一种间歇寿命试验系统的制作方法

本实用新型涉及试验设备技术领域，具体是一种间歇寿命试验系统。

背景技术：

间歇寿命试验是对电路间断地施加电应力，使微电子器件受到“开”“关”之间的电应力周期变化，以加速电路内部的物理、化学反应的过程，这种周期变化的电应力又导致微电子器件和外壳温度的周期变化，由此最终得到微电子器件的典型失效率，证实微电子器件的质量或可靠性，间歇寿命试验及试验系统的设计，对试验的安全性、准确性和可操作性起着关键作用，但现有的试验系统存在一些问题，比如试验通道之间不能相互独立，无法对其进行单独控制，同时，当不需要使用全部的通道时，未使用的通道处于闲置状态，但仍然在耗能，导致对电能的浪费，比如试验系统中未设置k系数(即温度系数)测试装置，客户如需测试k系数，需要另外购买其他设备，导致成本明显增加，这显然是用户不希望看到的，因此，对于用户来说，急需提供一种既能方便对试验通道进行单独控制，又能经济地测量k系数的间歇寿命试验系统。

技术实现要素：

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种间歇寿命试验系统。

一种间歇寿命试验系统，包括柜体，其特征在于：所述柜体表面设置独立通道，所述独立通道左侧下部设置独立开关按钮，所述独立开关按钮与所述独立通道电性连接，所述柜体表面上部设置工业控制计算机，所述独立通道与所述工业控制计算机电性连接，所述工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，所述工业控制计算机下方设置操作台。

进一步的，所述独立通道的数量为16个，16个所述独立通道关于所述工业控制计算机对称设置。

进一步的，16个所述独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述操作台下方设置高温试验箱，所述高温试验箱与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述高温试验箱下方设置k系数测试机，所述k系数测试机与所述工业控制计算机电性连接。

进一步的，所述柜体上部一侧水平并排设置蜂鸣器、绿色状态指示灯、红色状态指示灯。

进一步的，所述停止按钮远所述开始按钮一侧设置急停按钮。

进一步的，所述独立通道表面设置观察门。

进一步的，所述柜体底部四个角的位置均设置柜脚。

本实用新型的一种间歇寿命试验系统的有益效果为：

1、各独立通道之间相互独立且并联连接，并且配置独立开关按钮，既实现了对独立通道的独立控制，又可以根据需要将闲置的独立通道关闭，实现了对电能的节约，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题；

2、本间歇寿命试验系统配置高温试验箱和k系数测试机，可以很方便地对微电子器件的k系数进行测定，无需再另外购买k系数测试装置，有效地节约了成本；

3、除开始按钮、停止按钮外，本间歇寿命试验系统还配置有绿色状态指示灯、红色状态指示灯、蜂鸣器和急停按钮，当系统处于正常工作状态时，绿色状态指示灯亮，当系统出现异常时，绿色状态指示灯灭、红色状态指示灯亮，同时蜂鸣器发出报警声，用户直接按下急停按钮，即可关闭整个系统，显著地提升了本间歇寿命试验系统的安全程度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，但并不是对本实用新型保护范围的限制。

图1为本实用新型的一种间歇寿命试验系统的结构示意图。

其中，1-柜体，2-独立通道，3-观察门，4-独立开关按钮，5-柜脚，6-k系数测试机，7-高温试验箱，8-操作台，9-工业控制计算机，10-蜂鸣器，11-绿色状态指示灯，12-红色状态指示灯，13-急停按钮，14-停止按钮，15-开始按钮。

具体实施方式

为使说明更加清楚，结合说明书附图图1，对本实用新型的一种间歇寿命试验系统做进一步描述。

一种间歇寿命试验系统，包括柜体1，其特征在于：所述柜体1表面设置独立通道2，所述独立通道2左侧下部设置独立开关按钮4，所述独立开关按钮4与所述独立通道2电性连接，所述柜体1表面上部设置工业控制计算机9，所述独立通道2与所述工业控制计算机9电性连接，所述工业控制计算机9上方水平并排设置开始按钮15、停止按钮14，所述工业控制计算机9下方设置操作台8。

