一种自动化芯片测试装置的制作方法

1.本实用新型是一种自动化芯片测试装置，属于芯片测试技术领域。


背景技术：

2.新兴电子信息技术的发展依赖与半导体产业的不断推动，因此，芯片作为一项核心技术，其使用变得越来越频繁和重要,电子信息产业发展加快，在控制、通信、人机交互和网络互联等方面融入了智能电子技术。
3.芯片在封装完成后，需要通过自动化芯片测试装置进行测试，现有的测试装置台面大多固定不可动，框架对应的限制了检视操作范围，由于电子检测过程中会受到灰尘影响而降低测试精度，因此需要对框架内部凹槽进行清洁，但死角位置不好清理，容易降低装置的使用安全性。


技术实现要素：

4.针对现有技术存在的不足，本实用新型目的是提供一种自动化芯片测试装置，以解决现有的测试装置台面大多固定不可动，框架对应的限制了检视操作范围，由于电子检测过程中会受到灰尘影响而降低测试精度，因此需要对框架内部凹槽进行清洁，但死角位置不好清理，容易降低装置的使用安全性的问题。
5.为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽、框架、机体、限位板、垫块、位移式操作台、电控箱，所述机体上设有组合使用的电控箱，所述机体上设有开口贯通的围接式框架，所述测试槽底壁位置配设有限位板，所述限位板壁设在框架内底层位置上，所述框架安装面相垂接电控箱内壁，所述限位板内侧凹槽相导接位移式操作台。
6.进一步地，所述位移式操作台包括框座、台板、扣槽块、第一壁条、第二壁条、嵌槽、滑珠，所述框座表面叠设有台板，所述扣槽块安装在框座前壁定点位置上，所述框座两侧分设有位置间隔的第一壁条与第二壁条，所述第一壁条与第二壁条上设有若干嵌槽，所述嵌槽上设有内嵌式滑珠，所述滑珠表面可滚接限位板内侧凹槽与框架一内壁。
7.进一步地，所述垫块固设在机体底部两侧间隔处。
8.进一步地，所述框架内腔一体构成测试槽。
9.进一步地，所述电控箱位置相间隔限位板。
10.进一步地，所述框架安装面高于垫块位置。
11.进一步地，所述第一壁条直线滑触限位板内侧凹槽。
12.进一步地，所述台板表面高于限位板横面。
13.有益效果
14.本实用新型一种自动化芯片测试装置，限位板内侧凹槽相导接位移式操作台，框座与表面台板组合相连一体，前壁扣槽块是能够带动框座移动的支点块，第一壁条与第二壁条上设有多个内嵌式滑珠，对应嵌槽位置间隔排列，表面可滚接限位板内侧凹槽与框架
一内壁，直线外移台体后，能够方便工作人员对框架内槽进行清洁，死角位置灰尘也能清除掉，降低了因灰尘受到的静电影响，能够有效提高装置使用的安全性。
附图说明
15.通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
16.图1为本实用新型一种自动化芯片测试装置的结构示意图；
17.图2为本实用新型的位移式操作台装配结构示意图。
18.图中：测试槽
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1、框架
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2、机体
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3、限位板
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4、垫块
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5、位移式操作台
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6、框座
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30、台板
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31、扣槽块
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32、第一壁条
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33、第二壁条
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34、嵌槽
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35、滑珠
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36、电控箱
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7。
具体实施方式
19.为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。
20.请参阅图1
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图2，本实用新型提供一种技术方案：一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽1、框架2、机体3、限位板4、垫块5、位移式操作台6、电控箱7，所述机体3上设有组合使用的电控箱7，所述机体3上设有开口贯通的围接式框架2，所述测试槽1底壁位置配设有限位板4，所述限位板4壁设在框架2内底层位置上，所述框架2安装面相垂接电控箱7内壁，所述限位板4内侧凹槽相导接位移式操作台6，所述位移式操作台6包括框座30、台板31、扣槽块32、第一壁条33、第二壁条34、嵌槽35、滑珠36，所述框座30表面叠设有台板31，所述扣槽块32安装在框座30前壁定点位置上，所述框座30两侧分设有位置间隔的第一壁条33与第二壁条34，所述第一壁条33与第二壁条34上设有若干嵌槽35，所述嵌槽35上设有内嵌式滑珠36，所述滑珠36表面可滚接限位板4内侧凹槽与框架2一内壁，所述垫块5固设在机体3底部两侧间隔处，所述框架2内腔一体构成测试槽1，所述电控箱7位置相间隔限位板4，所述框架2安装面高于垫块5位置，所述第一壁条33直线滑触限位板4内侧凹槽，所述台板31表面高于限位板4横面。
21.本专利所说的滑珠36设有若干个，且对应嵌槽35位置间隔排列，表面可滚接限位板4内侧凹槽与框架2一内壁。
22.例如：在进行使用时，限位板4内侧凹槽相导接位移式操作台6，框座30与表面台板31组合相连一体，前壁扣槽块32是能够带动框座30移动的支点块，第一壁条33与第二壁条34上设有多个内嵌式滑珠36，对应嵌槽35位置间隔排列，表面可滚接限位板4内侧凹槽与框架2一内壁，直线外移台体后，能够方便工作人员对框架2内槽进行清洁，死角位置灰尘也能清除掉，降低了因灰尘受到的静电影响，能够有效提高装置使用的安全性。
23.本实用新型解决的问题是现有的测试装置台面大多固定不可动，框架对应的限制了检视操作范围，由于电子检测过程中会受到灰尘影响而降低测试精度，因此需要对框架内部凹槽进行清洁，但死角位置不好清理，容易降低装置的使用安全性，本实用新型通过上述部件的互相组合，直线外移台体后，能够方便工作人员对框架内槽进行清洁，死角位置灰尘也能清除掉，降低了因灰尘受到的静电影响，能够有效提高装置使用的安全性。
24.以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点，对于
本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
25.此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。


