部设置的综合测试仪上，护板2粘接在底板1上，护板2上对应底板1的测试板槽11处设有供集中线束的分芯线连接端插入的配合孔21，配合孔21的形状与集成线束的分芯线的连接端的结构吻合，配合孔21的内壁设有多个均匀分布的半球状的胶粒4，配合孔21的上端开口处设有便于插入的倒角结构，倒角结构表面设有硅胶层5，硅胶层5延伸至配合孔21的孔壁上部，配合孔21的上端沿口同一位置处的对立两边处设有连通配合孔的凹槽22，凹槽22为在分芯线在插拔时为手指处预留充足空间，便于插拔操作，配合孔空气的胶粒用于增大摩擦力，提高分芯线与测试板3的连接可靠性，保证较好的连接可靠性，将集成线束的多个分芯线插入对应的配合孔处，与测试板对接，通过综合测试仪可一次性的进行测试，极大的提高测试的效率，便于测试操作，提高产量，胶粒4的前端设有弧形凹口41，胶粒4具有可压缩性，弧形凹口41处形成吸盘结构，吸附在分芯线连接结构表面，提高连接的可靠性，硅胶层用于提高倒角结构处的耐摩性，避免磨损延长使用寿命，护板2具有比较好的柔韧性，配合孔处对分芯线进行有效的定位，柔性好、缓冲性好，可避免线束损伤。

以上所述，仅是本实用新型的较佳实施例，并非对本实用新型做任何形式上的限制，凡是依据本实用新型的技术实质上对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化，均落入本实用新型的保护范围之内。

技术特征：

1.集中线束测试工装，其特征在于，包括一检测板，所述的检测板上设有多个对集中线束的多个芯线进行测试连接的测试板，测试板上设有对应连接芯线的连接插口，多个测试板设有连接测试仪器的测试线路，所述的检测板包括底板、底板上的护板，底板上对应测试板处设有测试板槽，测试板粘接在测试板槽内，护板粘接在底板上，护板上对应底板的测试板槽处设有供集中线束的芯线插入的配合孔，配合孔的形状与芯线的结构配合，配合孔的内壁设有多个均匀分布的胶粒。

2.根据权利要求1所述的集中线束测试工装，其特征在于，所述的护板为eva板。

3.根据权利要求1所述的集中线束测试工装，其特征在于，所述的配合孔处上端开口处设有便于插入的倒角结构。

4.根据权利要求1所述的集中线束测试工装，其特征在于，所述的胶粒为半球状。

5.根据权利要求1所述的集中线束测试工装，其特征在于，所述的配合孔的上端沿口同一位置处的对立两边处设有连通配合孔的凹槽。

6.根据权利要求3所述的集中线束测试工装，其特征在于，倒角结构处设有硅胶层，硅胶层下端延伸至配合孔孔壁上部。

技术总结
本实用新型属于线束检测设备技术领域，具体涉及集中线束测试工装，包括一检测板，所述的检测板上设有多个对集中线束的多个芯线进行测试连接的测试板，测试板上设有对应连接芯线的连接插口，多个测试板设有连接测试仪器的测试线路，所述的检测板包括底板、底板上的护板，底板上对应测试板处设有测试板槽，测试板粘接在测试板槽内，护板粘接在底板上，护板上对应底板的测试板槽处设有供集中线束的芯线插入的配合孔，配合孔的形状与芯线的结构配合，配合孔的内壁设有多个均匀分布的胶粒，便于检测操作，极大的提高线束检测效率。

技术研发人员：高俊;王滨华
受保护的技术使用者：常州弘量电子科技有限公司
技术研发日：2019.07.18
技术公布日：2020.07.17