本发明涉及闪烁体探测器,尤其涉及一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备。
背景技术:
1、闪烁体探测器在辐射射线照射停止后一段时间内仍有残余发光,被之称为闪烁体的余辉。闪烁体的余辉产生机理十分复杂,一般认为余辉和闪烁体内部的结构、杂质和缺陷以及闪烁体的制造过程相关,同时还和闪烁体的使用温度、被电离辐射照射的剂量以及照射的时间长短有关。闪烁体余辉的衰减时间常数从1ms到几百ms甚至几个小时,往往同一个闪烁体具有从短余辉到长余辉的多种衰减成分。随着闪烁体被照射时间的增加,长余辉的成分会逐渐增多,因此会对探测器的输出信号造成不良影响,进而在扫描图像中形成伪影。
技术实现思路
1、本发明要解决的技术问题目的在于提供一种闪烁体探测阵列的信号处理方法及成像设备,用以解决上述问题;
2、为了实现上述目的,本发明采用的技术方案为:
3、一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,包括:
4、在成像时,由闪烁体探测阵列接收射线辐射而产生光信号;
5、通过光传感阵列将所述光信号转换为电信号;
6、对所述电信号进行信号积分时,选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
7、进一步的,所述余辉截止时间由预先获得的该闪烁体阵列中各像素点的余辉特性曲线确定。
8、进一步的,所述特定位置像素点为探测阵列中某一行或某一排的像素点。
9、进一步的,探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围。
10、进一步的,探测阵列中某一排各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在行其余像素点所产生电信号的积分范围。
11、进一步的,所述特定位置像素点为探测阵列中某个区域内的像素点。
12、进一步的,所述探测阵列中某个区域内各像素点的余辉截止时间平均值作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
13、进一步的,所述探测阵列为线阵列时,所述特定位置像素点为探测阵列中的某一点。
14、进一步的,线阵列中所述点的余辉截止时间作为线阵列其余像素点所产生电信号的积分范围。
15、本发明另一方面还提供了一种成像设备,包括:闪烁体探测阵列;
16、光传感器阵列,其光学耦合至所述闪烁体探测阵列;
17、以及信号处理单元,其电耦合至所述光传感器阵列;
18、所述信号处理单元对光传感器阵列所产生的电信号进行信号积分时,选择所述闪烁体探测阵列中特定位置像素点的余辉截止时间作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
19、本发明与现有技术相比,至少包含以下有益效果:在经过闪烁体探测阵列得到脉冲电信号后选择某一截止时间,对截止时间内的电信号进行积分处理,而去除截止时间以外的电信号,从而消除闪烁体探测阵列所产生的余辉对成像的影响。并且通过在一个闪烁体探测阵列中的特定位置设置短余辉像素点,整个闪烁体探测阵列所产生的电信号,以短余辉像素点的截止时间进行信号的积分处理能够有效减少信号处理过程中的计算量。
1.一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,所述余辉截止时间由预先获得的该闪烁体阵列中各像素点的余辉特性曲线确定。
3.根据权利要求2所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,所述特定位置像素点为探测阵列中某一行或某一排的像素点。
4.根据权利要求3所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,探测阵列中某一行各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在排其余像素点所产生电信号的积分范围。
5.根据权利要求3所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,探测阵列中某一排各像素点的余辉截止时间作为各像素点所在行其余像素点所产生电信号的积分范围。
6.根据权利要求2所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,所述特定位置像素点为探测阵列中某个区域内的像素点。
7.根据权利要求6所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,所述探测阵列中某个区域内各像素点的余辉截止时间平均值作为整个探测阵列各像素点所产生电信号的积分范围。
8.根据权利要求2所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,所述探测阵列为线阵列时,所述特定位置像素点为探测阵列中的某一点。
9.根据权利要求8所述的一种闪烁体探测阵列的信号处理方法,其特征在于,线阵列中所述点的余辉截止时间作为线阵列其余像素点所产生电信号的积分范围。
10.一种成像设备,包括:闪烁体探测阵列;