技术特征：
1.一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽(1)、框架(2)、机体(3)、限位板(4)、垫块(5)、位移式操作台(6)、电控箱(7)，其特征在于：所述机体(3)上设有组合使用的电控箱(7)，所述机体(3)上设有开口贯通的围接式框架(2)，所述测试槽(1)底壁位置配设有限位板(4)，所述限位板(4)壁设在框架(2)内底层位置上，所述框架(2)安装面相垂接电控箱(7)内壁，所述限位板(4)内侧凹槽相导接位移式操作台(6)。2.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述位移式操作台(6)包括框座(30)、台板(31)、扣槽块(32)、第一壁条(33)、第二壁条(34)、嵌槽(35)、滑珠(36)，所述框座(30)表面叠设有台板(31)，所述扣槽块(32)安装在框座(30)前壁定点位置上，所述框座(30)两侧分设有位置间隔的第一壁条(33)与第二壁条(34)，所述第一壁条(33)与第二壁条(34)上设有若干嵌槽(35)，所述嵌槽(35)上设有内嵌式滑珠(36)，所述滑珠(36)表面可滚接限位板(4)内侧凹槽与框架(2)一内壁。3.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述垫块(5)固设在机体(3)底部两侧间隔处。4.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述框架(2)内腔一体构成测试槽(1)。5.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述电控箱(7)位置相间隔限位板(4)。6.根据权利要求1所述的一种自动化芯片测试装置，其特征在于：所述框架(2)安装面高于垫块(5)位置。

技术总结
本实用新型公开了一种自动化芯片测试装置，其结构包括测试槽、框架、机体、限位板、垫块、位移式操作台、电控箱，本实用新型的限位板内侧凹槽相导接位移式操作台，框座与表面台板组合相连一体，前壁扣槽块是能够带动框座移动的支点块，第一壁条与第二壁条上设有多个内嵌式滑珠，对应嵌槽位置间隔排列，表面可滚接限位板内侧凹槽与框架一内壁，直线外移台体后，能够方便工作人员对框架内槽进行清洁，死角位置灰尘也能清除掉，降低了因灰尘受到的静电影响，能够有效提高装置使用的安全性。能够有效提高装置使用的安全性。能够有效提高装置使用的安全性。


技术研发人员：王淑琴
受保护的技术使用者：成都市汉桐集成技术有限公司
技术研发日：2021.06.01
技术公布日：2021/11/30