电抗器的温度上升试验方法与流程

本发明涉及一种流入多个频率的电流的电抗器的温度上升试验方法。

背景技术：

1、作为对电抗器的性能进行试验的方法有各种方法。其中，在非专利文献1中记载了对使用时的电抗器的温度上升进行试验的温度上升试验方法。在非专利文献1中，作为对高次谐波电流叠加到基波电流而流入的情况进行模拟的试验，规定进行以下的(1)或(2)的条件下的通电。

2、在此，例示容许电流类别i的情况。(1)将基波电流比35％的五次谐波含有率的五次谐波电流叠加到额定频率的额定电流而连续地通入电抗器(以下，称为以往试验x)。(2)将电抗器的损耗与后述的合计损耗等价的基波电流连续地通入电抗器(以下，称为以往试验y)。所述合计损耗是额定频率的额定电流通电时的电抗器的实测损耗与基波电流比35％的五次谐波电流通电时的电抗器的实测损耗之和。

3、现有技术文献

4、非专利文献

5、非专利文献1：日本产业标准调查会“日本工业标准(japanese industrialstandards，jis)高压及特别高压进相电容器以及附属设备-第二部：串联电抗器(jisc4902-2：2010)”

技术实现思路

1、发明所要解决的问题

2、以往试验x虽然可模拟符合实际使用状态的通电状态，但在试验用电路中，有在基波电源与高次谐波电源之间相互混入电流的问题。作为用于避免电流混入的电路结构，例如考虑采用图4所示的电路。但是，利用图4所示的电路的试验存在规模变大的问题。

3、以往试验y不反映电抗器的损耗中所含的铜损与铁损的频率依赖性，仅通过基波电流赋予合计损耗。因此，存在基波与高次谐波叠加的状态下的铜损和铁损无法被正确地模拟的问题。

4、本发明的一个方式的目的在于，以简单的试验电路实现符合实际使用状态的电抗器的温度上升试验。

5、解决问题的技术手段

6、为了解决所述问题，本发明的一个方式的电抗器的温度上升试验方法的特征在于，包括：基于规定的电流值的基波电流通电时的铜损、以及各个规定的电流值的规定次数的高次谐波电流通电时的各自的铜损，算出目标铜损的步骤；基于所述基波电流通电时的铁损、以及各个所述高次谐波电流通电时的铁损，算出目标铁损的步骤；将带来所述目标铜损及所述目标铁损的电流的频率及电流值分别作为试验频率、试验电流值来算出的步骤；以及将具有所述试验频率、所述试验电流值的试验电流通入所述电抗器，通至所述电抗器的规定部位的温度成为恒定为止的步骤。

7、发明的效果

8、根据本发明的一个方式，可以简单的试验电路实现符合实际使用状态的电抗器的温度上升试验。

技术特征：

1.一种电抗器的温度上升试验方法，包括：

2.根据权利要求1所述的电抗器的温度上升试验方法，其中通过计算而预先求出所述基波电流通电时的铜损、及各个所述高次谐波电流通电时的铜损。

3.根据权利要求2所述的电抗器的温度上升试验方法，还包括：

4.根据权利要求1至3中任一项所述的电抗器的温度上升试验方法，其中所述目标铜损作为所述基波电流通电时的铜损与各个所述高次谐波电流通电时的铜损之和而求出。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的电抗器的温度上升试验方法，其中所述目标铁损作为所述基波电流通电时的铁损与各个所述高次谐波电流通电时的铁损之和而求出。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的电抗器的温度上升试验方法，其中所述目标铁损是对所述基波电流通电时的铁损与各个所述高次谐波电流通电时的铁损之和乘以1以上的系数而求出。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的电抗器的温度上升试验方法，其中所述基波电流的规定的电流值为所述电抗器的额定电流值。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的电抗器的温度上升试验方法，其中所选择的所述高次谐波电流的次数为5。

技术总结
电抗器的温度上升试验方法包括将具有试验频率及试验电流值的试验电流通入电抗器的步骤，所述试验电流带来基于基波电流通电时的铜损(Wcu21)及高次谐波电流通电时的铜损(Wcu22)的目标铜损(Wcut)、以及基于基波电流通电时的铁损(Wfe21)及高次谐波电流通电时的铁损(Wfe22)的目标铁损(Wfet)。

技术研发人员：前地洋明,桑田稔
受保护的技术使用者：日新电机株式会社
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14