芯片电流测试装置的制作方法

本发明涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片电流测试装置。

背景技术：

1、芯片的功耗是芯片设计阶段以及芯片运行阶段都必不可少的性能参数，其可以影响到电源功率、滤波、散热以及芯片运行环境等各个方面。因此，芯片功耗的测试至关重要。

2、要测试芯片功耗，必然需要先测量芯片电流。一般的，一颗芯片会有1.8v供电、3.3v供电、io接口供电等等多个供电电源，对于不同的供电电源要分别测量其输入电流。

3、现有技术中，芯片电流测量会用到专门的数据采集卡，其通用性较差。

技术实现思路

1、为解决上述问题，本发明提供了一种芯片电流测试装置，能够灵活测量各种类型芯片的电流，具有很强的通用性。

2、本发明提供一种芯片电流测试装置，包括：

3、电流采样板，所述电流采样板上安装有被测芯片，所述电流采样板用于将流入所述被测芯片多个电源接口的电流信号分别转换成对应的模拟量电压信号；

4、信号处理板，与所述电流采样板连接，用于将所述模拟量电压信号转换成数字量电流信号，并将所述数字量电流信号回传给所述电流采样板，以便所述电流采样板根据所述数字量电流信号获取到被测芯片各电源接口的电流。

5、可选地，若所述被测芯片为处理器芯片，则被测芯片同时作为数据读取芯片；

6、若所述被测芯片不具有数据读取功能，所述电流采样板上安装有数据读取芯片；

7、所述数据读取芯片，用于根据所述数字量电流信号获取到被测芯片各电源接口的电流。

8、可选地，所述电流采样板上安装有多个采样单元，其中每个采样单元包括至少1个采样电阻，每个采样单元分别连接于被测芯片其中一个电源接口和对应电源之间。

9、可选地，所述采样电阻为精度1％的精密电阻。

10、可选地，当一个采样单元中的采样电阻数大于1个时，各采样电阻的两端各自引出模拟量电压信号，或者，各采样电阻的两端分别连接形成两个公共端，从两个公共端引出模拟量电压信号。

11、可选地，所述信号处理板上安装有数量与需要信号转换的模拟量电压信号相匹配的多个模数转换器芯片，每个模数转换器芯片输入端输入一个模拟量电压信号。

12、可选地，所述模数转换器芯片最小电压精度为2.5微安。

13、可选地，所述信号处理板上安装有与模数转换器芯片一一相连的放大器芯片，每个放大器输入端输入一个模拟量电压信号，输出端连接一个模数转换器芯片。

14、可选地，所述数字量电流信号通过i2c总线回传给所述电流采样板。

15、可选地，所述装置还包括显示设备，与所述电流采样板连接，用于显示所述电流采样板输出的芯片电流。

16、本发明提供的芯片电流测试装置，包括电流采样板和信号处理板，具有成本低廉、体积小的特点，可以方便的大量部署；同时信号处理板具有通用的数字接口，方便与电流采样板互联从而将测得的电流数据回传到被测芯片所处的系统中。

技术特征：

1.一种芯片电流测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片电流测试装置，其特征在于，若所述被测芯片为处理器芯片，则被测芯片同时作为数据读取芯片；

3.根据权利要求1所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述电流采样板上安装有多个采样单元，其中每个采样单元包括至少1个采样电阻，每个采样单元分别连接于被测芯片其中一个电源接口和对应电源之间。

4.根据权利要求3所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述采样电阻为精度1％的精密电阻。

5.根据权利要求3所述的芯片电流测试装置，其特征在于，当一个采样单元中的采样电阻数大于1个时，各采样电阻的两端各自引出模拟量电压信号，或者，各采样电阻的两端分别连接形成两个公共端，从两个公共端引出模拟量电压信号。

6.根据权利要求1所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述信号处理板上安装有数量与需要信号转换的模拟量电压信号相匹配的多个模数转换器芯片，每个模数转换器芯片输入端输入一个模拟量电压信号。

7.根据权利要求6所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述模数转换器芯片最小电压精度为2.5微安。

8.根据权利要求6所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述信号处理板上安装有与模数转换器芯片一一相连的放大器芯片，每个放大器输入端输入一个模拟量电压信号，输出端连接一个模数转换器芯片。

9.根据权利要求1所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述数字量电流信号通过i2c总线回传给所述电流采样板。

10.根据权利要求1所述的芯片电流测试装置，其特征在于，所述装置还包括显示设备，与所述电流采样板连接，用于显示所述电流采样板输出的芯片电流。

技术总结
本发明提供一种芯片电流测试装置，包括：电流采样板和信号处理板，电流采样板上安装有被测芯片，用于将流入被测芯片多个电源接口的电流信号分别转换成对应的模拟量电压信号；信号处理板与电流采样板连接，用于将模拟量电压信号转换成数字量电流信号，并将数字量电流信号回传给电流采样板，以便电流采样板根据数字量电流信号获取到被测芯片各电源接口的电流。

技术研发人员：李书通,杨晓君,柳胜杰,李晶晶,袁飞
受保护的技术使用者：成都海光集成电路设计有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11