自动分析装置的制作方法

本公开涉及一种自动分析装置。

背景技术：

1、已知通过对试样进行测定来分析试样的自动分析装置。作为自动分析装置的一种，存在荧光x射线分析装置。荧光x射线分析装置通过向试样照射x射线并对从试样发出的荧光x射线进行测定来对试样的构成元素进行分析。

2、国际公开wo2020/044399a1(专利文献1)公开了一种能够在载置多个试样的试样支承部(待机位置)与测定位置之间搬送试样的荧光x射线分析装置。专利文献1所记载的荧光x射线分析装置在使试样从待机位置移动到测定位置并对试样进行测定之后，使试样再次返回到待机位置。

3、现有技术文献

4、专利文献

5、专利文献1：国际公开wo2020/044399a1

技术实现思路

1、发明要解决的问题

2、在能够在待机位置与测定位置之间搬送试样的自动分析装置中，有时待机位置具备被放置于架子的试样盘。能够在试样盘载置多个试样容器。用户在将试样盘从架子拉出并将试样容器载置于试样盘之后，将试样盘放置于架子。在进行测定时，从载置于试样盘上的多个试样容器中选择作为测定对象的一个试样容器(下面也称为“对象容器”)，将该试样容器搬送到测定装置。在测定对象容器的试样之后，使对象容器返回到原来的试样盘，将下一个作为测定对象的试样容器搬送到测定室。由于试样盘在试样的测定过程中也能够被抽出装入，因此在测定结束后要使试样容器返回到原来的试样盘的时机，可能会发生试样盘没有被放置于架子这样的状况。另外，在要使结束了测定的试样容器返回到原来的试样盘的时机，可能会发生在要使试样容器返回的位置(下面也称为“原来的位置”)载置有其它试样容器这样的状况。在试样盘没有被放置于架子的情况下，若使试样容器返回，则试样容器会掉落而破损。另外，在原来的位置载置有其它试样容器的情况下，若使试样容器返回，则试样容器会由于与其它试样容器接触而破损。

3、本公开是鉴于上述实际情况而完成的，目的之一在于提供一种能够消除对多个试样依次进行测定的装置的弊端的自动分析装置。

4、用于解决问题的方案

5、本公开的对试样进行分析的自动分析装置具备：测定装置，其进行试样的测定；一个以上的试样盘，上述试样盘设置于测定装置的外部，用于载置多个试样容器；搬送装置，其从载置于试样盘上的多个试样容器中选择一个试样容器并搬送到测定装置，在由测定装置进行测定之后使该试样容器返回到原来的试样盘；控制装置，其控制搬送装置的动作；以及退避部，其设置于与测定装置及试样盘不同的位置，用于暂时载置试样容器。控制装置在无法使试样容器从测定装置返回到原来的试样盘的情况下，使该试样容器退避到退避部。

6、发明的效果

7、根据本公开，在无法使试样容器从测定装置返回到原来的试样盘的情况下，使测定后的试样容器退避到退避部。由此，能够防止试样容器因掉落或接触而破损，因此能够消除对多个试样依次进行测定的装置的弊端。

技术特征：

1.一种自动分析装置，对试样进行分析，具备：

2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其中，还具备：

3.根据权利要求2所述的自动分析装置，其中，

4.根据权利要求2所述的自动分析装置，其中，

5.根据权利要求1～4中的任一项所述的自动分析装置，其中，

6.根据权利要求1～5中的任一项所述的自动分析装置，其中，

7.根据权利要求1～6中的任一项所述的自动分析装置，其中，

技术总结
自动分析装置(10)具备：测定装置(20)；一个以上的试样盘(30)，试样盘(30)用于载置多个试样容器(40)；搬送装置(50)，其从载置于试样盘(30)上的多个试样容器(40)中选择一个试样容器(40)并搬送到测定装置(20)，在由测定装置(20)进行测定之后使该试样容器(40)返回到原来的试样盘(30)；控制装置，其控制搬送装置(50)的动作；以及退避部(60)，其设置于与测定装置(20)及试样盘(30)不同的位置，用于暂时载置试样容器(40)。控制装置在无法使试样容器(40)从测定装置(20)返回到原来的试样盘(30)的情况下，使该试样容器(40)退避到退避部(60)。

技术研发人员：冈田幸二
受保护的技术使用者：株式会社岛津制作所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13