X射线管光斑位置标定装置和X射线管光斑位置标定方法与流程

本发明涉及x射线管光斑位置标定，尤其涉及一种x射线管光斑位置标定装置和x射线管光斑位置标定方法。

背景技术：

1、吸收光谱仪器包括光源、分光系统和检测分析系统，其中光源的位置需要确认，并定位到固定位置，而x射线管在工作过程中光斑的位置不确定，不利于吸收光谱仪器的使用。

技术实现思路

1、本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种x射线管光斑位置标定装置，所述x射线管光斑位置标定装置可以较为方便地对x射线管的光斑位置进行标记。

2、本发明还提出一种x射线管光斑位置标定方法，所述x射线管光斑位置标定方法采用上述的x射线管光斑位置标定装置。

3、根据本发明实施例的x射线管光斑位置标定装置，包括x射线管、第一设定件和第二设定件、探测器和经纬仪。所述x射线管的射线发射方向为第一方向，所述第一设定件和所述第二设定件与所述x射线管沿所述第一方向排布，所述第一设定件位于所述x射线管和所述第二设定件之间，所述第一设定件具有沿第二方向延伸的第一狭缝，所述第二设定件具有沿所述第二方向延伸的第二狭缝，所述第一设定件和所述第二设定件在第二方向和第三方向位置可调，所述第一方向、所述第二方向和所述第三方向两两垂直，所述探测器用于探测通过所述第一狭缝和所述第二狭缝的信号强度，所述经纬仪设于所述第二设定件的远离所述第一设定件的一侧，所述经纬仪用于根据所述第一狭缝和所述第二狭缝所在位置构造平面。

4、根据本发明实施例的x射线管光斑位置标定装置，通过设置在第二方向和第三方向位置可调的第一设定件和第二设定件，且使用探测仪探测通过第一狭缝和第二狭缝的信号强度，通过经纬仪根据第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，使第一设定件上的第一狭缝固定在通过第一狭缝的信号最强处，第二设定件的第二狭缝固定在通过第二狭缝的信号最强处，并根据此时第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，在x射线管的表面形成第一直线，再将x射线管以沿第二方向延伸的转轴转动180度，使位于第一方向的另一侧的出光口位于朝向第一狭缝与第二狭缝的位置，通过对第一狭缝和第二狭缝进行调节，可以将第一狭缝和第二狭缝固定在信号最强处，并根据此时第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，在x射线管的表面形成第二直线。此时第一直线、第二直线以及沿第三方向延伸且过出光口中心的第三直线得出第一直线、第二直线和第三直线的相交位置，此处即为x射线管的光斑位置，可以较为方便地对x射线管的光斑位置进行标记，从而便于将x射线应用在吸收光谱仪中。

5、在本发明的一些实施例中，所述x射线管光斑位置标定装置还包括第一升降装置和第一位移台。所述第一位移台设于所述第一升降装置上，所述第一升降装置用于驱动所述第一位移台沿所述第二方向移动，所述第一设定件沿所述第三方向可移动地设于所述第一位移台上。

6、在本发明的一些实施例中，所述第一位移台上具有沿所述第三方向延伸的第一导轨，所述第一设定件可移动地设于所述第一导轨上。

7、在本发明的一些实施例中，所述x射线管光斑位置标定装置还包括第二升降装置和第二位移台。所述第二位移台设于所述第二升降装置上，所述第二升降装置用于驱动所述第二位移台沿所述第二方向移动，所述第二设定件沿所述第三方向可移动地设于所述第二位移台上。

8、在本发明的一些实施例中，所述第二位移台上具有沿所述第三方向延伸的第二导轨，所述第二设定件可移动地设于所述第二导轨上。

9、在本发明的一些实施例中，所述第一设定件包括第一放置台和第一狭缝件，所述第一放置台可移动地设于所述第一位移台上，所述第一狭缝件设于所述第一放置台上，所述第一狭缝设于所述第一狭缝件上，所述第二设定件包括第二放置台和第二狭缝件，所述第二放置台可移动地设于所述第二位移台上，所述第二狭缝件设于所述第二放置台上，所述第二狭缝设于所述第二狭缝件上，所述探测器可选择地设于所述第一放置台和所述第二放置台上且位于所述第一狭缝或所述第二狭缝的远离所述x射线管的一侧。

