数据处理、测试方法、装置、设备及存储介质与流程

本公开涉及但不限于半导体测试，尤其涉及一种数据处理、测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、在集成电路芯片生产过程中，芯片的测试是非常重要的步骤，在芯片封装完成后，通常需要经过最终测试(final test，ft)，以保证芯片出厂质量。相关技术中，一方面，在进行ft测试时，耗时较长，测试效率较低；另一方面，在对芯片测试结果数据进行处理时，无法兼容不同版本的测试程式的测试结果，且系统稳定性较差。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开提供一种数据处理、测试方法、装置、设备及存储介质。

2、本公开实施例提供一种数据处理方法，包括：

3、获取对待测试的芯片集合进行的至少一次测试中每一次测试的第一测试结果；其中，每一次测试的第一测试结果为对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理后得到的；

4、对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，得到第二测试结果；

5、基于所述第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

6、本公开实施例提供一种测试方法，包括：

7、利用测试机台对待测试的芯片集合进行至少一次测试，得到每一次测试中已测试的每一芯片的结果数据；

8、针对每一次测试，对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理，得到所述测试的第一测试结果；

9、将每一所述第一测试结果发送给数据处理设备，以使所述数据处理设备对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，并基于所述第二合并处理得到的第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

10、本公开实施例提供一种数据处理装置，包括：

11、获取模块，用于获取对待测试的芯片集合进行的至少一次测试中每一次测试的第一测试结果；其中，每一次测试的第一测试结果为对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理后得到的；

12、第一合并模块，用于对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，得到第二测试结果；

13、第一确定模块，用于基于所述第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

14、本公开实施例提供一种测试装置，包括：

15、测试模块，用于利用测试机台对待测试的芯片集合进行至少一次测试，得到每一次测试中已测试的每一芯片的结果数据；

16、第二合并模块，用于针对每一次测试，对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理，得到所述测试的第一测试结果；

17、发送模块，用于将每一所述第一测试结果发送给数据处理设备，以使所述数据处理设备对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，并基于所述第二合并处理得到的第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

18、本公开实施例提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现上述方法中的步骤。

19、本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述方法中的步骤。

20、本公开实施例中，在对每一次测试的第一测试结果进行第二合并处理后，基于得到的第二测试结果确定芯片集合中已测试的每一芯片的质量等级，这样，可以减少在重复测试过程中对相同的芯片重复进行质量等级确定的操作，从而可以减少测试数据合并的耗时，并能提高测试效率。

技术特征：

1.一种数据处理方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，得到第二测试结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定每一所述第一测试结果的数据格式类型，包括：

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定对所述芯片集合进行测试所采用的测试程式的版本信息，包括：

5.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述数据格式类型，对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，得到第二测试结果，包括：

6.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第一测试结果包括至少一个第一结果文件；

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定待检测的第一目标文件列表，包括：

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

9.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述第二测试结果包括至少一个第二结果文件；所述方法还包括：

10.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述基于所述第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级，包括：

11.一种测试方法，其特征在于，所述方法包括：

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述测试机台包括至少一个测试区域；

13.一种数据处理装置，其特征在于，包括：

14.一种测试装置，其特征在于，包括：

15.一种计算机设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现权利要求1至12任一项所述方法中的步骤。

16.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至12任一项所述方法中的步骤。

技术总结
本公开实施例提供一种数据处理方法、测试方法、数据处理装置、测试装置、设备及存储介质。其中，所述数据处理方法包括：获取对待测试的芯片集合进行的至少一次测试中每一次测试的第一测试结果；其中，每一次测试的第一测试结果为对所述测试中已测试的每一芯片的结果数据进行第一合并处理后得到的；对每一所述第一测试结果进行第二合并处理，得到第二测试结果；基于所述第二测试结果，确定所述芯片集合中每一芯片的质量等级。

技术研发人员：孙翔宇
受保护的技术使用者：长鑫存储技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11