一种低电阻测试装置的制作方法

本技术涉及电阻测试，尤其涉及一种低电阻测试装置。

背景技术：

1、热噪声是指探头与被测对象的导线之间等不同类型金属的连接部分所产生的电位差，如果热噪声比较大，则会产生测量误差，如图1所示，另外热噪声的大小也会随着测量环境的温度而变化，一般来说温度差越高，热噪声越大。

2、而现有的低电阻测试装置由于有热噪声的影响，导致被测电阻的电阻值的测量准确性较低。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种低电阻测试装置，以解决被测电阻的电阻值的测量准确性较低的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供了一种低电阻测试装置，包括壳体、安装板和测量模块，所述安装板与所述壳体滑动连接，所述安装板位于所述壳体的内部，所述测量模块与所述安装板固定连接，所述测量模块位于所述安装板的上方；

3、所述测量模块设置有测量电路，所述测量电路包括恒流源im、继电器k、被测电阻rx和电压表v，电压表v的两端分别被测电阻rx的两端连接，恒流源im通过继电器k与被测电阻rx并联。

4、其中，所述低电阻测试装置还包括伸缩结构，所述伸缩结构包括固定柱、活动柱和压缩弹簧，所述固定柱具有安装腔，所述固定柱与所述壳体固定连接，所述压缩弹簧的两端分别与所述固定柱和所述活动柱固定连接，所述压缩弹簧位于所述安装腔的内部，所述活动柱与所述固定柱滑动连接，所述活动柱的底部位于安装腔的内部，所述活动柱的顶部与所述安装板的底部固定连接。

5、其中，所述低电阻测试装置还包括抵挡结构，所述壳体的内侧面上设置有容纳槽，所述抵挡结构包括抵挡架和连接弹簧，所述连接弹簧的两端分别与所述壳体和所述抵挡架固定连接，所述连接弹簧位于所述容纳槽的内部，所述抵挡架与所述壳体滑动连接。

6、其中，所述伸缩结构还包括限位板，所述限位板与所述活动柱固定连接，所述限位板位于所述安装板的下方。

7、其中，所述低电阻测试装置还包括盖体，所述盖体与所述壳体拆卸连接，所述壳体的外侧面上设置有卡合架，所述盖体的内侧面上设置有与所述卡合架相匹配的卡合槽。

8、本实用新型的一种低电阻测试装置，在以秒为单位的短时间内形成稳定的直流，通过将检测信号设为交流，可在频率范围内进行分离，测量仪器将测量电流作为脉冲波形以排除热噪声，具体而言，从流过测量电流时的检测电压vemf减去停止电流时的检测电压v0，得到不受热噪声影响的电阻值，从而提高了被测电阻的电阻值的测量准确性，解决了被测电阻的电阻值的测量准确性较低的问题。

技术特征：

1.一种低电阻测试装置，其特征在于，

2.如权利要求1所述的低电阻测试装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的低电阻测试装置，其特征在于，

4.如权利要求3所述的低电阻测试装置，其特征在于，

5.如权利要求4所述的低电阻测试装置，其特征在于，

技术总结
本技术涉及电阻测试技术领域，具体涉及一种低电阻测试装置，包括壳体、安装板和测量模块，安装板与壳体滑动连接，安装板位于壳体的内部，测量模块与安装板固定连接，测量模块位于安装板的上方，测量模块设置有测量电路，测量电路包括恒流源I<subgt;M</subgt;、继电器K、被测电阻R<subgt;X</subgt;和电压表V，电压表V的两端分别被测电阻R<subgt;X</subgt;的两端连接，恒流源I<subgt;M</subgt;通过继电器K与被测电阻R<subgt;X</subgt;并联，解决了被测电阻的电阻值的测量准确性较低的问题。

技术研发人员：倪友福
受保护的技术使用者：常州市和普电子科技有限公司
技术研发日：20211202
技术公布日：2024/1/12