10、在本发明的一些实施例中，所述的x射线管光斑位置标定装置还包括支撑架，所述x射线管设于所述支撑架上。

11、在本发明的一些实施例中，所述x射线管可转动地设于所述支撑架上，所述x射线管的转动轴线沿所述第二方向延伸。

12、根据本发明实施例的x射线管光斑位置标定方法，采用上述的x射线管光斑位置标定装置。所述x射线管光斑位置标定方法包括：沿所述第二方向，调节所述第一狭缝和所述第二狭缝的高度至与所述x射线管出光口高度相同；启动所述x射线管；通过所述探测器探测信号的强度，将所述第一狭缝和所述第二狭缝沿所述第三方向移动至信号最强处；利用所述经纬仪发射的激光穿过所述第一狭缝和所述第二狭缝后在所述x射线管的表面形成第一直线；将所述x射线管以沿所述第二方向延伸的转轴转动180度；通过所述探测器探测信号的强度，将所述第一狭缝和所述第二狭缝沿所述第三方向移动至信号最强处；利用所述经纬仪发射的激光穿过所述第一狭缝和所述第二狭缝后在所述x射线管的表面形成第二直线；通过所述第一直线、所述第二直线以及沿所述第三方向延伸且过所述出光口中心的第三直线得出所述第一直线、所述第二直线和所述第三直线的相交位置，将所述第一直线、所述第二直线和所述第三直线的相交位置作为所述x射线管的光斑位置。

13、根据本发明实施例的x射线管光斑位置标定方法，通过设置在第二方向和第三方向位置可调的第一设定件和第二设定件，且使用探测仪探测通过第一狭缝和第二狭缝的信号强度，通过经纬仪根据第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，使第一设定件上的第一狭缝固定在通过第一狭缝的信号最强处，第二设定件的第二狭缝固定在通过第二狭缝的信号最强处，并根据此时第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，在x射线管的表面形成第一直线，再将x射线管以沿第二方向延伸的转轴转动180度，使位于第一方向的另一侧的出光口位于朝向第一狭缝与第二狭缝的位置，通过对第一狭缝和第二狭缝进行调节，可以将第一狭缝和第二狭缝固定在信号最强处，并根据此时第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面，在x射线管的表面形成第二直线。此时第一直线、第二直线以及沿第三方向延伸且过出光口中心的第三直线得出第一直线、第二直线和第三直线的相交位置，此处即为x射线管的光斑位置，可以较为方便地对x射线管的光斑位置进行标记，从而便于将x射线应用在吸收光谱仪中。且标记方法较为简单，精度较高。

14、在本发明的一些实施例中，通过所述探测器探测信号的强度，将所述第一狭缝和所述第二狭缝移动至信号最强处包括：先通过所述探测器探测信号的强度，将所述第二狭缝移动至信号最强处；再通过所述探测器探测信号的强度，将所述第一狭缝移动至信号最强处。

15、本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

技术特征：

1.一种x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，所述第一位移台上具有沿所述第三方向延伸的第一导轨，所述第一设定件可移动地设于所述第一导轨上。

4.根据权利要求2所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求4所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，所述第二位移台上具有沿所述第三方向延伸的第二导轨，所述第二设定件可移动地设于所述第二导轨上。

6.根据权利要求4所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，所述第一设定件包括第一放置台和第一狭缝件，所述第一放置台可移动地设于所述第一位移台上，所述第一狭缝件设于所述第一放置台上，所述第一狭缝设于所述第一狭缝件上，所述第二设定件包括第二放置台和第二狭缝件，所述第二放置台可移动地设于所述第二位移台上，所述第二狭缝件设于所述第二放置台上，所述第二狭缝设于所述第二狭缝件上，所述探测器可选择地设于所述第一放置台和所述第二放置台上且位于所述第一狭缝或所述第二狭缝的远离所述x射线管的一侧。

7.根据权利要求1所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，还包括：

8.根据权利要求7所述的x射线管光斑位置标定装置，其特征在于，所述x射线管可转动地设于所述支撑架上，所述x射线管的转动轴线沿所述第二方向延伸。

9.一种x射线管光斑位置标定方法，其特征在于，所述x射线管光斑位置标定方法采用根据权利要求1-8中任一项所述的x射线管光斑位置标定装置，所述x射线管光斑位置标定方法包括：

10.根据权利要求9所述的x射线管光斑位置标定方法，其特征在于，通过所述探测器探测信号的强度，将所述第一狭缝和所述第二狭缝移动至信号最强处包括：

技术总结
本发明公开了一种X射线管光斑位置标定装置和X射线管光斑位置标定方法，所述X射线管光斑位置标定装置包括：X射线管、第一设定件和第二设定件、探测器和经纬仪。X射线管的射线发射方向为第一方向，第一设定件和第二设定件与X射线管沿第一方向排布，第一设定件位于X射线管和第二设定件之间，第一设定件具有沿第二方向延伸的第一狭缝，第二设定件具有沿第二方向延伸的第二狭缝，探测器用于探测通过第一狭缝和第二狭缝的信号强度，经纬仪用于根据第一狭缝和第二狭缝所在位置构造平面。根据本发明的X射线管光标位置标定装置，可以较为方便地对X射线管的光斑位置进行标记，从而便于将X射线应用在吸收光谱仪中。

技术研发人员：武朝辉,朱宁,邢立娜,申锦
受保护的技术使用者：安徽创谱仪器科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13