一种少模光纤激光器光束质量测量的方法与流程

文档序号:34733488发布日期:2023-07-12 17:19阅读:22来源:国知局
一种少模光纤激光器光束质量测量的方法与流程

本发明属于激光器领域,尤其涉及一种少模光纤激光器光束质量测量的方法。


背景技术:

1、光束质量是激光器的重要参数,是判断激光器好坏和能否进行激光精密加工的一个关键物理量,对于很多种单模输出的激光器来说,高品质的激光器通常都具有很高的光束质量。另外高光束质量的激光光束更有利于光束整形,满足激光精密加工和定制化的需求。

2、现有技术中常采用光斑分析仪、光束质量分析仪等装置进行光束质量测量。使用光斑分析仪时通过不同位置采集激光截面的数据,然后通过仪器内置程序合成光束质量m2的数据,如果在采样过程中存在操作失误或测量错误,则无法测量分析m2的数值。而对于高功率测量,则需要复杂的衰减系统,使激光功率保持在可测量的范围内,避免功率过高损坏仪器探测面。光束质量分析仪虽然可以解决上述问题,但仪器结构复杂精密,价格非常昂贵,让很多激光器产商望而却步。


技术实现思路

1、为解决上述问题,本发明公开了一种少模光纤激光器光束质量测量的方法。所述少模光纤激光器是指输出激光中包含的模式不多于6个的光纤激光器。本发明成本低廉,实验设备简单,实验容易操作,降低了验收人员的技术门槛。

2、为实现上述目的,本发明的技术方案为:

3、一种少模光纤激光器光束质量测量的方法,包括如下步骤:

4、步骤一、在少模光纤激光器出端安装尾纤,安装检测尾纤的激光的输入功率、输出功率的装置;少模光纤激光器输出的激光有m个模式;2≤m≤6;所述尾纤为双包层光纤,参数为a/b;其中a表示尾纤纤芯的直径,b表示尾纤外包层直径;

5、步骤二、设计m个实验,每个实验中,至少改变尾纤的盘绕半径和光纤长度之一,得到对应的综合损耗

6、步骤三、建立方程组,解得尾纤的输入激光中每个模式激光的占比,通过每个模式激光的占比即得到激光的光束质量。

7、进一步的改进,所述尾纤采用盘绕的方式固定,检测尾纤的输出功率的装置为功率计;从少模激光器中输出的激光经过尾纤传输后,依次进入包层光功率剥除器cps,输出端帽以及功率计。

8、进一步的改进,所述步骤二的步骤如下:设尾纤的输入激光的功率为pin,输入激光中包含m个模式的激光,分别用lpj表示,j=1,……,m,m≤6,lpj在输出光中的能量占比为xj,则尾纤的输出功率为针对尾纤的芯径a,在第i个实验中,在尾纤的盘绕半径ri确定的情况下,不同模式激光的弯曲损耗是确定的,在尾纤的长度li确定的情况下,不同模式激光的长度损耗是确定的;将弯曲损耗和长度损耗的综合损耗效应用参数表示,i=1,……,m,m≤6;

9、假设激光中有m个模式,则设计m个实验;每个实验中,盘绕半径和光纤长度是确定的,对应的综合损耗效应是确定的;对每个实验建立一个方程,m个实验获得m个方程:

10、

11、求解方程组,得到输入激光中每个模式的占比xj的值,从而得到输入尾纤的激光的光束质量。

12、本发明的优点:

13、1、本发明成本低廉,实验设备简单,实验容易操作,降低了测试人员的技术门槛。

14、2、无需购买高昂的设备,降低了激光器生产商的生产和研发成本。

15、3、对检测环境要求低,对输出激光的功率没有限制,是一种普适性好的光束质量测量方法。



技术特征:

1.一种少模光纤激光器光束质量测量的方法,其特征在于,包括如下步骤:

2.如权利要求1所述的少模光纤激光器光束质量测量的方法,其特征在于,所述尾纤采用盘绕的方式固定,检测尾纤的输出功率的装置为功率计;从少模激光器中输出的激光经过尾纤传输后,依次进入包层光功率剥除器cps,输出端帽以及功率计。

3.如权利要求1所述的少模光纤激光器光束质量测量的方法,其特征在于,所述步骤二的步骤如下:设尾纤的输入激光的功率为pin,输入激光中包含m个模式的激光,分别用lpj表示,j=1,……,m,m≤6,lpj在输出光中的能量占比为xj,则尾纤的输出功率为针对尾纤的芯径a,在第i个实验中,在尾纤的盘绕半径ri确定的情况下,不同模式激光的弯曲损耗是确定的,在尾纤的长度li确定的情况下,不同模式激光的长度损耗是确定的;将弯曲损耗和长度损耗的综合损耗效应用参数表示,i=1,……,m,m≤6;


技术总结
本发明公开了一种少模光纤激光器光束质量测量的方法,包括骤一、在少模光纤激光器出端安装尾纤,安装检测尾纤的激光的输入功率、输出功率的装置;少模光纤激光器的激光有m个模式;2≤m≤6;所述尾纤为双包层光纤;步骤二、设计m个实验,每个实验中,至少改变尾纤的的盘绕半径和光纤长度之一,得到对应的综合损耗步骤三、建立方程组,解得尾纤的输入激光中每个模式激光的占比,得到激光的光束质量。本发明成本低廉,实验设备简单,实验容易操作,降低了测试人员的技术门槛。

技术研发人员:彭杨,徐志宏
受保护的技术使用者:长沙大科光剑科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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