进一步的，所述独立通道2的数量为16个，16个所述独立通道2关于所述工业控制计算机9对称设置。

进一步的，16个所述独立通道2通过485通讯线并联连接，并最终与所述工业控制计算机9电性连接。

进一步的，所述操作台8下方设置高温试验箱7，所述高温试验箱7与所述工业控制计算机9电性连接。

进一步的，所述高温试验箱7下方设置k系数测试机6，所述k系数测试机6与所述工业控制计算机9电性连接。

进一步的，所述柜体1上部一侧水平并排设置蜂鸣器10、绿色状态指示灯11、红色状态指示灯12。

进一步的，所述停止按钮14远所述开始按钮15一侧设置急停按钮13。

进一步的，所述独立通道2表面设置观察门3。

进一步的，所述柜体1底部四个角的位置均设置柜脚5。

本实用新型的一种间歇寿命试验系统的工作原理为：按下开始按钮15，将待检测的微电子器件依次放入高温试验箱7、k系数测试机6，对微电子器件进行高温老化及k系数测定，每个独立通道2内部均配置有独立电源、负载和控制板，将待检测的微电子器件放入独立通道2内部，通过操作台8表面的键盘、鼠标操作工业控制计算机9，对微电子器件进行间歇寿命试验，最终在工业控制计算机9上得出微电子器件的典型失效率，当不需要使用全部的独立通道2时，关闭该独立通道2左侧下部的独立开关按钮4即可，当本间歇寿命试验系统处于正常工作状态时，绿色状态指示灯11亮，当系统出现异常时，绿色状态指示灯11灭、红色状态指示灯12亮，同时蜂鸣器10发出报警声，按下急停按钮13，既可关闭整个系统，避免安全事故的发生。

以上，仅为本实用新型的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何不经过创造性劳动想到的变化或替换，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此，本实用新型的保护范围应该以权利要求书所限定的保护范围为准。

技术特征：

1.一种间歇寿命试验系统，包括柜体(1)，其特征在于：所述柜体(1)表面设置独立通道(2)，所述独立通道(2)左侧下部设置独立开关按钮(4)，所述独立开关按钮(4)与所述独立通道(2)电性连接，所述柜体(1)表面上部设置工业控制计算机(9)，所述独立通道(2)与所述工业控制计算机(9)电性连接，所述工业控制计算机(9)上方水平并排设置开始按钮(15)、停止按钮(14)，所述工业控制计算机(9)下方设置操作台(8)。

2.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述独立通道(2)的数量为16个，16个所述独立通道(2)关于所述工业控制计算机(9)对称设置。

3.根据权利要求2所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，16个所述独立通道(2)通过485通讯线并联连接，并最终与所述工业控制计算机(9)电性连接。

4.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述操作台(8)下方设置高温试验箱(7)，所述高温试验箱(7)与所述工业控制计算机(9)电性连接。

5.根据权利要求4所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述高温试验箱(7)下方设置k系数测试机(6)，所述k系数测试机(6)与所述工业控制计算机(9)电性连接。

6.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述柜体(1)上部一侧水平并排设置蜂鸣器(10)、绿色状态指示灯(11)、红色状态指示灯(12)。

7.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述停止按钮(14)远所述开始按钮(15)一侧设置急停按钮(13)。

8.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述独立通道(2)表面设置观察门(3)。

9.根据权利要求1所述的一种间歇寿命试验系统，其特征在于，所述柜体(1)底部四个角的位置均设置柜脚(5)。

技术总结
本实用新型公开了一种间歇寿命试验系统，属于试验设备技术领域，包括柜体，其特征在于：柜体表面设置独立通道，独立通道左侧下部设置独立开关按钮，独立开关按钮与独立通道电性连接，柜体表面上部设置工业控制计算机，独立通道与工业控制计算机电性连接，工业控制计算机上方水平并排设置开始按钮、停止按钮，工业控制计算机下方设置操作台，独立通道的数量为16个，16个独立通道关于工业控制计算机对称设置，16个独立通道通过485通讯线并联连接，并最终与工业控制计算机电性连接，本实用新型既实现了对独立通道的独立控制，又可根据需要将闲置的独立通道关闭，很好地解决了现有试验系统无法单独控制试验通道且费电的问题。

技术研发人员：安浙文
受保护的技术使用者：杭州高坤电子科技有限公司
技术研发日：2020.03.02
技术公布日：2020.10.27