一种通用的LED功能测试机构的制作方法

一种通用的led功能测试机构
技术领域
1.本实用新型涉及测试机构技术领域，尤其涉及一种通用的led功能测试机构。


背景技术：

2.fpc板连扳搭载led后需要连扳测试，led灯在通电后是否正常亮灯，需要满足多种料号测试公用，因此需要设计出一种通用的led功能测试机构解决以上问题。


技术实现要素：

3.本实用新型的目的是，提供一种通用的led功能测试机构，以克服目前现有技术存在的上述不足。
4.为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：
5.一种通用的led功能测试机构，其包括测试机架、设置在测试机架内的测试机构、设置在测试机架内的控制组件，所述测试机构包括测试上模、测试下模、连接于测试上模上的下压机构，所述测试下模设置在所述测试机架上，且与所述测试上模上下对应设置，其特征在于：所述下压机构包括设置在测试机架上的导套、套设在导套内的导柱、设置在导柱上的上压板、设置在导柱下的下压板、以及固定在测试机架上的下压气缸，所述下压气缸的伸缩端连接与下压板，所述测试上模包括设置在下压板底面的上固定滑轨、滑动安装与上固定滑轨的上测试治具、以及通过转轴设置上固定滑轨端部的限位块，所述测试下模包括设置在测试机架平台上的下模底板、设置在下模底板上的下固定滑轨、滑动安装在下固定滑轨上的下测试治具，所述下测试治具与控制组件相接通，所述下测试治具内设置有光敏电阻。
6.优选的，所述控制组件包括置于测试机架的测试主板、控制屏幕、a/d转换模块、plc控制器、急停按钮、启动按钮、指示灯。
7.优选的，所述测试机架两端均设置有光栅。
8.本实用新型的有益效果是：本实用新型适用于不同的产品进行测试，通过跟换不同的治具来配合不同的产品进行测试，通过光敏电阻工作原理对产品进行测试，结构简单，测试快速，精准。
附图说明
9.图1为本实用新型一种通用的led功能测试机构的结构示意图；
10.图2为本实用新型一种通用的led功能测试机构的局部示意图；
11.图3为本实用新型一种通用的led功能测试机构的测试机构示意图；
12.图4为本实用新型一种通用的led功能测试机构的局部放大图；
13.图中：1、测试机架；2、测试机构；3、控制组件；4、测试上模；5、测试下模；6、下压机构；61、导套；62、导柱；63、上压板；64、下压板；65、下压气缸；41、上固定滑轨；42、上测试治具；43、限位块；51、下模底板；52、下固定滑轨；53、下测试治具；54、下限位块；55、光敏电阻；
7、fpc板、71、led灯。
具体实施方式
14.下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
15.在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
16.参照图1至图4，本实施案例是一种通用的led功能测试机构，其包括测试机架1、设置在测试机架内的测试机构2、设置在测试机架内的控制组件3，所述测试机构包括测试上模4、测试下模5、连接于测试上模上的下压机构6，所述测试下模设置在所述测试机架上，且与所述测试上模上下对应设置，所述下压机构6包括设置在测试机架上的导套61、套设在导套内的导柱62、设置在导柱上的上压板63、设置在导柱下的下压板64、以及固定在测试机架上的下压气缸65，所述下压气缸的伸缩端连接与下压板，所述测试上模4包括设置在下压板底面的上固定滑轨41、滑动安装与上固定滑轨的上测试治具42、以及通过转轴设置上固定滑轨端部的限位块43，所述测试下模5包括设置在测试机架平台上的下模底板51、设置在下模底板上的下固定滑轨52、滑动安装在下固定滑轨上的下测试治具53、设置在下固定滑块端部的下限位块54，所述下测试治具与控制组件相接通，所述下测试治具内设置有光敏电阻55。更换治具只需要把上模和下模的限位块松开旋转，再把需要跟换上下模推入轨道后旋转限位块上紧，完成安装。
17.所述控制组件包括置于测试机架的测试主板、控制屏幕、a/d转换模块、plc控制器、急停按钮、启动按钮、指示灯。控制组件通过plc控制器进行主控，急停按钮和启动按钮、指示灯用来配合plc控制器进行操控，测试主板用来配合检测产品，并配合a/d转换模块将数据传输到控制屏幕中。
18.所述测试机架两端均设置有光栅11。光栅用来感应工作人员是否放置好产品，收回手臂，避免检测下压时受伤，提高安全性。
19.本实施案例，根据测试的产品，更换治具，更换治具只需要把上模和下模的限位块松开旋转，再把需要跟换上下模推入轨道后旋转限位块上紧，完成安装，再将测试的产品放置到下测试治具中，按下启动按钮，下压，上下治具压合，进行测试，通过光敏电阻工作原理进行测试(光敏电阻对光线十分敏感，其在无光照时，呈高阻状态，电阻值一以用来检测led亮灯的方式)。
20.本实用新型的有益之处，本实用新型适用于不同的产品进行测试，通过跟换不同的治具来配合不同的产品进行测试，通过光敏电阻工作原理对产品进行测试，结构简单，测试快速，精准。
21.以上所述，仅为本实用新型较佳的具体实施方式，但本实用新型的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内，根据本实用
新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。


技术特征：
1.一种通用的led功能测试机构，其包括测试机架、设置在测试机架内的测试机构、设置在测试机架内的控制组件，所述测试机构包括测试上模、测试下模、连接于测试上模上的下压机构，所述测试下模设置在所述测试机架上，且与所述测试上模上下对应设置，其特征在于：所述下压机构包括设置在测试机架上的导套、套设在导套内的导柱、设置在导柱上的上压板、设置在导柱下的下压板、以及固定在测试机架上的下压气缸，所述下压气缸的伸缩端连接与下压板，所述测试上模包括设置在下压板底面的上固定滑轨、滑动安装与上固定滑轨的上测试治具、以及通过转轴设置上固定滑轨端部的限位块，所述测试下模包括设置在测试机架平台上的下模底板、设置在下模底板上的下固定滑轨、滑动安装在下固定滑轨上的下测试治具，所述下测试治具与控制组件相接通，所述下测试治具内设置有光敏电阻。2.根据权利要求1所述的一种通用的led功能测试机构，其特征在于：所述控制组件包括置于测试机架的测试主板、控制屏幕、a/d转换模块、plc控制器、急停按钮、启动按钮、指示灯。3.根据权利要求1所述的一种通用的led功能测试机构，其特征在于：所述测试机架两端均设置有光栅。

技术总结
本实用新型涉及测试机构技术领域，尤其涉及一种通用的LED功能测试机构。其包括测试机架、设置在测试机架内的测试机构、设置在测试机架内的控制组件，所述测试机构包括测试上模、测试下模、连接于测试上模上的下压机构，所述测试下模设置在所述测试机架上，且与所述测试上模上下对应设置。本实用新型的有益之处：本实用新型适用于不同的产品进行测试，通过跟换不同的治具来配合不同的产品进行测试，通过光敏电阻工作原理对产品进行测试，结构简单，测试快速，精准。精准。精准。


技术研发人员：许春雷 曹明峰
受保护的技术使用者：昆山龙朋精密电子有限公司
技术研发日：2021.12.31
技术公布日：2022/8/22