电子系统测试方法与流程

本发明有关于电子系统测试方法，特别有关于能以较简单的测试波形(testpattern)得到所需要的测试结果且测试多个信号路径的电子系统测试方法。

背景技术：

1、在电子系统测试中，通常会使用眼图(eye diagram)判断整个电子系统的状况好坏。但这种测试方法通常需要足够长度的测试波形(test pattern)才能产生所需要的眼图。例如使用伪随机数二进制数列(pseudo randomness binary sequence；prbs)，常用的prbs-7信号，其长度至少为127位。而且，已知技术中的电子系统测试通常仅测试单一信号路径，并没有考虑附近其他信号路径对其造成的串音现象(cross talk)。

技术实现思路

1、本发明一目的为提供一种电子系统测试方法，其使用了具较少位数的测试波形。

2、本发明另一目的为提供一种测试装置，其使用了具较少位数的测试波形。

3、本发明一实施例提供了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。其中主测试波形为一x位波形且副测试波形为一y位波形，x与y为大于或等于3的正整数。此电子系统测试方法可通过一测试装置来实现。

4、根据前述实施例，可降低测试波形的位数以减少测试过程的数据量以及所须的测试时间。且除了测试单一信号路径的信号变化所可能产生的问题外，也考虑到其他信号路径对此信号路径所可能产生的影响。

技术特征：

1.一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，其特征在于，包含：

2.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，该步骤(a)输入相同的该副测试波形到不同的该副信号路径。

3.如权利要求2所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形以及该副测试波形相同。

4.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，x和y均为3，且该副信号路径的数量为2。

5.如权利要求4所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形包含以下值其中之一：010、101、000以及111。

6.如权利要求5所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形以及该副测试波形不包含010、101、000以及111之外的值。

7.如权利要求4所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形包含以下值其中之一：010、101、000以及111，以及该副测试波形包含以下值其中之一：010以及101。

8.如权利要求7所述的电子系统测试方法，其特征在于，该主测试波形以及该副测试波形不包含010、101、000以及111之外的值。

9.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，该步骤(c)根据该些结果波形产生一眼图，并根据该眼图判断该组合等级。

10.如权利要求1所述的电子系统测试方法，其特征在于，还包含：

技术总结
本申请公开了一种电子系统测试方法，用以测试一目标电子系统，包含：(a)依据包含多个测试波形的一测试波形组合，对该目标电子系统的一主信号路径输入一主测试波形，并同时对该目标电子系统的至少一副信号路径分别输入一副测试波形；(b)得到与该步骤(a)相对应的一结果波形；(c)改变该主测试波形或该副测试波形，并重复该步骤(a)与该步骤(b)多次直到该测试波形组合的所有该测试波形都测试完毕而得到多个结果波形后，根据该些结果波形判断该测试波形组合的一组合等级。

技术研发人员：蔡涵昀,王世宏,吴亭莹
受保护的技术使用者：瑞昱半导体股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12