一种高可靠性的过零检测电路的制作方法

1.本发明涉及电路检测技术领域，特别涉及一种高可靠性的过零检测电路。


背景技术：

2.过零检测是输入信号在过零点处使得输出信号翻转，可用于寻找无刷电机最佳的换向时刻，使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应ic的位置要求以及制造工艺要求。
3.其中cn110398622a公开了过零检测电路和传感器装置，包括第一比较电路，被输入第1输入信号n1和第2输入信号n2而输出第一比较结果；第二比较电路，具有滞后功能，被输入第1输入信号n1和第2输入信号n2而输出第二比较结果；以及逻辑电路，基于第一比较结果和第二比较结果来输出过零检测信号。所述逻辑电路的特征在于，基于第一比较结果和第二比较结果来向第二比较电路输出反转信号。
4.但是仍存在问题，需要用宽度很窄的脉冲去传递信号，这种窄脉冲信号有时会产生毛刺、不可靠。


技术实现要素：

5.本发明的目的是提供一种高可靠性的过零检测电路，通过设置比较器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性，方便推广。
6.为了达到上述发明目的，本发明采用的技术方案为：
7.一种高可靠性的过零检测电路，所述检测电路包括比较器和六个门电路，所述比较器内设有v1、0和v2三种比较点，所述v1》0》v2。
8.进一步的，所述六个门电路包括两个strong0_1门电路、两个strong1_1门电路、一个strong0_1t门电路和一个weak0_1门电路。
9.进一步的，所述strong0_1门电路检测到输入信号小于v2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得out为0。
10.进一步的，所述strong1_1检测到输入信号大于v1时为高，这个信号称为强1信号，此信号为高时，直接使得out为1。
11.进一步的，所述strong0_1t使其强0信号置一，强1信号使其清零，这个信号记录最近出现的强信号是强0还是强1。
12.进一步的，所述weak0_1检测到输入信号大于0时，此信号为高(弱1信号)；输入信号小于0时，此信号为低(弱0信号)，弱0信号只有在最近出现的强信号是强1信号的情况下(即strong0_1t＝0)才会使得out清零，弱1信号只有在最近出现的强信号是强0信号的情况下(即strong0_1t＝1)才会使得out置一。
13.进一步的，所述out为最终的输出信号。
14.本发明的有益效果为：
15.本发明一种高可靠性的过零检测电路，此电路结构简单且扎实可靠通过设置比较
器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，不仅使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应ic的位置要求以及制造工艺要求，同时有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性。
附图说明
16.图1为本发明一种高可靠性的过零检测电路整体结构示意图；
17.图2为本发明一种高可靠性的过零检测电路过零检测波形图；
18.图3为申请公布号cn110398622a的过零检测波形；
具体实施方式
19.下面结合附图来进一步说明本发明的具体实施方式。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。需要说明的是，下面描述中使用的词语“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附图中的方向，词语“内”和“外”分别指的是朝向或远离特定部件几何中心的方向。
20.为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。其中相同的零部件用相同的附图标记表示。
21.如图1，此电路结构简单且扎实可靠，仅由3个比较器和6个门电路构成。v1,0,v2为三个比较点(v1》0》v2)。电路可以过滤掉幅值小于v1(或者0-v2)的干扰信号。
22.当输入为正弦波时，输出波形占空比为50％，正常情况下都会在输入等于0时翻转，只有当0附近有干扰信号时，输出可能会在v1(或者v2)处翻转，但这不会明显影响到输出占空比。
23.关键信号解析：
24.strong0_1：当输入信号小于v2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得out为0(如图2的a、g、k时间段)；
25.strong1_1：当输入信号大于v1时为高，这个信号称为强1信号，此信号为高时，直接使得out为1(如图2的d、p、t时间段)；
26.strong0_1t：强0信号使其置一，强1信号使其清零。这个信号记录最近出现的强信号是强0还是强1；
27.weak0_1：当输入信号大于0时，此信号为高(弱1信号)；输入信号小于0时，此信号为低(弱0信号)。弱0信号只有在最近出现的强信号是强1信号的情况下(即strong0_1t＝0)才会使得out清零。弱1信号只有在最近出现的强信号是强0信号的情况下(即strong0_1t＝1)才会使得out置一。
28.out：此信号为最终的输出信号，由强0强1弱0弱1信号确定。
29.以上所述仅为本发明专利的较佳实施例而已，并不用以限制本发明专利，凡在本发明专利的精神和原则之内所做的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明专利的保护范围之内。


技术特征：
1.一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述检测电路包括比较器和六个门电路，所述比较器内设有v1、0和v2三种比较点，所述v1>0>v2。2.根据权利要求1所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述六个门电路包括两个strong0_1门电路、两个strong1_1门电路、一个strong0_1t门电路和一个weak0_1门电路。3.根据权利要求2所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述strong0_1门电路检测到输入信号小于v2时为高，这个信号称为强0信号，此信号为高时，直接使得out为0。4.根据权利要求3所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述strong1_1检测到输入信号大于v1时为高，这个信号称为强1信号，此信号为高时，直接使得out为1。5.根据权利要求4所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述strong0_1t使其强0信号置一，强1信号使其清零，这个信号记录最近出现的强信号是强0还是强1。6.根据权利要求2所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述weak0_1检测到输入信号大于0时，此信号为高(弱1信号)；输入信号小于0时，此信号为低(弱0信号)，弱0信号只有在最近出现的强信号是强1信号的情况下(即strong0_1t＝0)才会使得out清零，弱1信号只有在最近出现的强信号是强0信号的情况下(即strong0_1t＝1)才会使得out置一。7.根据权利要求6所述的一种高可靠性的过零检测电路，其特征在于，所述out为最终的输出信号。

技术总结
本发明的目的是提供一种高可靠性的过零检测电路，此电路结构简单且扎实可靠通过设置比较器、六个门电路同时采用高可靠性的电平信号，不仅使电机得到最大效率，并且降低了霍尔效应IC的位置要求以及制造工艺要求，同时有效地解决了窄脉冲信号有时会产生毛刺的现象，进而提高了电路的可靠性。而提高了电路的可靠性。而提高了电路的可靠性。


技术研发人员：ꢀ(74)专利代理机构
受保护的技术使用者：上海雁芯微电子科技有限公司
技术研发日：2022.09.02
技术公布日：2022/10/25