一种光耦适配器测试装置的制作方法

本发明涉及某型雷达系统中数字电路板测试领域，更具体地，涉及一种光耦适配器测试装置。

背景技术：

1、在某型雷达修理中，对数字电路板的测试是非常重要的工作。

2、某型雷达中有数十种数字电路板的输入信号为非ttl信号。现有的某型测试设备无法对这类插件板直接进行测试。故在测试时，需取下被测电路板上的负载电阻，或者用导线将电阻短接，将被测电路与输入插件板的插针直接连接，再做测试。测试完毕后，再将被测电路板上修改过的电路进行恢复。繁琐的焊接，不仅耗时大，使测试效率低下，并增加了对被测电路板破坏性风险，造成不必要的损失。

技术实现思路

1、鉴于上述内容，需要研制一种将某型测试台ttl电平的方波信号转换为较高电压方波信号的适配器。

2、光耦适配器测试装置包括测试台连接和供电部分、电平转换电路、输出模式转换部分、被测件连接部分。该光耦测试装置可实现对ttl电路和非ttl电路2种数字电路工作模式的快速转换测试。

3、相较于现有技术，本发明光耦适配器测试装置确保供电稳定，每个测试通路可以快速的连接匹配电阻，同时根据测试需要在每一通路上切换光耦部分的电平转换电路。无需破坏被测件的原有电路，无需要外接单独的匹配电阻，大大提高了测试效率。

技术特征：

1.一种光耦适配器装置，包括测试台连接和供电部分、电平转换电路、输出模式转换部分、被测件连接部分。该光耦测试装置可实现对ttl电路和非ttl电路2种数字电路工作模式的快速转换测试。

2.根据权利要求1所述的光耦适配器装置，其特征在于：供电部分采用专用pcb层供电，确保了电源的稳定性。一部分布局与传统适配器保持一致，并对跳线部分进行了优化设计，在每一测试通路上增加了不同型号的匹配电阻，可根据测试需要进行快捷设置。

3.根据权利要求1所述的光耦适配器装置，其特征在于：每一测试通路连接光电耦合器，用于将测试台输出的ttl数字电路，转换成非ttl电路送往被测电路板，同时可根据被测电路板的测试需求对光耦的输出电压进行调整，每次测试可同时提供2种不同的电压对光耦进行供电。

4.根据权利要求1所述的光耦适配器装置，其特征在于：每一测试通路均可根据测试需要，采用光耦输出的非ttl信号，或者采用测试台直接输出的ttl信。

技术总结
本发明公开一种光耦适配器测试装置，包括测试台连接和供电部分、电平转换电路、输出模式转换部分、被测件连接部分。该光耦测试装置可实现对TTL电路和非TTL电路2种数字电路工作模式的快速转换测试，能大大提高电路板检测速度。

技术研发人员：高学利,赵楠楠,张亮,姜兴龙,齐征昊,习海娟
受保护的技术使用者：中国人民解放军空军二十三厂
技术研发日：
技术公布日：2024/1/12